利用耐久閃爍技術(shù),DXR500L靜態(tài)數(shù)字探測(cè)器陣列能夠提供不受碘化銫典型滯后限制的碘化銫探測(cè)器優(yōu)質(zhì)的圖像質(zhì)量。為工業(yè)用途設(shè)計(jì), DXR500L 在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境下提供質(zhì)量的圖像。 DXR500L 易于檢測(cè)出細(xì)微的缺陷。 利用耐久™ 技術(shù),專門開發(fā),以減少輻射損傷并限度地節(jié)約成本。 GE的探測(cè)器包括一個(gè)溫度控制器,允許更長(zhǎng)的校準(zhǔn)間隔,并取得快速,一致的圖像。 DXR500L 有效地減少采集時(shí)間以快速提供檢測(cè)結(jié)果
特色:
主要特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)
| 探測(cè)器表征圖按照ASTM E2507-07“數(shù)字探測(cè)器陣列制造特性的標(biāo)準(zhǔn)”。繪制的探測(cè)器特征圖。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采集和報(bào)告數(shù)據(jù)的方法,從而確保DDA的直接比較結(jié)果的客觀性。該標(biāo)準(zhǔn)同時(shí)還為不同用途的探測(cè)器正確選擇提供了指導(dǎo)。 根據(jù)ASTM E2597 – 07文件給出的七個(gè)定義中的一個(gè)或多個(gè)可以確定不良像素。通過GE的軟件從鄰近好像素采集數(shù)據(jù)可以校正不良像素。 |
應(yīng)用:
航天熔模鑄造件
工業(yè)燃?xì)廨啓C(jī)鑄件
精密鑄件
測(cè)量
材料科學(xué)/地質(zhì)學(xué)
規(guī)格:
檢測(cè)器
平板型 | 非晶硅 |
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閃爍材料 | 碘化銫 |
有效面積(近似值) | 307 x 240 毫米 (12 x 9 英寸) |
圖像格式 | 3072x2400 |
像素間距 | 100µm |
A/D 轉(zhuǎn)換 | 14位 |
最小曝光時(shí)間 | 375毫秒 |
接口 | 千兆以太網(wǎng) |
動(dòng)態(tài)范圍 | 10,000:1 |
尺寸 | 356 x 360 x 122.5毫米 |
重量 | 15 kg (33磅) |
工作溫度 | 10° 到 35° C (50° 到 95° F) |
工作濕度 | 10-90% 非冷凝 |
電源
電壓: | 100-240伏, 50-60赫茲 |
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尺寸 | 163 x 287 x 56 毫米 (6 x 11 x 2 英寸) |
重量 | 3 千克(7磅) |
溫度控制器
電壓: | 100-240伏, 50-60赫茲 |
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尺寸 | 220 x 286 x 382 mm (9 x 11 x 15英寸) |
重量 | 8 千克(19磅) |