概述:
EM5030 是一款主要用于查找干擾源,判定干擾產(chǎn)生原因的高性價(jià)比近場探頭??捎脕頇z測器件表面的磁場方向以及強(qiáng)度;檢測模塊附近的磁場環(huán)境。為了降低干擾,尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的,通過近場探頭測量可以很方便地實(shí)現(xiàn)定位功能。通過配合EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統(tǒng)測試靈敏度。
EM5030 是一款主要用于查找干擾源,判定干擾產(chǎn)生原因的高性價(jià)比近場探頭??捎脕頇z測器件表面的磁場方向以及強(qiáng)度;檢測模塊附近的磁場環(huán)境。為了降低干擾,尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的,通過近場探頭測量可以很方便地實(shí)現(xiàn)定位功能。通過配合EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統(tǒng)測試靈敏度。
