慧視模組AOI設(shè)備EP-50
- 研祥利用*的機(jī)器視覺(jué)技術(shù),針對(duì)屏幕生產(chǎn)制程中產(chǎn)生的各類表面缺陷(點(diǎn)缺陷、線缺陷、表面污漬等)進(jìn)行 檢測(cè),為客戶提供高可靠性、快速的表面缺陷檢測(cè)解決方案,實(shí)現(xiàn)節(jié)約人工成本、提高生產(chǎn)效率的生產(chǎn)需求。
- 產(chǎn)品規(guī)格
- 訂購(gòu)信息
- 資料中心
點(diǎn)缺陷 | 亮點(diǎn)、暗點(diǎn)、偏光片雜質(zhì)、漏光點(diǎn)、點(diǎn)狀異物等 |
線缺陷 | 亮線、暗線、淺線、偏光片線狀不良、線狀異物等 |
面缺陷 | 污斑、灰階、串?dāng)_、背光均勻性、凹痕、氣泡等 |
檢測(cè)指標(biāo) | 準(zhǔn)確率≧94.5%,過(guò)檢率≦5%,漏檢率≦0.5% |
檢測(cè)速度 | 3~6秒/畫(huà)幅 |
檢測(cè)精度 | 像素級(jí) |
屏幕規(guī)格 | 32’’~43’’,43’’~65’’,≥65’’ |
信息化支持 | 云端數(shù)據(jù)分析、上傳MES系統(tǒng)和質(zhì)量評(píng)估系統(tǒng) |
備注 | 該設(shè)備下游工位需留有人工復(fù)判工位 |
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