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高達 50% at 5 V excess bias (VEX)
? 超高的時間精度
< 60 ps FWHM
? 80 MHz 門控頻率
可調(diào)門控寬度
? 的可編程模塊
門控寬度, 門控重頻, 死時間
SPAD 過量偏壓和溫度
主要應用
? 時間分辨光譜
? 腦功能成像
? 光學分子成像
? 門控 STED
? FLIM - 熒光壽命成像
? FCS - 熒光相關(guān)光譜
? DOT - 漫射光學層析成像
工業(yè)應用
? 光學集成電路測試
? 飛行時間測試
? 纖維光學特性
? OTDR – 光時域反射
? LIDAR 和測距
量子學應用
? 量子密碼
? 量子光學
? 單光子源特性
參數(shù)
| 參數(shù) | 說明 | 最小 | 典型 |
| 單位 |
| 有效面積直徑 |
|
| 50 |
| µm |
|
光子探測效率 | @ 400 nm |
| 50 |
| % |
| @ 600 nm |
| 20 |
| % | |
| @ 800 nm |
| 5 |
| % | |
| DCR | At VEX = 5 V and T = 25 °C |
| < 200 |
| counts/s |
| 單光子定時抖動 (FWHM) | At VEX = 5 V |
| < 60 |
| ps |
| At VEX = 7 V |
| < 50 |
| ps | |
| 偏壓范圍 |
| 3 |
| 7 | V |
| SPAD 溫度 | SW selectable | -10 |
| 30 | °C |
| 關(guān)閉等待時間 | SW selectable @ 6 ns step | 48 |
| 1000 | ns |
| Accuracy | ± max (3 ns, 3%) |
| |||
| 門控上升時間 | (20% - 80%) |
| < 300 |
| ps |
| 門控寬度 | SW selectable @ 40 ps step | 2 |
| 10 | ns |
| SW selectable @ 2 ns step | 10 |
| 500 | ns | |
|
門控重復頻率 | External trigger (if TON ≤ 10 ns) | DC |
| 80 | MHz |
| External trigger (if TON > 10 ns) | DC |
| 25 | MHz | |
| Internal trigger | 0.0002 |
| 80 | MHz | |
| 光子輸出 | NIM output | -800 |
| 0 | mV |
| Required Load (DC) |
| 50 |
| Ω | |
|
觸發(fā)輸入 | Amplitude | -2 |
| 2.5 | V |
| Threshold (SW selectable 18 mV step) | -2 |
| 2.5 | V | |
| Load Impedance (DC) |
| 50 |
| Ω | |
| Impulse width | 2 |
|
| ns | |
| 觸發(fā)輸出 有效門控 | Output levels (± 400 mV) | 0 |
| 2.9 | V |
| Required Load (DC) |
| 50 |
| Ω | |
| 電壓 |
| 100 - 240 VAC @ 50 - 60 Hz | |||
| 輸入方式 |
| Free space or Fiber connectorized | |||
| 系統(tǒng)需求 |
| USB port and Microsoft Windows® OS | |||
訂購信息
標準的FastGatedSPAD模塊通常與以下部件一起提供
· 控制單元
· 探測頭（光纖尾纖或加窗）
· 控制單元到檢測頭的橙色寬帶電纜
· USB密鑰包含安裝軟件和PDF® 格式的用戶手冊
· SPAD測試報告
· 光學通用適配器
