數(shù)字超聲波探傷儀
HYUT-800歷時(shí)3年時(shí)間研發(fā)(2006-2009),6年市場(chǎng)檢驗(yàn)(2009-2015)自主設(shè)計(jì),16項(xiàng)創(chuàng)新或改進(jìn)功能,上海材料研究所——無(wú)損檢測(cè)中心超聲探傷培訓(xùn)上機(jī)操作機(jī)型,我們的成長(zhǎng)離不開(kāi)您的支持,感恩必須要回報(bào)!
HYUT-800器技術(shù)參數(shù):
材料聲速 | 1000 ~ 9999M/S | |||
聲程 | 6100mm,滿(mǎn)刻度聲程最小4mm (鋼,縱波,反射式) | |||
頻率范圍 | 0.4 ~ 10MHz / 0.7~1.4 1.8~3.5 4~6 MHz(帶通) | |||
增益范圍 | 0 ~ 110dB (步長(zhǎng)0.1dB,1dB) | |||
儀延時(shí)范圍 | 0 ~ 6000mm | |||
K值范圍 | 0.20 ~ 5.00 | |||
抑制范圍 | 0 ~ 50% | |||
增量 | 0 ~ 20dB | |||
補(bǔ)償 | -20 ~ 20dB | |||
測(cè)長(zhǎng)線 | -20 ~ 20dB | |||
定量線 | -20 ~ 20dB | |||
判廢線 | -20 ~ 20dB | |||
垂直線性 | <3% | |||
水平線性 | <0.3% | |||
發(fā)射電源電壓 | DC 200V | |||
發(fā)射脈沖寬度 | 負(fù)脈沖方波 0.05~0.6μS 可調(diào)(步長(zhǎng)0.01μS) | |||
發(fā)射脈沖內(nèi)阻 | 不大于10Ω | |||
發(fā)射重復(fù)頻率 | 25~ 400Hz | 聲程<150 μS時(shí) | 400/200Hz | FAST/SLOW |
150 μS <聲程<300 μS時(shí) | 200/100Hz | FAST/SLOW | ||
300 μS <聲程<600 μS時(shí) | 100/50HZ | FAST/SLOW | ||
聲程>600 μS時(shí) | 50/25Hz | FAST/SLOW | ||
探頭阻尼電阻 | 約120Ω 固定 | |||
放大器輸入 | 增益0dB,99% 屏幕高度時(shí)約50V峰值輸入端噪聲約50μV峰值(寬帶) 帶寬噪聲約16nV√Hz峰值 | |||
數(shù)字采樣 | 8bit 實(shí)時(shí)50MHz,等效200MHz(硬件實(shí)現(xiàn)) | |||
顯示方式 | 檢波+,檢波-,全波 | |||
顯示器件 | 東芝TFT工業(yè)彩色液晶顯示屏(320x240,5.7英寸),LED背光燈 | |||
液晶屏刷新頻率 | 50Hz | |||
閘門(mén) | 進(jìn)波門(mén)、失波門(mén),可調(diào) | |||
動(dòng)態(tài)范圍 | >32dB | |||
靈敏度余量 | >58dB (與探頭有關(guān)) | |||
分辯率 | >26dB (與探頭有關(guān)) | |||
測(cè)厚分辨率 | 0.02mm (厚度小于650mm時(shí)) | |||
電源 | 4節(jié)5號(hào)Ni-MH可充電池2500mAh 外接電源DC9~15V 0.5~0.3A | |||
電池消耗功率 | 約2W (350mm聲程、背光強(qiáng)、發(fā)射重復(fù)頻率FAST)約1.5W (350mm聲程、背光弱、發(fā)射重復(fù)頻率SLOW) | |||
電池連續(xù)工作時(shí)間 | 約5小時(shí) (350mm聲程、背光強(qiáng)、發(fā)射重復(fù)頻率FAST)約6.5小時(shí)(350mm聲程、背光弱、發(fā)射重復(fù)頻率SLOW) | |||
儲(chǔ)存環(huán)境溫度 | -20℃ ~ +70℃ | |||
工作環(huán)境溫度 | -10℃ ~ +50℃ | |||
外形尺寸 | 230 x 146 x 37 mm(不包含旋鈕突出部分) | |||
質(zhì)量 | 約900克 (含4節(jié)AA鎳氫電池) |
LS-80-1的所有技術(shù)指標(biāo),已達(dá)到同類(lèi)產(chǎn)品的平均水平,在抗力上,表現(xiàn)尤其突出,我們盡力完善儀器性能,絕不搞虛假指標(biāo),例如靈敏度余量這個(gè)重要指標(biāo),我們是用寬帶測(cè)試,并標(biāo)明阻尼電阻為120歐,如改用帶通,性能會(huì)提高約5dB,如阻尼電阻為200歐,又可改善約4dB,由于我們實(shí)事求是地列出測(cè)試條件,請(qǐng)用戶(hù)放心使用。
LS-80-1有許多與眾不同的地方,創(chuàng)新或改進(jìn)的地方多達(dá)16處,詳情可參考說(shuō)明書(shū),現(xiàn)僅列比較突出的幾點(diǎn),詳細(xì)解釋一下。
1.省電,所以省錢(qián),耗電僅2瓦。市面上大部份同類(lèi)儀器耗電6到8瓦,所以只能用定制鋰電池組供電,據(jù)說(shuō)換一次電池要800元左右,而且各種儀器電池組不通用,只能向儀器制造廠定購(gòu)。假如2年換一次電池,10年的電池費(fèi)可能要4000元。本機(jī)因耗電省,才可用4節(jié)5號(hào)Ni-MH電池,換一次電池不到100元,10年電池費(fèi)用不高于500元。同樣也響應(yīng)了當(dāng)前綠色環(huán)保的主題。
2.可變等分刻度,估算回波距離非常方便。大部份儀器的水平距離刻度,分成10等分,微調(diào)量程時(shí),每等分所代表的距離也響應(yīng)變化,例如滿(mǎn)度100mm量程,每等分10mm,第三格30mm,第四格40mm很容易心算。但如把量程增加到例如116mm,則每等分代表11.6mm,第三格=11.6x3=34.8mm用心算不太容易了,再假如延遲設(shè)定為29.4mm,則還要加上29.4,太不方便了。JUT900采用可變等分刻度技術(shù),每等分所代表的距離,必定是1,2,5,10,20,50,100,200,500,1000mm之中的一個(gè)。再舉相同例子,量程調(diào)116mm時(shí),每等分20mm,共116/20=5.8等分,再微調(diào)量程后,每等分20mm不變,僅等分?jǐn)?shù)改變,這就是可變等分的原理。如果量程改變很大,除出來(lái)的等分?jǐn)?shù)不在4到10范圍之間,就會(huì)在上面10個(gè)數(shù)列中挑選一個(gè)合適的數(shù),作為每等分所代表的距離。本機(jī)還在每個(gè)刻度下標(biāo)出距離,所以延時(shí)如不為零也不會(huì)帶來(lái)距離判斷上的困難。
3.可變等分刻度,估算回波距離非常方便。大部份儀器的水平距離刻度,分成10等分,微調(diào)量程時(shí),每等分所代表的距離也響應(yīng)變化,例如滿(mǎn)度100mm量程,每等分10mm,第三格30mm,第四格40mm很容易心算。但如把量程增加到例如116mm,則每等分代表11.6mm,第三格=11.6x3=34.8mm用心算不太容易了,再假如延遲設(shè)定為29.4mm,則還要加上29.4,太不方便了。 LS-80-1采用可變等分刻度技術(shù),每等分所代表的距離,必定是1,2,5,10,20,50,100,200,500,1000mm之中的一個(gè)。再舉相同例子,量程調(diào)116mm時(shí),每等分20mm,共116/20=5.8等分,再微調(diào)量程后,每等分20mm不變,僅等分?jǐn)?shù)改變,這就是可變等分的原理。如果量程改變很大,除出來(lái)的等分?jǐn)?shù)不在4到10范圍之間,就會(huì)在上面10個(gè)數(shù)列中挑選一個(gè)合適的數(shù),作為每等分所代表的距離。本機(jī)還在每個(gè)刻度下標(biāo)出距離,所以延時(shí)如不為零也不會(huì)帶來(lái)距離判斷上的困難。
4.有本公司的回波顯示區(qū)左右分屏顯示模式。左屏顯示一次底波前的缺陷波,右屏顯示高次底波例如10次底波高度,左右屏聲程范圍可以不一樣。在平板探傷時(shí),為了發(fā)現(xiàn)大缺陷,要求聲程調(diào)到能顯示5到10次底波(取決于高次底波幅度下降快慢)通過(guò)監(jiān)視高次底波下降幅度,就能發(fā)現(xiàn)大缺陷,但小缺陷回波要在一次底波內(nèi)觀察,在聲程調(diào)到能顯示10次底波時(shí),該區(qū)域僅占顯示屏左邊10%區(qū)域,觀察起來(lái)很困難。介決辦法是分左右屏顯示,左屏占55%區(qū)域顯示一次底波內(nèi)的缺陷回波,右屏占45%區(qū)域顯示高次底波。所以該模式能使平板探傷時(shí),近處看得清,遠(yuǎn)處看得見(jiàn)。左屏比右屏大是為了使左屏內(nèi)容更看得清楚。
5.具有界面波鎖定功能,可使用液浸法探傷或測(cè)厚。市面上,具有界面波鎖定功能的儀器很少,據(jù)我們了解,有此功能的儀器,有的不能消除界面波和工件回波的抖動(dòng),僅在測(cè)量工件回波距離上,消除界面波的抖動(dòng)影響。但在 LS-80-1上,界面波被鎖定在聲程起點(diǎn)(聲程零點(diǎn)),這樣界面波的抖動(dòng)被消除掉,缺陷回波或工件底波也就不會(huì)抖動(dòng)了,整個(gè)顯示區(qū)都可以用來(lái)顯示回波,并可任意改變聲程,而不影響對(duì)界面波的鎖定。又在顯示屏右上角開(kāi)設(shè)一個(gè)64x40點(diǎn)的小窗口,類(lèi)似電視機(jī)的畫(huà)中畫(huà)功能,在小窗口內(nèi)實(shí)時(shí)顯示界面波鎖定情況。
6.有波形擴(kuò)展功能,擴(kuò)展程度和進(jìn)波門(mén)寬度無(wú)關(guān),而且可以任意連續(xù)改變擴(kuò)展程度,操作方便。市面上現(xiàn)有儀器絕大部份都有波形擴(kuò)展功能,但擴(kuò)展倍數(shù)是根據(jù)擴(kuò)展前閘門(mén)寬度來(lái)決定,例如閘門(mén)寬度10%,按擴(kuò)展鍵后,閘門(mén)寬度變99%寬,閘門(mén)內(nèi)的回波展寬10倍,如發(fā)現(xiàn)展擴(kuò)倍數(shù)不夠,還要再按鍵先退出,再減小閘門(mén)寬度,再重新按鍵進(jìn)入,可見(jiàn)操作很煩瑣。但在 LS-80-1上,按擴(kuò)展鍵后,先以進(jìn)波門(mén)內(nèi)的波峰為擴(kuò)展點(diǎn),先擴(kuò)展一倍,然后逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)聲程旋鈕,擴(kuò)展倍數(shù)會(huì)變大,直到看清波形細(xì)節(jié)或聲程被調(diào)到最小止,如認(rèn)為感興趣的部分位置太偏,還可以調(diào)延遲旋鈕平移回波。
7.有動(dòng)態(tài)波形描繪功能,能畫(huà)出動(dòng)態(tài)波形曲線(移動(dòng)探頭位置同回波高度的關(guān)系),便于分析缺陷性質(zhì)。市面上現(xiàn)有儀器中有很多型號(hào)具有動(dòng)態(tài)波形記錄功能,類(lèi)似于錄像機(jī)功能,能把探頭移動(dòng)時(shí)回波變化情況記錄下來(lái),供以后回放時(shí),重現(xiàn)波形變化情景。但在 LS-80-1上,并不是指錄像機(jī)功能,而是實(shí)時(shí)畫(huà)出一條回波峰點(diǎn)軌跡曲線,水平方向代表探頭在缺陷上方來(lái)回移動(dòng)距離,根據(jù)曲線形狀,可以邦助分析缺陷性質(zhì)。所以在名稱(chēng)上,動(dòng)態(tài)波形描繪和動(dòng)態(tài)波形記錄只相差二個(gè)字,但在功能上,二者不同。
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高速自動(dòng)高度功能。在別家儀器上大多數(shù)稱(chēng)為自動(dòng)增益,意思是按鍵后,儀器會(huì)自動(dòng)改變?cè)鲆?,使回波高度達(dá)到規(guī)定值。儀器自動(dòng)調(diào)節(jié)增益過(guò)程所需時(shí)間據(jù)我們對(duì)二家國(guó)產(chǎn)機(jī)實(shí)測(cè),改變100dB增益需時(shí)間10到20秒,在此期間要保持探頭不能動(dòng)。 LS-80-1僅需1到2秒鐘。
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裝箱清單:
1. | LS-80-1主機(jī) | 1臺(tái) |
2. | 直探頭 | 1個(gè) |
3. | 斜探頭 | 1個(gè) |
4. | 9V電源適配器 | 1個(gè) |
5. | 探頭連接線 | 2根 |
6. | 產(chǎn)品包裝箱 | 1個(gè) |
7. | 使用說(shuō)明書(shū) | 1本 |
8. | 探傷軟件、合格證、裝箱卡、保修卡 | 1套 |
還有如凍結(jié)后,可全范圍調(diào)節(jié)聲程;相對(duì)增益置零鍵;搜索靈敏度提升鍵;斜探頭探傷距離X,Y方向雙刻度;延時(shí)快速歸零鍵;曲線位置提示功能等。
超長(zhǎng)的保修期讓您無(wú)后顧之憂(yōu):
儀器的保修期為24個(gè)月,用戶(hù)不當(dāng)使用造成的損害不在三包之內(nèi);探頭及電池屬于易耗件,不屬于保修范圍。維修時(shí)間不超過(guò)5個(gè)工作日,一般故障3個(gè)工作日(不含快遞時(shí)間)。
計(jì)量檢測(cè)部門(mén)檢測(cè)報(bào)告讓您放心使用:
數(shù)字式超聲波探傷儀 LS-80-1系列產(chǎn)品質(zhì)檢結(jié)果
*經(jīng)本公司對(duì)任意10臺(tái)量產(chǎn)儀器檢測(cè),靈敏度及噪聲的不一致性均在1dB~2dB之內(nèi)。
*以下數(shù)據(jù)為送測(cè)儀器(量產(chǎn)抽樣)指標(biāo)摘錄,測(cè)試用探頭為技監(jiān)局標(biāo)準(zhǔn)探頭。完整測(cè)試報(bào)告