leeb253型大量程涂鍍層測(cè)厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn):
GB/T4956─1985磁性方法;
JJG818-95《磁阻法測(cè)厚儀》;
JB/T8393-1996磁性和渦流覆層測(cè)厚儀。
leeb253型大量程涂鍍層測(cè)厚儀功能與特點(diǎn)
采用了磁性測(cè)厚方法,可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性;
覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等);
可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;
具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE);
具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl);
具有米、英制轉(zhuǎn)換功能;
具有欠壓指示功能;
操作過程有蜂鳴聲提示;
具有錯(cuò)誤提示功能;
具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。
leeb253型大量程涂鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
測(cè)頭類型:F;
測(cè)量原理:磁感應(yīng);
測(cè)量范圍:0-6000um;
低限分辨力:1μm(10um以下為0.1um);
探頭連接方式:一體化;
leeb253型大量程涂鍍層測(cè)厚儀示值誤差:
一點(diǎn)校準(zhǔn)(um):±[3%H+1];
兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um):±[(1%~3%)H+1];
測(cè)量條件:
***小曲率半徑(mm):凸1.5|凹9;
基體***小面積的直徑(mm):ф7;
***小臨界厚度(mm):0.5;
溫濕度:0~40℃|20%RH~90%RH;
工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl);
測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE);
上下限設(shè)置:無(wú);
關(guān)機(jī)方式:自動(dòng);
電源:二節(jié)3.6V鎳鎘電池;
外形尺寸:150×55.5×23mm;
重量:150g。
leeb253型大量程涂鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置
leeb253主機(jī);
鐵基體;
標(biāo)準(zhǔn)片一套;
充電器;
使用說明書;
合格證書;
包裝箱。
leeb253型大量程涂鍍層測(cè)厚儀可選配
鐵基體;
標(biāo)準(zhǔn)片。