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      臭氧老化試驗(yàn)箱

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱蘇瑞電子設(shè)備(北京)有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2022/12/27 12:52:47
      • 訪問次數(shù)233
      產(chǎn)品標(biāo)簽:

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      根據(jù)其試驗(yàn)方法和標(biāo)準(zhǔn),臭氧老化試驗(yàn)箱的試驗(yàn)方法可以分為靜態(tài)試驗(yàn)和動(dòng)態(tài)試驗(yàn),靜態(tài)試驗(yàn)是指將樣品放入容器中,然后放入夾具中,邊拉邊試驗(yàn),其伸縮量約為自身伸縮量的5%-45%
      臭氧老化試驗(yàn)箱 產(chǎn)品信息

           

            根據(jù)其試驗(yàn)方法和標(biāo)準(zhǔn),臭氧老化試驗(yàn)箱的試驗(yàn)方法可以分為靜態(tài)試驗(yàn)和動(dòng)態(tài)試驗(yàn),靜態(tài)試驗(yàn)是指將樣品放入容器中,然后放入夾具中,邊拉邊試驗(yàn),其伸縮量約為自身伸縮量的5%-45%。

      臭氧老化試驗(yàn)箱

           空氣中臭氧老化試驗(yàn)箱數(shù)量較少,但這是造成橡膠裂紋的主要原因。利用臭氧老化試驗(yàn)箱模擬和強(qiáng)化空氣中的臭氧環(huán)境,研究臭氧對(duì)橡膠的作用規(guī)律,快速識(shí)別和評(píng)價(jià)橡膠的抗臭氧老化性能和保護(hù)效果。

      臭氧老化試驗(yàn)箱特征。

      臭氧老化試驗(yàn)箱采用數(shù)控機(jī)床加工成型,外形美觀,無反作用手柄,操作簡便。

      內(nèi)側(cè)采用*的SUS304不銹鋼拉絲板,表面光滑,紋理清晰。

      試驗(yàn)箱左側(cè)有直徑為50毫米或100毫米的試驗(yàn)孔,可連接試驗(yàn)電源或信號(hào)線。

      臭氧老化試驗(yàn)箱的控制器(controller)



      冷凍及風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng)(Refrigeration and air circulation system)




      型號(hào)規(guī)格Model and specification 

      經(jīng)國家環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備質(zhì)量監(jiān)督檢測中心檢測,符合“環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)條件”系列國家標(biāo)準(zhǔn)中的:

      GB/T3642動(dòng)態(tài)拉伸試驗(yàn)方法。
      GB/T2951.21彈性體混合料專用試驗(yàn)方法-耐臭氧試驗(yàn)。
      GB/T2951.5彈性體混合料專用試驗(yàn)方法第1節(jié):耐臭氧試驗(yàn)。
      GB/T7762《硫化橡膠或熱塑性橡膠耐臭氧龜裂靜態(tài)拉伸試驗(yàn)》。
      ASTM D1149橡膠臭氧老化標(biāo)準(zhǔn)

      GB/T2423.1—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》  試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

      GB/T2423.2—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》  試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

      GB/T2423.4—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法

      GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
      GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
      GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
      GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
      GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
      GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
      GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
      GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

      GJB150.3 (MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法

      GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法

      GB/T10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

      GB/T11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件


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