型號：V4CTS-02

用途：測試新澆筑混凝土或成熟混凝土的強(qiáng)度，測試速度和精度高于傳統(tǒng)的回彈儀，并且可以給出回彈儀所無法測試的缺陷情況。

日本 V4CTS-02混凝土探測器測試新澆筑混凝土或成熟混凝土的強(qiáng)度，測試速度和精度高于傳統(tǒng)的回彈儀。啟動和標(biāo)定時(shí)間僅需幾秒鐘，V4CTS-02混凝土探測器記錄和分析數(shù)據(jù)的速度是回彈儀的2倍。只需輕輕敲擊混凝土表面形成沖擊力波，V4CTS-02混凝土探測器就能以的精度來測試混凝土強(qiáng)度，并且可以給出回彈儀所無法測試的缺陷情況。

?         估測高強(qiáng)混凝土強(qiáng)度

?         通過USB直接傳送數(shù)據(jù)到PC

?         評定混凝土表面的老化比率

?         探測表面分層

?         預(yù)標(biāo)定，無需另外的標(biāo)定工具

日本 V4CTS-02混凝土探測器應(yīng)用領(lǐng)域：

?         工程建造和維護(hù)

?         土木工程

?         混凝凝土結(jié)構(gòu)檢測

?         鋼筋混凝土

?         評估和檢查

The Hammer 測試錘

V4CTS-02是革命性的、多功能的、高精度的、便攜的混凝土測試工具。儀器通過敲****和混凝土接觸點(diǎn)位置的沖擊力波形來測試和分析混凝土的質(zhì)量，測試引起混凝土破損，為無損測試內(nèi)置加速度傳感器測試敲擊力。使用V4CTS-02可以測試硬化混凝土或老化混凝土強(qiáng)度，同時(shí)可以測試高強(qiáng)混凝土（150Mpa）。

日本 V4CTS-02混凝土探測器技術(shù)參數(shù)

測試錘尺寸：108mm x 169mm x 42mm

測試錘重量：380g

波形測試： 采樣時(shí)鐘: 0.5微妙，采樣時(shí)間：2毫秒

電源：四節(jié)AA堿性電池（連續(xù)工作12小時(shí)）

數(shù)據(jù)傳輸：通過USB和電腦連接

數(shù)據(jù)存儲：存儲量50萬個(gè)數(shù)據(jù)

測量方法：

V4CTS-02混凝土探測器可以測量混凝土的抗壓強(qiáng)度，應(yīng)用測量平面概念還可以得到劣化程度和剝離程度。測試時(shí)劃區(qū)進(jìn)行，在敲擊混凝土20次后，離差在±20%以內(nèi)的平均值自動產(chǎn)生，V4CTS-02混凝土探測器可以設(shè)置為自動剔除或保留任何一個(gè)測試結(jié)果，每次敲擊后0.5秒內(nèi)顯示結(jié)果。

用V4CTS-02混凝土探測器測試混凝土只需要一個(gè)輕質(zhì)的錘頭

V4CTS-02測試和分析整個(gè)混凝土表面使用平面測量模式：

X軸代表錘頭敲擊的測試點(diǎn)位，下圖所示的等值線圖代表儀器測得的混凝土強(qiáng)度分布。專家測試結(jié)果和儀器測試結(jié)果幾乎相同。一旦數(shù)據(jù)傳輸至PC，使用者可以描繪出結(jié)構(gòu)強(qiáng)度測定值、

劣化程度和剝離程度。通過建立測定之間的距離，就可以在混凝土表面描繪出強(qiáng)度等值圖。

V4CTS-02混凝土探測器基本原理

下圖代表的是用V4CTS-02敲擊混凝土表面所產(chǎn)生的敲擊力波形圖。此波形通過儀器內(nèi)置的傳感器測得，可以被分割為二部分。部分就是左邊到峰值處表征的是錘頭敲擊時(shí)推近到混凝土的時(shí)間，混凝土變形位移出現(xiàn)在峰值處，這里也是敲擊力到達(dá)值的點(diǎn)。第二部分從峰值處到右側(cè)表征的是發(fā)生變形位移的混凝土表面恢復(fù)到正常位置處的時(shí)間。這個(gè)反彈過程是通過混凝土彈性形變能量反推錘頭而造成的?；仡櫅_擊波形的第二部分，根據(jù)測到的錘頭彈性接觸力學(xué)阻力可以推導(dǎo)出混凝土抗壓強(qiáng)度，并且不對混凝土表面造成損傷。此測試和分析號為：NO. 3691477.

回彈儀：

?           表面惡化和儀器出錯(cuò)造成測試結(jié)果不準(zhǔn)確

?           測試復(fù)雜不方便，數(shù)據(jù)需要修正

V4CTS-02混凝土探測器優(yōu)點(diǎn)：

?           由于采用敲擊法使得使用方便，但是測混凝土強(qiáng)度的精度高

?           在探測分層離析時(shí)等同于iTECS技術(shù)

?           實(shí)時(shí)探測

?           實(shí)時(shí)定位缺陷

?           節(jié)省費(fèi)用