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德國(guó)尼克斯分體涂層測(cè)厚儀

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參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱(chēng)森瑪特儀器（北京）有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2022/12/24 11:57:38
訪問(wèn)次數(shù)235

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

森瑪特儀器（北京）有限公司（）由一群有著共同愿景的實(shí)驗(yàn)室儀器設(shè)備銷(xiāo)售服務(wù)人員創(chuàng)建，秉承“共享共贏”的經(jīng)營(yíng)理念。旨在成為中國(guó)實(shí)驗(yàn)室儀器和設(shè)備行業(yè)專(zhuān)業(yè)技術(shù)和服務(wù)的提供者。森瑪特總部設(shè)在北京，我們?cè)?國(guó)建立了龐大的銷(xiāo)售網(wǎng)絡(luò)，為*國(guó)客戶(hù)提供方便、快捷的服務(wù)。公司內(nèi)部從創(chuàng)建之初就開(kāi)始建立和使用ERP和CRM管理系統(tǒng)，加強(qiáng)公司內(nèi)部流程管理和外部服務(wù)管理。森瑪特全體員工，從銷(xiāo)售團(tuán)隊(duì)、運(yùn)營(yíng)團(tuán)隊(duì)、市場(chǎng)團(tuán)隊(duì)、產(chǎn)品支持到售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)，都受過(guò)系統(tǒng)的高等教育、嚴(yán)格的產(chǎn)品技術(shù)和優(yōu)良的服務(wù)意識(shí)的培訓(xùn)。我們能夠?yàn)榭蛻?hù)提供優(yōu)質(zhì)的實(shí)驗(yàn)室全套解決方案。我們?yōu)榭蛻?hù)提供好儀器，服務(wù)中國(guó)客戶(hù)，同時(shí)為客戶(hù)提供電子商務(wù)服務(wù)和網(wǎng)上技術(shù)咨詢(xún)服務(wù)。

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德國(guó)尼克斯分體涂層測(cè)厚儀型號(hào)：QNIX4200P 分體涂層測(cè)厚儀: 基體：Fe磁性基體，測(cè)量范圍：0-3000微米，探頭：分體探頭

德國(guó)尼克斯分體涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品信息

德國(guó)尼克斯分體涂層測(cè)厚儀

型號(hào)：QNIX4200P

分體涂層測(cè)厚儀: 基體：Fe磁性基體，測(cè)量范圍：0-3000微米，探頭：分體探頭

QNIX4200P涂層測(cè)厚儀分體設(shè)計(jì)，只需調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn)，使用極其簡(jiǎn)單。QNix4200P為磁性測(cè)厚儀，可以用來(lái)測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層。操作簡(jiǎn)單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶(hù)所喜愛(ài)。

QNIX4200P涂層測(cè)厚儀分體化設(shè)計(jì)，只需調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn)，使用極其簡(jiǎn)單。

QNix4200P為磁性測(cè)厚儀，可以用來(lái)測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層。操作簡(jiǎn)單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶(hù)所喜愛(ài)。

在傳統(tǒng)QNix4200基礎(chǔ)上，為了滿(mǎn)足客戶(hù)不同的需要，特推出QNix4200P（分體式）機(jī)，探頭和主機(jī)之間通過(guò)一根探頭線連接起來(lái)，可以滿(mǎn)足特定測(cè)量環(huán)境（比如狹小空間）的需要，測(cè)量更方便，使用更人性化，性?xún)r(jià)比更高

QNIX4200P涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)：

分體化設(shè)計(jì)，滿(mǎn)足不同環(huán)境的測(cè)量

只需調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn)

體積小巧，操作方便

精度高

價(jià)格便宜

德國(guó)尼克斯分體涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

QNIX4200P涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
磁性基體(Fe模式)	QNix4200P有此功能
測(cè)量范圍	Fe:0-3000um
顯示精度	0.1um
精度	0-50um:≤±1um 50-1000um:≤±1.5%讀數(shù) 1000-3000um≤±3%讀數(shù)
小接觸面	10×10mm
小曲率半徑	凸面：3mm 凹面：25mm
小基體厚度	Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
溫度補(bǔ)償范圍	0-60℃
顯示	LCD液晶(帶背光)
探頭	紅寶石固定式
電源	2×1.5V干電池
尺寸	100×60×27mm
重量	110g

QNix® 4200P SONDEN

Sonde	Messbereich		Substrat	Abweichung
QNix® 4200 3 mm	3000 µm		Fe	+/- (3% +- 2 µm)
QNix® 4200 5 mm	5000 µm		Fe	0 – 1999 µm: +/- (3% +- 2 µm) ?2000 – 5000 µm: +/- (5% +- 2 µm)
Kleinste Messfläche		Kleinster Krümmungsradius			Kleinste Dicke des Substrats
∅ 25 mm		Konvex: 5 mm ?Konkav: 5 mm			200 µm