EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無(wú)損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行分析，在冶煉過(guò)程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛。

范圍廣

1.真空設(shè)計(jì)

2.測(cè)試元素：Na-U

3.帶有8組準(zhǔn)直器與5組濾光片自由切換

4.應(yīng)用面廣

配置高

1.全機(jī)采用國(guó)外進(jìn)的進(jìn)口配件

2.采用數(shù)字多道技術(shù)，高計(jì)數(shù)

3.植入公司-信噪比增強(qiáng)器

1.具有三重防輻射功能

2.自動(dòng)感應(yīng)

3.加厚防護(hù)測(cè)試壁