X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定 。

　　X熒光光譜儀分類：

　　X熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。

　　以X熒光的波粒二象性中波長特征為原理的稱為波長色散型，以能量特征為原理的稱為能量色散型。

　　X熒光分析儀儀器特點(diǎn)：

　　電制冷探測器，可以快速分析從11Na到92U之間的全部元素，精度高、測量時(shí)間短，它可以廣泛用于有色礦山、鋼鐵、水泥、耐火材料、不銹鋼、合金等領(lǐng)域。

　　為了滿足現(xiàn)代企業(yè)管理和生產(chǎn)要求，必須對生產(chǎn)過程中的原材料的化學(xué)成分進(jìn)行及時(shí)、準(zhǔn)確的分析和控制，傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法已經(jīng)不能滿足生產(chǎn)過程的需要。目前眾多新型冶煉企業(yè)為了達(dá)到良好的質(zhì)量控制指標(biāo)，大都配備了相應(yīng)的分析儀。

　　X熒光光譜儀主要用途：

　　X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，可以 測定元素含量。

　　近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得多也廣泛。

　　大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。

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