智能制造網(wǎng)APP
智能制造網(wǎng)手機站
智能制造網(wǎng)小程序
智能制造網(wǎng)官微
智能制造網(wǎng)服務(wù)號
JQA系列5噸高頻電動振動臺（振動測試系統(tǒng)）滿足(MIL-STD,DIN,ISO,ASTM,IEC,ISTA,GB,GJB,JIS,BS等國家及國際測試標(biāo)準(zhǔn)) 具有頻率寬、指標(biāo)優(yōu)異、可靠性高、占地面積小、移動方便、操作簡單等優(yōu)點，目前此系列有多種不同型號的振動臺可供選擇。激振力范圍從1kN到70kN,負載從70kg到1000kg，頻率范圍：5-4000Hz，支持X.Y.Z垂直+水平多方向試驗，廣泛應(yīng)用于航空、航天、兵器、船舶、通訊、汽車、電子、電工、家電等領(lǐng)域。可提供氣候、力學(xué)等多環(huán)境的綜合試驗設(shè)備。該系統(tǒng)由振動臺、功放和風(fēng)機三部分構(gòu)成，控制儀和臺體可以根據(jù)試驗條件進行選配。
性能特點：
●強制風(fēng)冷 ●正弦激振力范圍: 1kN ~ 70kN
●兩倍的正弦沖擊力(2噸以上可選三倍) ●輕質(zhì)動圈，優(yōu)化設(shè)計，耐振性能強
●中心氣囊承載能力強，低頻性能好 ●可配置水平滑臺
●風(fēng)機冷卻效果好，噪音低 ●使用頻率可從1Hz開始
●隨機與正弦激振力1:1 ●位移峰峰值可達100mm
●耳軸氣囊隔震效果好 ●雙磁路設(shè)計，漏磁低，磁場均勻
●正弦、隨機、沖擊等試驗功能 ●高效率、高可靠性功率放大器
系統(tǒng)特點：
◎一階共振頻率高、使用頻率寬
優(yōu)化的動圈骨架結(jié)構(gòu)設(shè)計，特別是對傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的動圈骨架傳力角板等薄弱環(huán)節(jié)進行增強設(shè)計，有效提高了傳力剛度；采用膠接與螺釘連接的復(fù)合固定繞線環(huán)筒和繞線環(huán)筒增強膠孔的新結(jié)構(gòu)，增強了繞組的剛度。顯著提高了動圈的一階共振動頻率，超過了國際同類產(chǎn)品。
◎動圈繞組可靠性高
的動圈繞組加強環(huán)的新結(jié)構(gòu)和新工藝，顯著提高了動圈繞組工作在大推力、高加速度振動、沖擊和高溫環(huán)境中的耐振可靠性。
◎風(fēng)冷效率高
創(chuàng)新的電動臺冷卻風(fēng)道設(shè)計：改進了進風(fēng)結(jié)構(gòu)，上磁環(huán)用長槽型進風(fēng)道取代圓孔型進風(fēng)道；勵磁線圈采用蜂窩式風(fēng)道、中磁環(huán)采用雙層風(fēng)流式風(fēng)道、下磁環(huán)采用斜楔型風(fēng)道等新結(jié)構(gòu)，顯著提高了冷卻效果。
◎冷卻風(fēng)機
冷卻風(fēng)機具有的風(fēng)道等結(jié)構(gòu)設(shè)計，風(fēng)機冷卻效果好，噪音低。
◎水平和垂直試驗
帶水平滑臺的電動振動臺可以用于水平和垂直試驗，兩個方向的切換方式簡單，翻轉(zhuǎn)方便。
◎采用IGBT模塊
功放采用性能可靠的MOSFET和IGBT模塊，具有很高的穩(wěn)定性和可靠性。
◎安全性能
產(chǎn)品符合歐洲標(biāo)準(zhǔn)測試要求，在功放上裝有緊急停止開關(guān)，有效應(yīng)對突發(fā)事件。符合美國UL和CE安全要求。
**** 位移可選76mm或100mm.uDisplacement peak-to-peak value of 76mm or 100mm.
**** 可定制不同直徑的動圈. Customize the diameter of armture is available.
高頻振動臺滿足以下試驗標(biāo)準(zhǔn)：
● GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則: 振動(正弦)
● GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fd: 寬頻帶隨機振動—一般要求
● GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fda: 寬頻帶隨機振動—高再現(xiàn)性
● GB/T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdb: 寬頻帶隨機振動中再現(xiàn)性
● GB/T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdc: 寬頻帶隨機振動低再現(xiàn)性
● GB/T 2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/ 振動(正弦)綜合試驗方法
● GB/T 2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/ 振動(正弦)綜合試驗方法
● GB/T 2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ff: 振動—時間歷程法
● GB/T 2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fe: 振動—正弦拍頻法
● GB/T 2424.22-86電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度（低溫、高溫）和振動（正玄）綜合試驗導(dǎo)則
● GB/T 2424.24-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度（低溫、高溫） / 低氣壓 / 振動（正玄）綜合試驗導(dǎo)則
