Z-200 C+ 是能夠分析碳素鋼和不銹鋼中碳含量的手持式分析儀。 Z-200 C+ 采用激光誘導擊穿光譜技術(HH-LIBS)，使用波長為1064納米，頻率為50HZ的脈沖激光，,每束脈沖激光功率為5.5毫焦耳。內置分光儀，分析波譜范圍為:190納米-620納米。使用內置氬氣。*低可檢測出0.015%的C。

軟件特性

測碳分析軟件包介紹：

l 不銹鋼C含量檢測專業(yè)分析曲線；可檢測的元素包括：C, Si, Al, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Nb, Mo, Se, W.

l 鐵基合金C含量檢測專業(yè)分析曲線； 可檢測的元素包括：C, Si, Al, Ti,V, Cr, Mn, (不同含量Fe ), Co, Ni, Cu, Nb, Mo, W, Pb.

l C 含量標配的檢測范圍 0-1%. 并提供擴展功能和建模軟件ProfileBuilder 可在臺式電腦或是平板電腦上運行，通過ProfileBuilder當C含量高于1%時候用戶可以自建針對高含量C的分析曲線。

l 碳當量公式和計算(CE) , Mn:C比例及剩余元素總量

l 碳含量校驗校準樣品和譜線漂移校正樣品.

任何現(xiàn)有的Z-200型都可以升級到Z-200 C或Z-200 C+。

性能概要

Z-200 C+ 能測不銹鋼和低合金鋼(LAS)中的低C，也能測量鑄鐵中的高C。 測試精度高達±0.005%，測試時間短，完成一個樣品測試需約10-20秒。 即使區(qū)分C含量差異為0.1%的碳鋼牌號，也只需10秒或更短的時間。詳細的性能參見下表。

規(guī)格

技術規(guī)格
重量	1.82kg帶電池
尺寸	21*30*12（cm)
激發(fā)源	5-6 mj/脈沖，50赫茲重復頻率，1064 nm激光源
光譜/范圍	多CCD光譜儀:190 nm - 950 nm。
可用的應用程序	Alloy  Mode / Empirical mode/ Profile Builder/ Element Pro Mode
光譜數(shù)據(jù)采集	在無門或門禁操作中收集的頻譜數(shù)據(jù)，用戶可設置的門控延遲
操作/氬氣凈化	在氬凈化環(huán)境中操作的用戶可更換的氬氣瓶。氬罐在更換前提供大約600個測試。
分析范圍	全元素分析
激光光柵	將激光對準需檢測位置進行定向分析。光柵圖形16 x 16網(wǎng)格，256個位置。
電子信號處理	ARM Cortex-A9雙核/1.2 GHz內存：1 GB DDR2內存，1 GB內存
自動對焦	計算機控制手動或自動調整激光聚焦樣本位置
供電	可充電鋰電池，交流電源。
顯示	5"彩色觸摸屏智能手機顯示屏-PowerVR SGX540 3D圖形
數(shù)據(jù)存儲	8 GB SD
通訊-數(shù)據(jù)傳輸	Wifi,藍牙,USB。能連接到大多數(shù)設備，包括SciAps ProfileBuilder PC軟件。
樣品查看	在分析過程中，通過機載攝像機錄制樣本測試的視頻或圖片
校準檢查	通過測試材料為316不銹鋼的內部快門，完成自動校準和波長刻度驗證
漂移修正	只有對精度要求比較高的測試需要運行漂移修正功能 。通過測試工廠提供的標件自動完成漂移校正
合金號庫	包含500多個合金 。用戶可以 運行ProfileBuilder軟件自行添加合金。
安全	密碼保護
標準配件	防水外殼，2鋰離子電池，充電器，USB線，標準用于導入的ProfileBuilder軟件，編輯合金級庫（合金應用），查看，保存結果，數(shù)據(jù)顯示。腕帶，工廠啟動培訓支持，軟件 升級，備用的Prolene窗戶。