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球差場發(fā)射透射電子顯微鏡 HF5000

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公司名稱上海維翰光電科技有限公司
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廠商性質(zhì)其他
更新時間2022/11/13 11:24:19
訪問次數(shù)292

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上海維翰光電科技有限公司是一家擁有技術(shù)、經(jīng)營和管理人才隊伍，著重發(fā)展光學(xué)、精密機(jī)械、計算機(jī)相結(jié)合的（光、機(jī)、電一體化）光學(xué)儀器的開發(fā)、生產(chǎn)和銷售，具備較強(qiáng)的市場開拓能力、光機(jī)電領(lǐng)域技術(shù)與產(chǎn)品的成套開發(fā)制造能力公司主要經(jīng)營自主研發(fā)產(chǎn)品有：工具顯微鏡,測量顯微鏡,生物顯微鏡,體視顯微鏡,金相顯微鏡,偏光顯微鏡,熒光顯微鏡,相襯顯微鏡,讀數(shù)顯微鏡,檢測顯微鏡,電子視頻顯微鏡,干涉顯微鏡,數(shù)碼顯微鏡、測量投影儀、光學(xué)投影儀、工業(yè)投影儀、影像測量儀、顯微成像系統(tǒng)、光學(xué)計量儀器、物理光學(xué)儀器（偏光熔點(diǎn)儀,分光光度計,阿貝折射儀）、綜合光學(xué)測量儀器（干涉顯微鏡,激光平面干涉儀,透鏡中心儀,平面平晶,標(biāo)準(zhǔn)線紋尺,測角儀,自準(zhǔn)直儀,平行光管,內(nèi)調(diào)焦望遠(yuǎn)鏡）金相設(shè)備(拋光機(jī)、鑲嵌機(jī)、切割機(jī)、磨拋機(jī)).硬度計(洛氏，布氏，維氏，里氏)，顯微硬度計，塑料硬度計，橡膠硬度計，鉗式硬度計。等光學(xué)儀器及顯微測量軟件和光學(xué)儀器配件公司同時代理國外品牌儀器并長期以來與其有著良好的合作關(guān)系，是NIKON生物顯微鏡以及OLYMPUS工業(yè)顯微鏡特約合作伙伴，公司有專業(yè)的銷售及售后服務(wù)團(tuán)隊，能為用戶提供完善的解決案和系統(tǒng)的培訓(xùn)。廣泛應(yīng)用于農(nóng)牧、輕工、機(jī)械、電子、冶金、化工等行業(yè)；衛(wèi)生、教育、國防等部門及各大專院校、科研單位

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電子顯微鏡

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產(chǎn)品說明： Hitachis日立*特的200 kV像差校正TEM / STEM：成像分辨率和分析性能的完*結(jié)合在單個物鏡配置中，STEM可實(shí)現(xiàn)0.078 nm的空間分辨率，并具有較高的樣品傾斜能力和大立體角EDX檢測器...

球差場發(fā)射透射電子顯微鏡 HF5000 產(chǎn)品信息

Hitachi's日立*特的200 kV像差校正TEM / STEM：成像分辨率和分析性能的完*結(jié)合
在單個物鏡配置中，STEM可實(shí)現(xiàn)0.078 nm的空間分辨率，并具有較高的樣品傾斜能力和大立體角EDX檢測器。
將這些積累的技術(shù)整合到一個新的200 kV TEM / STEM平臺中，可以使儀器具有亞Å成像和分析的*佳組合，并具有靈活性和*特的能HF5000以日立HD-2700專ySTEM的功能為基礎(chǔ)，包括日立自己的全自動像差校正器，對稱雙SDD EDX和Cs校正的SE成像。它還結(jié)合了HF系列中開發(fā)的xian進(jìn)TEM / STEM技術(shù)。

產(chǎn)品特點(diǎn)
1.標(biāo)配日立生產(chǎn)的照射系統(tǒng)球差校正器（附自動校正功能）
2.搭載具有高輝度、高穩(wěn)定性的冷場FE電子槍
3.鏡體和電源等的高穩(wěn)定性使機(jī)體的性能大幅度提升
4.觀察像差校正SEM/STEM圖像的同時觀察原子分辨率SE圖像
5.采用側(cè)面放入樣品的新型樣品臺結(jié)構(gòu)以及樣品桿
6.支持高立體角EDX*的對稱配置（對稱Dual SDD*）
7.采用*新構(gòu)造的機(jī)體外殼蓋
8.配備日立生產(chǎn)的高性能樣品桿*

高輝度冷場FE電子槍×高穩(wěn)定性×日立制球面像差校正器
以長年積累起來的高輝度冷場FE電子源技術(shù)為基礎(chǔ)，進(jìn)行優(yōu)化，進(jìn)yi步實(shí)現(xiàn)電子槍的高度穩(wěn)定性。
此外，還更新了鏡體，電源系統(tǒng)和樣品臺，以支持觀察亞Å圖像，并提升了機(jī)械和電氣穩(wěn)定性，然后與日立公司的球差校正器結(jié)合使用。
不僅可以穩(wěn)定地獲得更高亮度更精密的探頭，而且自動像差校正功能可以實(shí)現(xiàn)快速校正，從而易于發(fā)揮設(shè)備的固有性能。使像差校正可以更實(shí)用。

Si（211）單晶體HAADF-STEM圖像（左）和圖像強(qiáng)度曲線分布（右下）、FFT功率譜（右上）
支持高立體角EDX*的對稱Dual SDD*
支持雙重配置100 mm2 SDD檢測器，以實(shí)現(xiàn)更高的靈敏度和處理能力進(jìn)行EDX元素分析。
由于第er檢測器位于第*檢測器的對面位置，因此，幾乎不會因為樣品傾斜，導(dǎo)致X射線中的信號檢測量發(fā)生變化。所以，即使是結(jié)晶性樣品，也不用顧忌信號量，可*全按照樣品的方向與位置進(jìn)行元素分析。
此外，對于電子束敏感樣品、低X光輻射量的樣品，除了原子列映射，在低倍、廣視野的高精細(xì)映射等領(lǐng)域也極為有x。

GaAs（110）的原子柱EDX映射
像差校正SEM圖像/STEM圖像　同時觀察
配有標(biāo)配er次電子檢測器，可同時觀察像差校正SEM/STEM圖像。通過同時觀察樣品的表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)，可以掌握樣品的三維構(gòu)造。
在像差校正SEM圖像中，除了可以通過校正球差來提高分辨率之外，還可以獲取更真實(shí)地樣品表面圖像。

Au/CeO2催化劑的SEM/ADF-/BF-STEM圖像（上段）和Au粒子的高分辨率圖像（下段）

技術(shù)參數(shù)

項目		內(nèi)容
電子源		W（310）冷陰極場發(fā)射型
加速電壓		200 kV、60 kV*1
圖像分辨率	STEM	0.078 nm（ADF-STEM圖像）
圖像分辨率	TEM	0.102 nm（晶格像）
倍率	STEM	×20～×8,000,000
倍率	TEM	×100～×1,500,000
樣品微動	樣品臺	偏心測角儀（Eucentric Goniometer）5軸樣品臺
	樣品尺寸	3 mm Φ
	移動范圍	X, Y＝±1.0 mm，Z=±0.4 mm
	樣品傾斜	α＝±25°、β＝±35°（日立2軸傾斜樣品桿*1）
像差校正器		配有日立照射系統(tǒng)球面像差校正器（標(biāo)配）
圖像顯示	PC	Windows® 7 *2
	顯示器	27英寸寬屏液晶顯示器（機(jī)體控制顯示器、第er顯示器*1）
	攝像頭	標(biāo)配伸縮式攝像頭屏幕攝像頭*1（用于熒光板觀察）