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      Scanning Electron Microscope(SEM)掃描電子顯微鏡 (SEM)掃描電子顯微鏡

      參考價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準
      • 公司名稱諾有測控科技(上海)有限公司
      • 品       牌
      • 型       號
      • 所  在  地
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時間2022/11/11 11:27:10
      • 訪問次數(shù)402
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      諾有測控科技(上海)有限公司是中國(上海)自由貿(mào)易試驗區(qū)入駐企業(yè)。公司立足于上海,面向市場,是的測試儀器設備供應商,擁有產(chǎn)品研發(fā)中心、生產(chǎn)基地和進出口權,公司實力雄厚。 多年來我們建立及健全了一支由多名來自不同領域、不同國籍、且在各領域擁有良好經(jīng)驗的高學歷的科學家組成的技術隊伍;擁有一批畢業(yè)于各高等院校或從事過測試領域工作的、有著良好行業(yè)經(jīng)驗的銷售隊伍;亦發(fā)展了一支經(jīng)驗豐富,經(jīng)過技術培訓并有多年維修服務經(jīng)驗的售后服務團隊;同時我們亦配備了足夠的人力從事訂貨、物流、客戶服務工作。所有這一切,均為我們達到公司的宗旨“為客戶提供、質(zhì)的服務,一切以客戶為依歸”提供了堅實的基礎。 通過與業(yè)務伙伴的緊密合作,憑借覆蓋全國的營銷服務網(wǎng)絡,致力于為客戶提供專業(yè)、方便、快捷的本地化服務。同時,我們的產(chǎn)品還遠銷到東南亞、印度、巴西、非洲、歐洲、美國等市場。 我們的客戶涉及新能源、汽車、通信及信息技術、教育科研、航空航天、微電子、、生物醫(yī)藥、節(jié)能環(huán)保、工業(yè)電子等行業(yè)和領域。 展望未來,我們將緊隨時代步伐,在測試科研領域不斷發(fā)展,我們也將繼續(xù)通過不懈的努力,為客戶提供"更豐富的產(chǎn)品選擇、更經(jīng)濟的解決方案、更全面的專業(yè)服務"。
      的背散射電子探測始終可保證良好的材料襯度,即使是以低電壓和小束流并以任何傾斜角度對電子束敏感樣品進行TV速率成像是也不例外
      Scanning Electron Microscope(SEM)掃描電子顯微鏡 (SEM)掃描電子顯微鏡 產(chǎn)品信息

      的背散射電子探測始終可保證良好的材料襯度,即使是以低電壓和小束流并以任何傾斜角度對電子束敏感樣品進行 TV 速率成像是也不例外;

      特點:
      ● 全面實現(xiàn)納米或亞納米分辨性能,從納米顆粒、粉末、催化劑和納米器件到塊狀磁性樣品等材料;
      ● 的背散射電子探測始終可保證良好的材料襯度,即使是以低電壓和小束流并以任何傾斜角度對電子束敏感樣品進行 TV 速率成像是也不例外;
      ● 無比靈活的探測器可將各個探測器分割提供的信息相結合,讓用戶能夠獲得至關重要的對比或信號強度;
      ● 各種各樣的荷電緩解策略,包括樣品倉壓力為 500 Pa 的低真空模式,可實現(xiàn)任何樣品的成像;
      ● 的分析平臺提供高電子束電流,而且束斑很小。倉室支持三個 EDS 探測器、共面的 EDS和 EBSD 以及針對分析而優(yōu)化的低真空系統(tǒng);
      ● 樣品處理和導航極容易,具有多用途樣品支架和 Nav-Cam+

      主要技術性能指標

      ● 分辨率:高真空:0.7~1.8nm; 低真空: 1.0~1.8nm;
      ● 加速電壓: 100V, 500V, 1KV, 3KV, 15KV, 20KV;
      ● 電子束電流: 1pA ~ 400nA,冷場發(fā)射式;
      ● 著陸能量范圍: 20eV ~ 30KeV;
      ● 水平視場寬: 10mm工作距離下為3.0mm(對應于最小放大倍率X29);
      ● 倉室:內(nèi)寬340mm,分析工作距離10mm;EDS出射角35°;
      ● 載物臺X-Y范圍:110mm * 110mm;
      ● 重復性:< 3.0μm (0°傾斜時);
      ● 電動Z軸:65mm;
      ● 旋轉:n * 360°;
      ● 樣品高度和重量:距共心點85mm, 任意載物臺位置均為500g,當0°傾斜時為2Kg;
      ● 樣品尺寸:可沿X-Y軸旋轉時直徑為122mm;
      ● 抽氣時間: ≤ 3.5 分鐘;
      ● 最多可安裝四個探測器,包含EDS探測器(用于化學元素分析);
      ● Windows 7 / Windows 10操作系統(tǒng);
      ● 圖像導航和圖像分析軟件。

      主要應用:

      ● 芯片等樣品高分辨率觀測;
      ● 失效點抓拍記錄;
      ● 芯片內(nèi)部電路拍照。



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