GWB-300型引伸計標定儀,是一種純機械式的高精度位移測微儀器。依據(jù)JJG762-92引伸計檢定規(guī)程要求,專門用于對各類引伸計的標定,也廣泛用位移傳感器的檢定及相應(yīng)百分表、千分表的檢定。
一、結(jié)構(gòu)特點及讀數(shù)方式
1、本儀器由精密微分測頭及測量支架組成。該標定儀是積木式結(jié)構(gòu)設(shè)計。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合,同時配有加長立柱附件,配有圓柱、板、刀片等多種形式的分離試樣,可以方便地進行多種規(guī)格型號引伸計的計量標定。用戶還可以根據(jù)自己的測試特殊需要,配置專用配件進行精密微變形量計量。
2、精密微分測頭由滑動量桿、量桿套筒、讀數(shù)內(nèi)筒、讀數(shù)外筒及高精密螺紋付組成。其量程25㎜;
最小分度(游標分度)0.0002㎜;旋轉(zhuǎn)外筒分度0.002㎜。
二、各項技術(shù)精度指標1.測量引伸計標距范圍Lmax 500㎜
2.測量支座上支臂安裝孔徑 φ10;φ28
3.微分測頭讀數(shù)內(nèi)筒軸向刻度 0.5㎜/格
4.微分測頭讀數(shù)內(nèi)筒游標刻度 0.0002㎜/格
5.微分測頭讀數(shù)外筒園周刻度 0.002㎜/格
6.高精密微分測頭精度指標
標定儀示值誤差:
量程0.5㎜以內(nèi)≤0.5μm 誤差
量程0.5㎜以上≤0.10% 逐點相對誤差
三、使用說明
請依據(jù)JJG762-92引伸計檢定規(guī)程要求,進行引伸計的檢定:
1、根據(jù)被檢引伸計的規(guī)格型號及測試的試樣規(guī)格,選擇與測試試樣基本一致的分離試樣。
2、調(diào)整兩測量支臂的位置,獲得適宜的檢定空間;調(diào)整兩測量支臂上偏心卡簧位置以使兩分離試樣保證同軸;調(diào)整測微頭與下底座的距離,以保證測微頭的有效行程。一切調(diào)整好后注意旋緊各個所需固緊部位,在檢定過程中除準許運動位移的部分外,都不準許有任何滑動或松動。
3、引伸計檢定范圍及檢測點的選擇與測試:
(1)檢定范圍應(yīng)根據(jù)引伸計需要測試材料的技術(shù)參數(shù)決定。例如,使用50㎜標距引伸計測試鋼材試樣的σP0.2技術(shù)數(shù)據(jù),那么請您選擇1㎜的檢定量程。如果測量n值則需要檢定25㎜的檢定量程。
(2)對檢定點的選擇,一般每個范圍不少于8點。對于上述選例在1㎜的檢定量程內(nèi),檢定10點,即每0.1㎜檢一點。
(3)檢定引伸計時一定用整數(shù)刻度倍讀法,不要用游標估算讀數(shù)或小數(shù)尾數(shù)讀數(shù),因為每一次的十點讀數(shù)已造成了讀數(shù)的疲勞,估算讀數(shù)或小數(shù)尾數(shù)讀數(shù)會加劇測量誤差的產(chǎn)生。而整數(shù)單刻線對整讀法最清晰簡單準確,出現(xiàn)誤差的機率最小,即便出現(xiàn)也會及時發(fā)現(xiàn),因為整數(shù)刻度倍讀數(shù)的誤差,其引伸計誤差值也會成倍數(shù)增加,這種粗大誤差會被很快及時發(fā)現(xiàn)。
4、加長立柱的使用:在使用基本立柱檢定引伸計時,無法保證該引伸計的標距空間時,取掉基本立柱上保護帽,將加長立柱插入主立柱對準V型槽,旋緊上螺絲。一定要固緊后,方可使用。
四、維護與保養(yǎng)
1.上、下支臂拆裝時,應(yīng)防止定位釘或鋼球的脫落,抱緊卡口過緊只允許用螺釘頂開。
2.器出廠時微分頭精度已調(diào)校,使用中不得自行拆卸。
3.應(yīng)在清潔無塵環(huán)境使用,并注意隨時保持儀的清潔無塵。
4.注意防止外力損傷及銹蝕的產(chǎn)
參照標準:
JJF1096-2002引伸計標定器校準規(guī)范
ISO9513:1999金屬材料單軸試驗用引伸計標定
JJG762-1992 引伸計檢定規(guī)程
可進行0.5級引伸計的標定