JEM-ARM300F實(shí)現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達(dá)300kV，是一款原子級(jí)分辨率電子顯微鏡。實(shí)現(xiàn)了高的STEM-HAADF像分辨率。

·實(shí)現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率

·JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達(dá)300kV，是一款原子級(jí)分辨率電子顯微鏡。實(shí)現(xiàn)了高的STEM-HAADF像分辨率。

·STEM-HAADF像的保證分辨率達(dá)到了的58pm

·采用JEOL自主研發(fā)的球差校正器，掃描透射像（STEM像)的保證分辨率可達(dá)58pm（300kV,超高分辨率極靴、使用STEM球差校正器時(shí)）。

·ETA校正器 JEOL自主研發(fā)的12極球差校正器　※選配件

·ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研發(fā)的擴(kuò)展軌道型12極球差校正器?？梢栽谟脩?hù)現(xiàn)場(chǎng)加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器。

·強(qiáng)大的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍HyperCF300

·標(biāo)配了全新設(shè)計(jì)的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析。

·兩種物鏡極靴

·為了支持用戶(hù)廣泛的需求，研發(fā)了兩種各具特點(diǎn)的物鏡極靴。

·豐富的選購(gòu)件

·能安裝超大立體角EDS（能譜儀）、EELS（電子能量損失譜儀）、背散射電子檢測(cè)器及四種STEM觀察檢測(cè)器。

·大范圍的加速電壓設(shè)置

·標(biāo)配300kV和80kV下的球差校正數(shù)據(jù),可選的加速電壓范圍從40KV?300kV，使用范圍極廣。

·新開(kāi)發(fā)的真空系統(tǒng)

·新的排氣系統(tǒng)達(dá)到了的真空度，在原子尺度的圖像觀察和分析中，限度地減輕了對(duì)樣品的污染和損傷。

·高穩(wěn)定的鏡筒和樣品臺(tái)

·整體穩(wěn)定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機(jī)械剛度， 在JEM-ARM200F高度穩(wěn)定的技術(shù)基礎(chǔ)之上，把電氣穩(wěn)定性和對(duì)環(huán)境的抗力提高到新高度。

                                                                                                                      分辨率                                               300 kV，80 kV