性能特點

的復(fù)合末級透鏡可在任何樣品（甚至在傾斜時貌起伏大）上提供優(yōu)異的分辨率（1 kV 電壓下為 1.0 nm），而無需進行電子束減速。
作用極大的背散射探測始終可保證良好的材料對比度，即使以低電壓和電子束電流并以任何傾斜角度對電子束敏感樣品進行 TV 速率成像時也不例外。
無比靈活的探測器可將各個探測器分割提供的信息相結(jié)合，讓用戶能夠獲得至關(guān)重要的對比或信號強度。
各種各樣的電荷緩解策略，包括倉室壓力**為 500 Pa 的低真空模式，可實現(xiàn)任何樣品的成像。
**的分析平臺提供高電子束電流，而且束斑很小。倉室支持三個 EDS 探測器、共面的 EDS 和 EBSD 以及針對分析而優(yōu)化的低真空系統(tǒng)。
樣品處理和導(dǎo)航極容易，具有多用途樣品支架和 Nav-Cam+。

應(yīng)用領(lǐng)域

掃描電鏡**地應(yīng)用于金屬材料（鋼鐵、冶金、有色、機械加工）和非金屬材料（化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維）等檢驗和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。