Talos™ 是新一代 TEM 產(chǎn)品，致力于讓用戶迅速訪問二維和三維數(shù)據(jù)，從而專注于研究發(fā)現(xiàn)。Talos 的配置適合開展材料研究和生命科學(xué)研究，是一款融合了眾多創(chuàng)新技術(shù)的多功能系統(tǒng)，能夠在未來數(shù)年里滿足您的研究需求。

Talos 的材料科學(xué)應(yīng)用
Talos 可以在多個(gè)維度開展快速、精確、量化的材料表征分析，而且配備了全新的軟件功能，能夠改善成像效果和易用性。Talos 將出眾的高分辨率 S/TEM 和 TEM 成像與行業(yè)**的 EDS 性能（包括****的 EDS 斷層掃描技術(shù)）融為一體，能夠以二維圖像和三維容積的形式提供結(jié)構(gòu)信息。創(chuàng)新的新軟件拓寬了可以分析的材料范圍，同時(shí)全新的 Ceta 16M 攝像頭可迅速從大視場切換到原子級別。全新的壓電工作臺可確保實(shí)現(xiàn)無漂移成像和精確導(dǎo)航。而且，Talos 還預(yù)留了配件接口，可以配備特定于應(yīng)用的原位樣本支架以開展動態(tài)實(shí)驗(yàn)。

產(chǎn)品型號
Talos F200i for Materials Science
Talos L120C 材料科學(xué)應(yīng)用
Talos F200X 材料科學(xué)應(yīng)用
Talos F200S 材料科學(xué)應(yīng)用
Talos Arctica TEM 的生命科學(xué)應(yīng)用
Talos F200C TEM 的生命科學(xué)應(yīng)用

Talos 的生命科學(xué)應(yīng)用
利用高分辨率獲得三維洞察。FEI Talos™ 透射電子顯微鏡 (TEM) 是一個(gè)強(qiáng)大的多功能電子系統(tǒng)，可在細(xì)胞生物學(xué)、結(jié)構(gòu)生物學(xué)和納米技術(shù)研究中提供生物和生物材料樣本的三維表征。Talos 使科學(xué)家能夠快速、更好地洞察和了解三維大分子結(jié)構(gòu)、細(xì)胞成分、細(xì)胞和組織。該系統(tǒng)配備的恒定功率 C-Twin 透鏡可提供出眾的光學(xué)性能，有助于確保在對比度和分辨率之間實(shí)現(xiàn)**平衡。FEI Talos 極其穩(wěn)定的平臺包括一個(gè)帶穩(wěn)定電子元件的壓電工作臺以及牢固的系統(tǒng)機(jī)殼，可**限度保證熱和機(jī)械穩(wěn)定性。

產(chǎn)品型號
Talos L120C TEM 的生命科學(xué)應(yīng)用
Talos Arctica TEM 的生命科學(xué)應(yīng)用
Talos F200C TEM 的生命科學(xué)應(yīng)用

性能特點(diǎn)

Talos 的材料科學(xué)應(yīng)用

Talos 可以在多個(gè)維度開展快速、精確、量化的材料表征分析，而且配備了全新的軟件功能，能夠改善成像效果和易用性。Talos 將出眾的高分辨率 S/TEM 和 TEM 成像與行業(yè)**的 EDS 性能（包括****的 EDS 斷層掃描技術(shù)）融為一體，能夠以二維圖像和三維容積的形式提供結(jié)構(gòu)信息。創(chuàng)新的新軟件拓寬了可以分析的材料范圍，同時(shí)全新的 Ceta 16M 攝像頭可迅速從大視場切換到原子級別。全新的壓電工作臺可確保實(shí)現(xiàn)無漂移成像和精確導(dǎo)航。而且，Talos 還預(yù)留了配件接口，可以配備特定于應(yīng)用的原位樣本支架以開展動態(tài)實(shí)驗(yàn)。
Talos 的生命科學(xué)應(yīng)用

利用高分辨率獲得三維洞察。FEI Talos™ 透射電子顯微鏡 (TEM) 是一個(gè)強(qiáng)大的多功能電子系統(tǒng)，可在細(xì)胞生物學(xué)、結(jié)構(gòu)生物學(xué)和納米技術(shù)研究中提供生物和生物材料樣本的三維表征。Talos 使科學(xué)家能夠快速、更好地洞察和了解三維大分子結(jié)構(gòu)、細(xì)胞成分、細(xì)胞和組織。該系統(tǒng)配備的恒定功率 C-Twin 透鏡可提供出眾的光學(xué)性能，有助于確保在對比度和分辨率之間實(shí)現(xiàn)**平衡。FEI Talos 極其穩(wěn)定的平臺包括一個(gè)帶穩(wěn)定電子元件的壓電工作臺以及牢固的系統(tǒng)機(jī)殼，可**限度保證熱和機(jī)械穩(wěn)定性。

應(yīng)用領(lǐng)域

掃描電鏡**地應(yīng)用于金屬材料（鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工）和非金屬材料（化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維）等檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。