X射線晶體探傷儀主要用于研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)。如：單晶定向、檢驗(yàn)缺陷、物質(zhì)定性、測定點(diǎn)陣參數(shù)、測定殘余應(yīng)力等。

X射線晶體探傷儀的技術(shù)參數(shù)：

1、管電壓：10～60KV由單片機(jī)自動(dòng)控制(1KV/step)；

2、管電流：5～80mA由單片機(jī)自動(dòng)控制(1mA/step)；管電壓、管電流穩(wěn)定度≤0.3‰

3、額定輸出功率：3KW

有無壓、無流、過壓、過流、過功率、無水、X光管超溫保護(hù)。

4、冷卻裝置：

自帶制冷系統(tǒng)，無需外接水循環(huán)，并自動(dòng)控制水溫及顯示X光管溫度。

5、防護(hù)罩：外射線計(jì)量不大于2.5μSv/h

6、X光管：額定功率2KW(銅靶)

7、定時(shí)：單片機(jī)自動(dòng)定時(shí)，定時(shí)時(shí)間任意選擇。