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      蔡司 Gemini SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡

      參考價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱上海禹重實業(yè)有限公司
      • 品       牌
      • 型       號
      • 所  在  地
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時間2022/10/29 10:30:34
      • 訪問次數(shù)208
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      禹重科技(UZONGLAB)是一家立足華東,以拓展全國市場為主的進口儀器貿(mào)易和技術(shù)咨詢服務(wù)公司,下設(shè)三個事業(yè)部和一個中心,即分析儀器事業(yè)部、標(biāo)耗備件事業(yè)部、大客戶項目部、以及中禹聯(lián)重檢測技術(shù)中心。   作為Thermo Science(賽默飛)、ZEISS(蔡司)、 Zwick(茲維克)和INNOVATEST(軼諾)品牌的核心代理商,禹重科技?(UZONGLAB)將*的分析測試前沿技術(shù)和產(chǎn)品帶給國內(nèi)客戶,為高校、科研院所、政府機構(gòu)以及材質(zhì)工業(yè)過程控制等行業(yè),提供金屬和非金屬材料的成分分析儀器、表面分析儀器、硬度和力學(xué)設(shè)備以及樣品前處理平臺等儀器產(chǎn)品,同時提供標(biāo)準(zhǔn)樣品和小型試驗設(shè)備銷售、材料測試咨詢等綜合服務(wù)。   從冶金鑄造和功能材料的開發(fā);船舶建造和石化裝備升級換代;到汽車零部件和電子電工的可靠性測試;環(huán)境檢測和工業(yè)品品質(zhì)的不斷提升,禹重科技?(UZONGLAB)在這些方面都發(fā)揮著實實在在的作用。   我們具備豐富的經(jīng)驗,充分了解每個客戶的核心需求,并致力于提供Z佳的解決方案。為客戶提供更專業(yè)、更安全、更便捷的產(chǎn)品和服務(wù)是我們的*目標(biāo)。
      蔡司 Gemini SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡二十多年來,基于日漸完善的Gemini技術(shù),GeminiSEM具有完整高效的檢測系統(tǒng)、的分辨率以及簡便的操作方式。Gemini物鏡設(shè)計將靜電場與磁場結(jié)合,可在Z大限度地提升光學(xué)性能的同時將場發(fā)射對樣品的損傷降至Z低。
      蔡司 Gemini SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡 產(chǎn)品信息

      蔡司 Gemini SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡二十多年來,基于日漸完善的Gemini技術(shù),GeminiSEM具有完整高效的檢測系統(tǒng)、的分辨率以及簡便的操作方式。Gemini物鏡設(shè)計將靜電場與磁場結(jié)合,可在zui大限度地提升光學(xué)性能的同時將場發(fā)射對樣品的損傷降至zui低。此設(shè)計確保了ji佳的成像質(zhì)量,即使是較具挑戰(zhàn)性的磁性材料也同樣可以達(dá)到良好的成像效果。通過二次電子和背散射電子的檢測也使得高效率的信號探測成為可能。探測器安裝在光軸上,可以減少調(diào)整時間,并可zui大限度地降低成像時間。Gemini電子束加速器技術(shù)確保了小的探針尺寸和高的信噪比,以達(dá)到超低的加速電壓。
      蔡司 Gemini SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡【技術(shù)參數(shù)】
      分辨率: 0.8nm @15 kV   1.4 nm @1kV
      放大倍數(shù):12-2,000,000×
      加速電壓:調(diào)整范圍:0.02-30 kV(無需減速模式實現(xiàn))
      探針電流: 3pA-20nA(100nA可選)
      低真空范圍: 10-500Pa (GeminiSEM300 VP可用)
      樣品室: 330 mm(φ),270 mm(h)
      樣品臺:5軸優(yōu)中心全自動    
      X=130mm
      Y=130mm
      Z=50 mm
      T=-3o-70o
      R=360o 連續(xù)
      系統(tǒng)控制:基于Windows 7的SmartSEM操作系統(tǒng),可選鼠標(biāo)、鍵盤、控制面板控制
      【產(chǎn)品應(yīng)用】       
      掃描電鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等 檢驗和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分 析和失效分析,材料實時微區(qū)成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶 粒取向測量。

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