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      X熒光光譜分析儀iEDX-150WT(鍍層測厚儀)

      參考價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準
      • 公司名稱深圳市維創(chuàng)興電子科技有限公司
      • 品       牌
      • 型       號iEDX-150WT
      • 所  在  地
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時間2022/10/26 12:16:43
      • 訪問次數(shù)227
      產(chǎn)品標簽:

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      深圳市維創(chuàng)興電子科技有限公司是一家集實驗室儀器,信賴性儀器,化學分析設(shè)備于一身的從研發(fā)到銷售的,主營業(yè)務(wù)涉及電子、五金、PCB行業(yè)的精密儀器代理、銷售、維修、新儀器的研發(fā)、設(shè)計、生產(chǎn)、銷售、升級、改造等,主要產(chǎn)品有:CVS電鍍?nèi)芤悍治鰞x,牛津CMI系列的孔銅、面銅測厚儀,韓國 ISP 系列的X射線熒光鍍層測厚儀,美國Zmetrix及奧特為的差分時域TDR阻抗測試儀,X-RAY無損檢測設(shè)備,線寬線距測量儀等線路板行業(yè)檢驗與量測設(shè)備。自公司成立以來我們不斷精益求精,創(chuàng)造出符合國際規(guī)范、行業(yè)規(guī)范的產(chǎn)品,從產(chǎn)品研發(fā)到售后服務(wù),每一個環(huán)節(jié)都以客戶的觀點與需求作為思考的出發(fā)點,并以*的加工設(shè)備,的生產(chǎn)工藝,嚴格的管理體系,雄厚的技術(shù)實力和良好的品牌價值贏得許多國內(nèi)外廠商的信賴與支持。經(jīng)過多年的積極開拓,銳意進取,我們已經(jīng)獲得韓國ISP一級代理資質(zhì),成都奧特為的代理資格,獲得美國Zmetrix的代理權(quán),CPCA會員企業(yè),國家評定,深圳市*評定等。我們的努力同時獲得了市場和客戶的高度認可,客戶包括南亞電路板,廣東世運,競?cè)A電子,金新諾股份,科惠、恩達、星河電路、廣東駿亞、奧士康,中京等,未來,維創(chuàng)興人將一如既往的在印制線路板行業(yè)加強技術(shù)創(chuàng)新,不斷提高產(chǎn)品品質(zhì),提升服務(wù)質(zhì)量,持續(xù)研發(fā)符合相應(yīng)標準,滿足客戶需求的高科技產(chǎn)品,大力推廣品牌戰(zhàn)略,將公司建設(shè)成行業(yè)精密儀器設(shè)備及解決方案的專業(yè)、誠信、可靠、信賴的優(yōu)秀供應(yīng)商。
      X熒光光譜分析儀iEDX-150WT(鍍層測厚儀)
      X熒光光譜分析儀iEDX-150WT(鍍層測厚儀) 產(chǎn)品信息

      X熒光光譜分析儀iEDX-150WT(鍍層測厚儀)

      詳情介紹


      一、產(chǎn)品概述

      產(chǎn)品類型: X熒光光譜儀 

      產(chǎn)品名稱: 鍍層測厚儀 (可選配鍍液檢測,RoHS檢測,合金分析功能)

         號: iEDX-150WT

      產(chǎn) 商: 韓國ISP公司

      二、產(chǎn)品優(yōu)勢

      1. 鍍層檢測,最多鍍層檢測可達5層。

      2. 對于薄鍍層分析精確,可以精確的分析小于1uin(0.025um)的鍍層,可以準確分析0.2-0.5uin的金層。

      3. 可同時進行選配RoHS檢測功能,精確的測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬,測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。

      4. 可同時進行選配鍍液藥水分析功能,一分鐘即可分析出藥水內(nèi)金,鎳,銅等藥水含量,分析精度為0.01ppm,

      5. 可同時進行選配合金成分分析功能。

      6. 開槽式超大可移動全自動樣品平臺610*525 (長*寬),樣品移動距離可達112*2X5mm(長*寬*高) ;專為線路板行業(yè)研制。

      7. 激光定位,可以連續(xù)自動多點程控測量;

      8. 可以選配多準直器系統(tǒng),單準直器/6個準直器/7個準直器。

      9. 可檢測固體、液體、粉末狀態(tài)材料;

      10. 運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環(huán)境相對要求低;

      11. 可進行未知標樣掃描、無標樣定性,半定量分析;

      12. 操作簡單、易學易懂、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性,快速出檢測結(jié)果(20-40秒);

      13. 標配德國AmptekSI-Pin 探測器,選配高精度硅漂移SDD探測器,保證測試精度。

      14. 軟件支持無標樣分析。

      15. 相對于傳統(tǒng)鍍層,開機不需要預(yù)熱,可以可以測量,測量后可以直接關(guān)機,節(jié)約用電,減少關(guān)鍵部件(X射線管,高壓等)消耗,并減少了等待時間。
      三、產(chǎn)品配置及技術(shù)指標說明


       

      標配

      選配

      X射線管

      高穩(wěn)定性X光管,使用壽命長(工作時間>15,000小時)。

      MO (鉬)靶,鈹窗口, 光斑尺寸75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。

      50kV,1mA,高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供性能。

      高穩(wěn)定性微焦點X光管,使用壽命(工作時間>15,000小時)。

      MO (鉬)靶,鈹窗口, 光斑尺寸50um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。

      50kV,1mA,高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供性能。

      平臺

      固定平臺

      軟件程序控制步進式電機驅(qū)動X-Y軸移動大樣品平臺。激光定位、簡易荷載負載量為5公斤,控制程序進行持續(xù)性自動測量。

      平臺尺寸:610*525mm (長*寬*高)

      樣品移動距離:112*2 X5 mm(X*Y*Z)

      準直器

      單準直器系統(tǒng) 0.2/0.3MM選1個

      0.05/0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm共7種準直器規(guī)格可選,客戶可最多選7種準直器尺寸,可定制特殊尺寸準直器。

      探測器

      半導(dǎo)體Si-PIN 探測器,分辨率159eV,

      高分辨率硅漂移SDD探測器,分辨率可達到125eV.

      濾光片

      初級濾光片:Al濾光片,自動切換

      /

      樣品定位

      顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能

      /

      視頻系統(tǒng)

      高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)。

      觀察范圍:3mm x 3mm。

      放大倍數(shù):40X。

      /

      附件

      含計算機、顯示器、打印機、鍵盤、鼠標

      /

      軟件

      標配Multi-Ray鍍層分析軟件

      1、選配ROHS分析軟件

      2、選配合金分析軟件

      3、選配藥水分析軟件

       檢測元素范圍

      Al (13) ~ U(92)

      /

      分析樣品類型

      液體/固體/粉末

      /

      四、iEDX-150WT型號光譜儀軟件功能

      1) 軟件應(yīng)用
      - 單鍍層測量
      - 線性層測量,如:薄膜測量
      - 雙鍍層測量
      - 針對合金可同時進行鍍層厚度和元素分析
      - 三鍍層測量。
      - 無電鍍鎳測量
      - 電鍍?nèi)芤簻y量
      - 吸收模式的應(yīng)用 DIN50987.1/ ISO3497-A2

          - 勵磁模式的應(yīng)用DIN50987.1/ ISO3497-A1
      - 基本參數(shù)法可以滿足所有應(yīng)用領(lǐng)域的測量

      2) 軟件標定
      - 自動標定曲線進行多層分析

      - 使用無標樣基本參數(shù)計算方法

      - 使用標樣進行多點重復(fù)標定

      - 標定曲線顯示參數(shù)及自動調(diào)整功能

      3) 軟件校正功能:
      - 基點校正(基線本底校正)

      - 多材料基點校正,如:不銹鋼,黃銅,青銅等

      - 密度校正

      4) 軟件測量功能:
          - 快速開始測量

      - 快速測量過程

      - 自動測量條件設(shè)定(光管電流,濾光片,ROI)

      5) 自動測量功能(軟件平臺)

      - 同模式重復(fù)功能(可實現(xiàn)多點自動檢測)

      - 確認測量位置 (具有圖形顯示功能)

      - 測量開始點設(shè)定功能(每個文件中存儲原始數(shù)據(jù))

      - 測量開始點存儲功能、打印數(shù)據(jù)

      - 旋轉(zhuǎn)校正功能

      - TSP應(yīng)用

      - 行掃描及格柵功能

      6) 光譜測量功能

      - 定性分析功能 (KLM 標記方法)

      - 每個能量/通道元素ROI光標

      - 光譜文件下載、刪除、保存、比較功能

      - 光譜比較顯示功能:兩級顯示/疊加顯示/減法

      - 標度擴充、縮小功能(強度、能量)

      7) 數(shù)據(jù)處理功能

      - 監(jiān)測統(tǒng)計值: 平均值、 標準偏差、 值。

      - 最小值、測量范圍,N 編號、 Cp、 Cpk,

      - 獨立曲線顯示測量結(jié)果。

      - 自動優(yōu)化曲線數(shù)值、數(shù)據(jù)控件

      8)其他功能

      - 系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境

      - 獨立操作控制平臺

      - 視頻參數(shù)調(diào)整

      - 儀器使用單根USB數(shù)據(jù)總線與外設(shè)連接

      - Multi-Ray、Smart-Ray自動輸出檢測報告(HTML,Excel)

      - 屏幕捕獲顯示監(jiān)視器、樣本圖片、曲線等.......

      - 數(shù)據(jù)庫檢查程序

      - 鍍層厚度測量程序保護。

      9) 儀器維修和調(diào)整功能

      - 自動校準功能;

      - 優(yōu)化系統(tǒng)取決儀器條件和操作室環(huán)境;

      - 自動校準過程中值增加、偏置量、強度、探測器分辨率,迭代法取決于峰位置、 CPS、主X射線強度、輸入電壓、操作環(huán)境。


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