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ISS 快速熒光壽命成像系統(tǒng)FLIM/FCS

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公司名稱東方科捷科技有限公司
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更新時間2022/10/20 14:35:01
訪問次數(shù)476

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東方科捷科技有限公司 Orient KOJI （Hongkong) Ltd.主營業(yè)務(wù)包括：代理銷售、研發(fā)生產(chǎn)用于科學(xué)研究及測試用高技術(shù)設(shè)備、附件、耗材及服務(wù)；公司基于專業(yè)的技術(shù)及研發(fā)團(tuán)隊，為國內(nèi)科研團(tuán)隊和測試領(lǐng)域提供化的設(shè)備配置和測試方案；代理銷售品牌：HORIBA Scientific（堀場），ISS（ISS公司），Oxford（牛津），Otsuka（大塚），HITACHI high-technology (日立高新)，Hamamatsu Photonics (濱松光子學(xué))，UltraFast System，SPECTRA-PHYSICS（光譜物理），Semrock；主要代理產(chǎn)品：l HORIBA Scientific 光譜儀、穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀、激光共焦拉曼成像光譜儀（Raman）、納米拉曼成像光譜儀（nanoRaman）、陰極射線發(fā)光光譜儀CL；x射線熒光光譜儀（油中硫分析儀），碳/硫氧/氮/氫元素分析儀；x射線熒光顯微鏡；輝光放電--元素深度分布分析儀（GD-OES），橢圓偏振光譜儀；l ISS公司的激光共焦多維熒光成像系統(tǒng)FLIM/PLIM/FCS，激光共焦超分辨成像顯微鏡STED-ALBA；特色：時間分辨的空間分布成像；時間分辨的空間超分辨成像；壽命范圍100ps-100ms；波長范圍可選350nm-1600nm；二維振鏡掃描標(biāo)準(zhǔn)配置，自動可調(diào)針孔共焦；l Oxford公司的低溫恒溫器及磁場系統(tǒng)；l HITACHI公司的二手CDSEM（工業(yè)）和FESEM；l 飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀fs-TAS; 飛秒時間分辨拉曼光譜儀；l 專業(yè)光致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)—覆蓋紫外可見近紅外波長范圍（350-1600nm），包括上轉(zhuǎn)換發(fā)光，單態(tài)氧發(fā)光量子效率測試；提供溫度變化環(huán)境；Orient KOJI自有產(chǎn)品l QY-2000 積分球熒光光譜儀用于重現(xiàn)性的光致發(fā)光量子效率測量；l EzTime-PL 時間分辨調(diào)制模塊，用于上轉(zhuǎn)換壽命和EL時間分辨發(fā)光光譜測量；l TAP-02 高溫?zé)晒飧郊挥糜跓岱€(wěn)定性及熱猝滅熒光測試；l Cryo-77液氮低溫恒溫器 (77-500K)；l 定制量子效率測試系統(tǒng)；l 定制相關(guān)激光共焦掃描、量子效率、光譜（成像）測量、時間分辨（成像）、磁場、低溫等集成技術(shù)的測試系統(tǒng)；

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ISS 快速熒光壽命成像系統(tǒng)FLIM/FCS

ISS 快速熒光壽命成像系統(tǒng)FLIM/FCS 產(chǎn)品信息

基于激光共焦掃描顯微系統(tǒng)--熒光成像、熒光強(qiáng)度掃描成像、熒光壽命掃描成像、熒光光譜掃描成像

　　新一代快速熒光壽命成像FastFLIM系統(tǒng)，提供單分子級的靈敏度，檢測波長標(biāo)準(zhǔn)配置范圍：350-1050nm；壽命范圍100ps-100ms；用于化學(xué)、納米、能源、生物等學(xué)科方向，單分子動態(tài)、活細(xì)胞、微區(qū)成像及形貌、能級結(jié)構(gòu)和能量傳遞特征的機(jī)理研究，測試速度高達(dá)5fps（512×512），1×1 到 4096×4096成像，采用可視化Phasor plots熒光壽命直讀半圓規(guī)，批量熒光壽命成像數(shù)據(jù)處理進(jìn)入直讀時代；振鏡掃描適于所有時間尺度的壽命成像?；罴?xì)胞工作站、變溫測試可選用；

主要功能描述：

激光共焦熒光強(qiáng)度成像LCM；

熒光壽命成像FLIM，磷光壽命成像PLIM；

上轉(zhuǎn)換熒光（壽命）成像，稀土發(fā)光（壽命）成像，延遲熒光（壽命）成像；

熒光波動成像FFS（FCS，F(xiàn)CCS, PCH，N&B, RICS， FLCS），F(xiàn)LIM-FRET成像；

單量子點發(fā)光（壽命）成像，單分子及單分子熒光共振轉(zhuǎn)移成像，包括交替激發(fā)PIE成像；

穩(wěn)態(tài)及瞬態(tài)偏振成像；

微區(qū)熒光光譜采集及光譜成像；

反聚束測試；

　　Prof. Joseph R. Lakowicz 實驗室選擇的FLIM系統(tǒng)

　　數(shù)字頻域技術(shù)DFD-FLIM （FastFLIM）和時域技術(shù)TD-FLIM （TCSPC）成像技術(shù)；

　　實時直讀式獲得熒光壽命數(shù)值及變化趨勢，F(xiàn)RET效率分布；