一次掃描檢查隱藏結(jié)構(gòu)ZEISS METROTOM 1
借助易于使用的ZEISS METROTOM 1的蔡司工業(yè)CT技術(shù),只需一次掃描,任何人都能有效完成復(fù)雜的測量和檢查任務(wù)。測量并檢測接觸式或光學(xué)測量系統(tǒng)無法檢測到的隱藏缺陷和內(nèi)部結(jié)構(gòu)。另一個巧妙之處在于ZEISS METROTOM 1的尺寸。由于體積小,CT掃描系統(tǒng)很容易便能放置于您的測量實驗室之中,可以一次性完成內(nèi)部測量和檢查。
一個CT系統(tǒng),兼具多種優(yōu)勢
ZEISS METROTOM 1使用工業(yè)計算機(jī)斷層掃描技術(shù),是升級您的質(zhì)量檢查產(chǎn)品組合的理想設(shè)備。CT系統(tǒng)擁有許多優(yōu)勢:
操作簡便
ZEISS METROTOM 1是以用戶為基礎(chǔ)建造的。安裝過程簡單,只需進(jìn)行少量培訓(xùn)就能使用CT。只需輕輕一點,即可開始掃描流程!
精準(zhǔn)的測量
小而*:您可以使用ZEISS Metrotom 1測量并評估完整的零件。這樣,您可以信賴您的測量,進(jìn)行準(zhǔn)確的數(shù)模比對、尺寸檢查和壁厚分析。
占地面積小
蔡司METROTOM 1非常緊湊。尺寸為1750 mm(長) x 1820 mm(高) x 870 mm(寬)。這意味著CT系統(tǒng)適合任何測量實驗室——可以讓您在公司內(nèi)部進(jìn)行測量和質(zhì)量保證,而無需外部測量服務(wù)。
投資回報快
購置成本低,且得益于合宜的系統(tǒng)維護(hù)保養(yǎng)費用,您的設(shè)備持有將變得物超所值:ZEISS METROTOM 1的射線管無需維護(hù)保養(yǎng)。
ZEISS METROTOM 1——緊湊而可靠
*的CT技術(shù),用于所有測量實驗室
蔡司是CT技術(shù)領(lǐng)域的專家,十多年以來,其METROTOM系列一直在提供可靠的CT系統(tǒng)。蔡司計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)METROTOM 1現(xiàn)在為每個人都提供了可靠的X射線技術(shù)和無損質(zhì)量保證。
測量完整組件、 確保零件無瑕疵
使用ZEISS METROTOM 1,您可以在您的測量實驗室里輕松檢測出工件的隱藏缺陷。無論是中型還是小型零件,是塑料還是輕金屬材質(zhì) - 使用ZEISS METROTOM 1,您可以檢查各種零件,如連接器、塑料蓋、鋁制零件等等。
GOM Volume Inspect
全面的3D CT數(shù)據(jù)分析
ZEISS METROTOM 1配有操作和檢測軟件GOM Volume Inspect(體積檢測)。軟件適合初學(xué)者使用,結(jié)合了CT流程的所有階段——從掃描設(shè)置和重建,到數(shù)據(jù)評估和報告。軟件可以精準(zhǔn)地評估幾何形狀、孔隙或內(nèi)部結(jié)構(gòu)和裝配情況。即使是超小的缺陷也可以通過單個截面圖像看到,并且可以使用多種標(biāo)準(zhǔn)自動進(jìn)行評估。只需一個軟件,您就可以將幾個組件的體積數(shù)據(jù)加載到項目中,執(zhí)行趨勢分析,并將采集到的3D數(shù)據(jù)與CAD模型進(jìn)行比較等等。
應(yīng)用領(lǐng)域:
無損檢測、一次掃描多個工件。
檢查特點:
測量內(nèi)部和外部結(jié)構(gòu)、檢查內(nèi)部缺陷(如縮孔)。
X射線源 | 160 kV |
X射線探測器 | 2.5 k |
測量容積 | 165 x 140 mm |
測量規(guī)格(MPE SD) | < 5 μm |
尺寸 | 1750 mm(寬) x 1820 mm(高) x 870 mm(厚) |
重量 | 2100 kg |
軟件 | GOM Volume Inspect體積檢測(已包含) |