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      日立球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700

      參考價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱長沙科美分析儀器有限公司
      • 品       牌
      • 型       號
      • 所  在  地
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時間2022/10/15 10:10:37
      • 訪問次數(shù)359
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      長沙科美分析儀器有限公司是2003年由湖南省中醫(yī)藥研究院科研骨干王治國助理研究員創(chuàng)建的的代理銷售國內(nèi)外色譜、質(zhì)譜、光譜品牌儀器及附屬設(shè)備和耗材的專業(yè)分析儀器公司,公司現(xiàn)有員工15人,下設(shè)精密儀器銷售部、通用儀器銷售部、零配件供應(yīng)部和技術(shù)服務(wù)部,公司擁有獨立進出口權(quán),代理進口各類實驗室儀器設(shè)備。公司服務(wù)于湖南省制藥行業(yè)16年,與各級藥品食品檢測機構(gòu)、醫(yī)藥有關(guān)科研院所和眾多藥品食品生產(chǎn)企業(yè)建立了緊密的合作關(guān)系,贏得了良好的市場信譽,也取得了較好的經(jīng)濟效益。公司自成立之日起,便矢志追求這樣的理想—我們銷售給客戶的不僅僅是公司代理的產(chǎn)品,更重要的是為我們的客戶提供符合其分析目的要求、滿足其發(fā)展需要和節(jié)約其購買經(jīng)費的個性化服務(wù)方案,將*性、配套性、實用性、經(jīng)濟性以及儀器使用維護成本綜合考慮,通過提供優(yōu)質(zhì)的售后維護、零配件供應(yīng)保障和強大的應(yīng)用技術(shù)支持服務(wù),讓客戶買得起儀器,用得上儀器,也用得起儀器,將儀器有效性能的潛力和能夠創(chuàng)造的效益發(fā)揮出來,也就是說,我們要將銷售服務(wù)延續(xù)到儀器的后續(xù)持續(xù)使用的過程中。為客戶創(chuàng)造價值被視為科美公司的立命之本、存活之源,我們把人生價值的自我實現(xiàn)落實到高水準(zhǔn)的專業(yè)素養(yǎng)、熱情周到的服務(wù)態(tài)度以及精誠合作的團隊意識上,懷著“科技報效祖國,知識服務(wù)人民”的創(chuàng)業(yè)初衷,愿與各界新老朋友攜手努力,為推動湖南省分析儀器市場的繁榮和分析水準(zhǔn)的提高做出不懈的努力。
      日立球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700,相比于普通的透射電鏡,HD-2700采用球差校正技術(shù),大大減小了透鏡球差對分辨率的影響,從而可以實現(xiàn)超高分辨率的觀察。同時,HD-2700是目前少數(shù)以掃描透射(STEM)功能為主的透射電鏡,大會聚角的STEM功能配合場發(fā)射電子槍和球差校正技術(shù)可以使HD-2700獲得亞納米級的電子束
      日立球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700 產(chǎn)品信息

      日立球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700

       

      產(chǎn)品介紹:

      HD-2700是一款200kV的場發(fā)射球差校正掃描透射電鏡。相比于普通的透射電鏡,HD-2700采用球差校正技術(shù),大大減小了透鏡球差對分辨率的影響,從而可以實現(xiàn)超高分辨率的觀察。同時,HD-2700是目前少數(shù)以掃描透射(STEM)功能為主的透射電鏡,大會聚角的STEM功能配合場發(fā)射電子槍和球差校正技術(shù)可以使HD-2700獲得亞納米級的電子束,使得原子級分辨率的圖像觀察和元素分析成為了可能,大大提高了電鏡的觀察和分析能力。

       

      日立球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700主要特點:

      高分辨觀察

      利用金顆粒保證0.144nm分辨率DF-STEM像(標(biāo)準(zhǔn)型)。

      大束流分析

      約為非校正的STEM探針電流的10倍,可以進行高速、高靈敏度能譜分析,可以在更短的時間內(nèi)獲得元素的面分布圖,使得檢測微量元素成為可能。
      簡化的操作

      提供了專用的GUI自動調(diào)節(jié)球差校正器

      整體的解決方案

      樣品桿與日立FIB兼容,提供了納米尺度的整體解決方案,從制樣到數(shù)據(jù)獲得和zui終分析

      多種評價和分析功能可選
      可同時獲得和顯示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像;可以配備ELV-2000型實時元素Mapping系統(tǒng)(DF-STEM像可以同時獲得);可以同時觀察DF-STEM像和衍射像;可以配備超微柱頭樣品桿進行三維分析(360度旋轉(zhuǎn))等。

       

      技術(shù)參數(shù):

      項目主要參數(shù)
      電子槍冷場或熱場發(fā)射電子槍
      加速電壓200kV、120kV*
       0.144nm(標(biāo)準(zhǔn)型,配有球差、冷場或熱場)
      線分辨率0.136nm(高分辨型,配有球差、冷場)
       0.204nm(標(biāo)準(zhǔn)型,配有熱場,無球差)
      放大倍率200x - 10,000,000x
      圖像模式BF-STEM相襯度像(TE像)、DF-STEM原子序數(shù)襯度像(ZC像)、二次電子像(SE像)、電子衍射花樣(可選)、特征X射線像(可選:EDX)、EELS像(可選:ELV-2000)
      電子光學(xué)電子槍:冷場或熱場發(fā)射電子槍,內(nèi)置陽極加熱器
      透鏡系統(tǒng):兩級聚光鏡、物鏡、投影鏡
      球差校正器:六極/傳輸 雙重(標(biāo)準(zhǔn)型和高分辨型)
      掃描線圈:兩級電磁線圈
      電位移:±1μm
      樣品桿側(cè)插式,X=Y=±1mm,Z=±0.4mm ,T=±30°(單傾樣品桿)

       

      應(yīng)用領(lǐng)域:

      HD-2700作為一款場發(fā)射球差校正的掃描透射電鏡,不僅具有高分辨率的圖像觀察能力,同樣具有高空間分辨率的分析能力,配合EELS和EDS可以實現(xiàn)原子級元素的分析。HD-2700具有多種成像模式,可以滿足大部分樣品的觀察需求,日立*的SE成像模式可以獲得透射電鏡無法獲得的樣品表面的信息,同時又比普通掃描電鏡具有更高的分辨率,可以實現(xiàn)對樣品表面的高分辨觀察。      

      應(yīng)用文章:

      [1] Ciston1, J., Brown2, H. G., D`Alfonso2, A. J., Koirala3, P., Ophus1, C., Lin3, Y., Suzuki4, Y., Inada5, H., Zhu6, Y. & Marks3, L. D. Surface determination through atomically resolved secondary electron imaging.Nature Communications,2005,6, 7358-7365.

      [2] Zhu1*, Y., Inada2, H., Nakamura2, K. & Wall1, J. Imaging single atoms using secondary electrons with an aberration-corrected electron microscope.Nature Materials,2009,8, 808-812.

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