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      常溫SEM原位納米壓痕儀--NanoFlip 納米壓痕儀

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱北京中海遠(yuǎn)創(chuàng)材料科技有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2022/10/13 12:16:55
      • 訪問(wèn)次數(shù)264
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      北京中海遠(yuǎn)創(chuàng)材料科技有限公司,專業(yè)負(fù)責(zé)KLA(科磊半導(dǎo)體)微納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)(納米壓痕儀、SEM原位壓痕儀、拉伸儀等)、探針式臺(tái)階儀、形貌儀、三維光學(xué)輪廓儀等設(shè)備技術(shù)的銷售和技術(shù)應(yīng)用服務(wù)工作。KLA公司是工藝控管與良率管理解決方案的業(yè)界者,與世界各地的客戶合作開(kāi)發(fā)的檢測(cè)和量測(cè)技術(shù),并且將這些技術(shù)致力于*材料、物理、微器件、半導(dǎo)體、LED 及其他相關(guān)微納研究和生產(chǎn)領(lǐng)域。憑借行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品組合和的工程師及科學(xué)家團(tuán)隊(duì),近 40 年來(lái)公司持續(xù)為客戶打造的解決方案。北京中海遠(yuǎn)創(chuàng)材料科技有限公司是KLA微納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、SEM/FIB原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、探針式臺(tái)階儀、三維光學(xué)輪廓儀等設(shè)備的渠道商,服務(wù)范圍遍及全國(guó)各地。微納力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)包括業(yè)內(nèi)聲譽(yù)很高應(yīng)用很廣泛的G200、iMicro、iNano型納米壓痕儀,T150型納米拉伸儀,以及常溫和高溫原位納米壓痕儀等等。KLA公司新研發(fā)的G200X型納米壓痕儀在G200型的基礎(chǔ)上又增加了一些新功能,使設(shè)備的性價(jià)比又提高了一個(gè)新臺(tái)階。輪廓儀系統(tǒng)包括的Zeta系列,P系列、D系列等產(chǎn)品。我公司擁有一支專業(yè)誠(chéng)信的技術(shù)、銷售、管理團(tuán)隊(duì),有著豐富的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),自公司創(chuàng)立以來(lái),在科研、生產(chǎn)等多個(gè)領(lǐng)域?yàn)榭蛻籼峁┝擞懈?jìng)爭(zhēng)力的產(chǎn)品和技術(shù)服務(wù)。我們始終秉承服務(wù)至上的宗旨,依托專業(yè)化的團(tuán)隊(duì)、全國(guó)性的營(yíng)銷網(wǎng)絡(luò)和的品牌,在不斷優(yōu)化服務(wù)質(zhì)量、擴(kuò)大市場(chǎng)輻射范圍的同時(shí),為客戶提供更全面的服務(wù)。
      產(chǎn)品描述常溫SEM原位納米壓痕儀——NanoFlip納米壓痕儀提供高精度XYZ位移,可定位樣品進(jìn)行測(cè)試,還提供翻轉(zhuǎn)機(jī)制,可定位樣品進(jìn)行成像
      常溫SEM原位納米壓痕儀--NanoFlip 納米壓痕儀 產(chǎn)品信息

      產(chǎn)品描述

      常溫SEM原位納米壓痕儀——NanoFlip納米壓痕儀提供高精度XYZ位移,可定位樣品進(jìn)行測(cè)試,還提供翻轉(zhuǎn)機(jī)制,可定位樣品進(jìn)行成像。InView軟件附帶一套測(cè)試方法,涵蓋一系列測(cè)試協(xié)議,并允許用戶創(chuàng)建自己的新穎測(cè)試方法。InForce50驅(qū)動(dòng)器在真空和常壓條件下表現(xiàn)同樣出色。InView件可以記錄SEM或其他顯微鏡圖像,并與機(jī)械測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行同步。創(chuàng)新的FIB-to-Test技術(shù)允許樣品傾斜90°,無(wú)需移除樣品即可實(shí)現(xiàn)從FIB到壓痕測(cè)試的無(wú)縫過(guò)渡。

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      主要功能

      ·        InForce 50驅(qū)動(dòng)器,用于電容位移測(cè)量,并配有電磁啟動(dòng)的可互換探頭

      ·        InQuest高速控制器電子設(shè)備,具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時(shí)間常數(shù)

      ·        用于樣本定位的XYZ移動(dòng)系統(tǒng)

      ·        SEM視頻捕獲,可以將SEM圖像和測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行同步

      ·        的軟件集成壓頭校準(zhǔn)系統(tǒng),可實(shí)現(xiàn)快速,準(zhǔn)確的壓頭校準(zhǔn)

      ·        Windows®10兼容的InView控制和數(shù)據(jù)查看軟件以及協(xié)助用戶設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)的方法開(kāi)發(fā)功能


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      主要應(yīng)用

      ·        硬度和模量測(cè)量(Oliver-Pharr)

      ·        連續(xù)剛度測(cè)量

      ·        高速材料性質(zhì)分布圖

      ·        ISO 14577硬度測(cè)試

      ·        聚合物的納米動(dòng)態(tài)力學(xué)分析(DMA)

      ·        定量刮擦和磨損測(cè)試

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      工業(yè)應(yīng)用

      ·        大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所

      ·        支柱和微球制造

      ·        MEMS(微機(jī)電系統(tǒng))

      ·        材料制造(結(jié)構(gòu)壓縮/斷裂測(cè)試)

      ·        電池和元件制造

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