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      貝拓科學在線測厚儀TF200-VIS

      參考價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準
      • 公司名稱廣州貝拓科學技術有限公司
      • 品       牌
      • 型       號
      • 所  在  地
      • 廠商性質其他
      • 更新時間2022/10/13 12:12:02
      • 訪問次數(shù)186
      產(chǎn)品標簽:

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      廣州貝拓科學技術有限公司成立于2010年8月,是國家高業(yè),廣州科技小巨人企業(yè),并在廣東股權交易中心成功掛牌(股權代碼:892081),通過ISO9001-2015質量體系認證和知識產(chǎn)權貫標認定體系,擁有近20項國家專~利。貝拓科學一直從事光譜分析儀器領域,自主研發(fā)儀器有光學接觸角測量儀,顯微拉曼光譜儀,表界面張力儀,白光干涉膜厚分析儀,陣列式紫外可見分光光度計,積分球式透反射率測試儀等。具備光學設計、機械設計、軟件編寫和算法編寫核心能力,和中山大學、廣州大學、華南師范大學有緊密的合作關系,并且是廣州大學物理與光電學院的長期實習基地。貝拓科學所研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)品定位在國內(nèi)高水平,未來面向市場。 貝拓科學陪伴著科學家一起探索未知事件,“Touch the future”作為我們的口號,貝拓科學尊重以嚴謹?shù)目茖W理論為指導,為科學家提供有力的科研工具。我們默默堅持做前沿分析儀器的搬運工,陪伴科學家不斷成長。我們很榮幸作為一些有儀器生產(chǎn)廠家,例如:日本Hitachi,德國WITec,德國Bruker,英國OXFORD,美國ThermoFisher,Ametek旗下輸力強和普林斯頓,以及中國臺灣OtO等大電子儀器廠家的代理,一起為中國的科學家提供專業(yè)的服務。  我們的宗旨是為科學學提供更專業(yè),更貼心的服務?! ∥覀兊膬?yōu)勢和專注點集中于材料測試方面,為了普惠科研工作者,我們還提供測試服務,其中包括材料的結構、元素分布、表面特征、物理化學特性以及光學、電學特性的分析。 材料分析領域代理品牌: OXFORD(牛津)、FEI(賽默飛)、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI(日立)、OTO(中國臺灣超微光學)、WITec(威泰克)、BRUKER(布魯克)、普析、徠卡、本原納米等。 同時,我們也關注生命與健康領域,提供生化、合成實驗室需要的儀器,如:單細胞分析儀、臺式NMR,冷凍干燥機、高速離心機、旋轉蒸發(fā)儀、肉類快速分析儀、凝膠照膠機、機械泵等。 生化分析領域代理品牌: Witec、OTO、Thermo Fisher、ATS、OXFORD、MPW、Steroglass、Chipron、PIE、Edward等。
      貝拓科學在線測厚儀TF200-VIS探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光,用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm,可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜,還可以測量n和k值。
      貝拓科學在線測厚儀TF200-VIS 產(chǎn)品信息

      產(chǎn)品介紹

      價格區(qū)間面議

      貝拓科學在線測厚儀TF200-VIS

      儀器介紹   

          TF200薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學原理,對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光,用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm,可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜,還可以測量n和k值。

       

      貝拓科學在線測厚儀TF200-VIS

      產(chǎn)品特點

      快速、準確、無損、靈活、易用、性價比高

       

       

      應用領域

      半導體(SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS,SOI等)

      LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亞酰胺ITO等)

      LED (SiO2、光刻膠ITO等)

      觸摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率測試等)

      汽車(防霧層、Hard Coating DLC等)

      醫(yī)學(聚對二甲苯涂層球囊/壁厚藥膜等)

       

      技術參數(shù)

      型號

      TF200-VIS

      TF200-EXR

      TF200-DUV

      TF200-XNIR

      波長范圍

      380-1050nm

      380-1700nm

      190-1100nm

      900-1700nm

      厚度范圍

      50nm-40um

      50nm-300um

      1nm-30um

      10um-3mm

      準確度1

      2nm

      2nm

      1nm

      10nm

      精度

      0.2nm

      0.2nm

      0.2nm

      3nm

      入射角

      90℃

      90℃

      90℃

      90℃

      樣品材料

      透明或半透明

      透明或半透明

      透明或半透明

      透明或半透明

      測量模式

      反射/透射

      反射/透射

      反射/透射

      反射/透射

      光斑尺寸2

      2mm

      2mm

      2mm

      2mm

      是否能在線

      掃描選擇

      XY可選

      XY可選

      XY可選

      XY可選

      注:1.取決于材料0.4%或2nm之間取較大者。

             2.可選微光斑附件。

       

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