智能制造網(wǎng)>產(chǎn)品庫>儀器儀表>物性測試儀器>熱分析儀器>>TF-LFA 薄膜激光導(dǎo)熱儀 ——可測80nm——20μm 薄膜熱物理...

TF-LFA 薄膜激光導(dǎo)熱儀 ——可測80nm——20μm 薄膜熱物理性質(zhì)

參考價(jià)	面議

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱林賽斯（上海）儀器設(shè)備有限公司
品牌
型號
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2022/10/13 11:34:57
訪問次數(shù)268

產(chǎn)品標(biāo)簽:

在線詢價(jià)收藏產(chǎn)品點(diǎn)擊查看電話

聯(lián)系我們時(shí)請說明是智能制造網(wǎng) 上看到的信息，謝謝!

索取相關(guān)資料

公司介紹主營產(chǎn)品

德國LINSEIS公司是專業(yè)的熱分析儀器制造商，總部位于德國巴伐利亞州澤爾布。自1957年成立至今，德國LINSEIS一直致力于研發(fā)生產(chǎn)熱分析及熱物性設(shè)備，為廣大用戶提供熱分析領(lǐng)域解決方案。

林賽斯（上海）科學(xué)儀器有限公司是LINSEIS所設(shè)中國分公司，主要服務(wù)于廣大中國區(qū)用戶，提供LINSEIS熱分析儀器售前、銷售及售后全方面服務(wù)。為更好的響應(yīng)客戶需求，目前在北京、上海、香港均設(shè)有服務(wù)機(jī)構(gòu)，已形成了立足京滬、橫跨南北、覆蓋全國的服務(wù)體系。位于北京的應(yīng)用實(shí)驗(yàn)室，及與高校研究院成立的聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室均能更進(jìn)一步與廣大用戶共同探討熱分析應(yīng)用方面的解決方案。

LINSEIS除了提供全線熱分析標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（差示掃描量熱儀、熱天平、同步熱分析儀、熱膨脹儀、熱膨脹相變儀、熱機(jī)械分析儀、導(dǎo)熱測試儀、激光導(dǎo)熱儀、熱電材料測試儀、塞貝克/電阻分析儀、熱界面材料測量系統(tǒng)、熱質(zhì)聯(lián)用儀等），還提供為客戶量身定制的熱分析測量設(shè)備。LINSEIS寬廣的測量響應(yīng)條件（-263 至 2800℃，350bar）可廣泛應(yīng)用于聚合物、化工、金屬/合金、陶瓷/玻璃/建材、熱電材料、核工業(yè)、航空航天等領(lǐng)域。

展開顯示更多內(nèi)容

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

材料的熱物理性質(zhì)以及最終產(chǎn)品的傳熱優(yōu)化在工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域變得越來越重要。

TF-LFA 薄膜激光導(dǎo)熱儀 ——可測80nm——20μm 薄膜熱物理性質(zhì) 產(chǎn)品信息

材料的熱物理性質(zhì)以及最終產(chǎn)品的傳熱優(yōu)化在工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域變得越來越重要。

??經(jīng)過幾十年的發(fā)展，閃射法已經(jīng)成為常用的用于各種固體、粉末和液體熱導(dǎo)率、熱擴(kuò)散系數(shù)的測量方法。

薄膜熱物性在工業(yè)產(chǎn)品中正變得越來越重要，如：相變光盤介質(zhì)、熱電材料、發(fā)光二極管（LED ），相變存儲器、平板顯示器以及各種半導(dǎo)體。在這些工業(yè)領(lǐng)域中，特定功能沉積膜生長在基底上以實(shí)現(xiàn)器件的特殊功能。由于薄膜的物理性質(zhì)與塊體材料不同，在許多應(yīng)用中需要專門測定薄膜的參數(shù)。

??基于已實(shí)現(xiàn)的激光閃射技術(shù)，LINSEIS TF-LFA 薄膜導(dǎo)熱測試儀(Laserflash for thin films)可以測量80nm——20μm厚度薄膜的熱物理性質(zhì)。

1.瞬態(tài)熱反射法（后加熱前檢測（RF））:

由于薄膜材料的物理性質(zhì)與基體材料顯著不同，必需要有相應(yīng)的技術(shù)來克服傳統(tǒng)激光閃射法的不足，即瞬態(tài)熱閃射法。

? 測量模型與傳統(tǒng)激光閃射法相同：檢測器和激光器在樣品兩側(cè)?？紤]到紅外探測器測試薄膜太慢，因此檢測是通過熱反射方法完成的。該技術(shù)的原理是材料在加熱時(shí)，表面反射率的變化可最終用于推導(dǎo)出熱性能。測量反射率隨時(shí)間的變化，得到的數(shù)據(jù)代入包含的系數(shù)模型里面并快速計(jì)算出熱性能。

2. 時(shí)域熱反射法（前加熱前檢測（FF））:

時(shí)域熱反射技術(shù)是另一種測試薄層或薄膜熱性能（熱導(dǎo)率，熱擴(kuò)散率）的方法。測量方式的幾何構(gòu)造被稱為“前加熱前檢測（FF）”，因?yàn)闄z測器和激光在樣品上的同一側(cè)。該方法可以應(yīng)用于非透明基板上不適合使用RF技術(shù)的薄膜層。

3. 瞬態(tài)熱反射法（RF）和時(shí)域熱反射法（FF）相結(jié)合:

兩種方法可以集成在一個(gè)系統(tǒng)中并實(shí)現(xiàn)兩者優(yōu)點(diǎn)的結(jié)合。

型號	TF-LFA
溫度范圍	RT RT 至 500℃ -100℃ 至 500℃
加熱速率	0.01 至 10 K/min
激光器	Nd:YAG Laser
脈沖電流	90 mJ/Implus（軟件控制）
脈寬	8ns
激光探頭	CW DPSS-Laser (473 nm), 50 mW
感光器	Si-PIN-Photodiode，有效直徑：0.8mm，直流電壓…400MHz，響應(yīng)時(shí)間：1ns
測量范圍	0.01 mm²/s 至1000 mm²/s
樣品直徑	圓形樣品 ∅ 10 至 20 mm
樣品厚度	80 nm 至 20 µm
氣氛	還原，氧化，惰性
真空度	高至 10 E^-4mbar

所有的LINSEIS熱分析設(shè)備都是用計(jì)算機(jī)控制的，各個(gè)軟件模塊僅在Microsoft® Windows®操作系統(tǒng)上運(yùn)行。完整的軟件包括3個(gè)模塊：溫度控制，數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)分析。與其他熱分析系統(tǒng)一樣，該32位Linseis軟件可以實(shí)現(xiàn)所有測量準(zhǔn)備、實(shí)施和評估的基本功能。