微孔bet比表面積分析儀

    JW-BK200C研究級超高性能雙站比表面及微孔孔隙度分析儀，*繼承JW系列孔徑分析儀所有技術(shù)特點，自主創(chuàng)新。該款儀器核心硬件全部采用品牌，配備有“渦輪分子泵”及1torr小量程壓力傳感器，配合微孔分析模型的準確應(yīng)用，*實現(xiàn)了微孔的精確分析，氮吸附微孔 小孔徑實際可測達0.35nm，測試結(jié)果準確性、精確性、穩(wěn)定性*達到進口同類儀器水平，性價比，非常適合活性炭、活性氧化鋁、分子篩、沸石、MOF材料等超微孔納米粉體材料的研究。 

微孔bet比表面積分析儀性能參數(shù)：

儀器型號：JW-BK200C 微孔bet比表面積分析儀

原理方法：靜態(tài)容量法，低溫氮吸附；

測試功能：等溫吸脫附曲線；單點、多點BET比表面積；Langmuir比表面積；外表面積（STSA）；吸附總孔體積、平均孔徑；BJH介孔大孔孔容積及孔徑分布分析；t-plot法、αs- plot法、DR法、MP法微孔常規(guī)分析；HK法、SF法微孔精確分析；NLDFT法孔徑分布分析；真密度測試；氣體吸附量、吸附熱測試；質(zhì)量輸入法測試；

測試氣體：氮、氧、氫、氬、氪、二氧化碳、甲烷等；

測試范圍：比表面0.0005m2/g至無上限，孔徑3.5 nm-5000 nm； 

          孔體積測試范圍:0.0001cc/g至無上限；

重復(fù)精度：比表面積≤± 1.0%，孔徑≤0.2 nm；

測試效率：比表面積平均每樣15min；介孔、大孔分析平均每樣2-3小時；微孔分析平均每樣5-8小時；

分析站：2個*獨立微孔分析站，雙站可同時進行測試；

P0位：2個*獨立P0站；

升降系統(tǒng)：2個樣品分析站原位設(shè)有2套獨立的升降系統(tǒng)，電動控制、自動控制，且互不干擾；

真空系統(tǒng)：多通路并聯(lián)抽真空系統(tǒng)，集裝式模塊化設(shè)計，真空抽速微調(diào)閥系統(tǒng)技術(shù)，可在2-200ml/s范圍內(nèi)自動調(diào)節(jié)；

真空泵：外置式進口雙級旋片式機械真空泵（自動防返油）+ 內(nèi)置式進口渦輪分子泵，極限真空度可達10^-6Pa；

脫氣系統(tǒng)：同位、異位真空脫氣預(yù)處理系統(tǒng)標準化設(shè)計，由單獨的進口壓力傳感器控制，*同分析位分開，可實時、準確測量脫氣系統(tǒng)的真空度：2個獨立加熱包，2套獨立溫控表，均可程序升溫控制，升溫階數(shù)多達10階，既可進行樣品的同位脫氣處理，也可進行樣品的異位脫氣處理；2個樣品進行分析測試的同時，可以進行另外兩個樣品的真空脫氣處理；

脫氣溫度：室溫—400℃，精度±1℃；

壓力傳感：，1000torr、10torr、1torr，精度≤± 0.15％（讀值）；

分壓范圍：P/P0 10^-8 - 0.998； 

壓力控制：平衡壓力智能控制法，壓力可控間隔＜0.1KPa，吸附 高壓力點可自動控制；

數(shù)據(jù)采集：以太網(wǎng)數(shù)據(jù)采集，采集速度快、精度高，兼容Windows 7/XP 32/64位系統(tǒng)；

微孔bet比表面積分析儀技術(shù)特點：

●*獨立雙站并列分析，可同時進行兩個樣品的孔徑分析，及兩個樣品的脫氣處理，測試效率高； 
●儀器設(shè)有兩個異位脫氣站，分析站同時具有同位脫氣功能，人性化設(shè)計； 高脫氣溫度400℃； 
●雙站多點BET比表面測試，30分鐘內(nèi)可自動完成； 
●采用液氮面控制綜合系統(tǒng)及軟件補償技術(shù)，確保整個測試過程中樣品室非均勻溫度場相對恒定，以確保分析的準確性，適合液氮、液氬、冰水等各種冷?。?/span> 
●引進恒溫夾技術(shù)，配備3L大容量真空玻璃內(nèi)膽杜瓦瓶及防液氮揮發(fā)單元，保證實驗可持續(xù)進行72小時； 
●自控可調(diào)式多通路并聯(lián)抽真空系統(tǒng)，內(nèi)置式防飛濺單元，及“階梯式”防飛濺程序，有效防止超細微粉抽飛，*避免儀器受到污染； 
●渦輪分子泵，及機械真空泵聯(lián)合使用，分析站、脫氣站極限壓力高達10-8，0.35nm-0.7nm超微孔分析； 
●1000torr、10torr、1torr（可升級為0.1torr）不同量程三段壓力傳感聯(lián)合使用，壓力數(shù)據(jù)采集精度高、誤差小，微孔精確分析； 
●介孔微孔實驗過程中氮氣飽和蒸汽壓P0*實時測試，同分析站并列進行；同時可采用大氣壓輸入法測P0； 
●樣品脫氣系統(tǒng)設(shè)有冷阱裝置，可以有效去除樣品脫氣可能揮發(fā)出的水分、有害物質(zhì)等雜質(zhì)，避免真空系統(tǒng)受污染； 
●儀器控制面板設(shè)有閥位控制指示燈，實驗者能更直觀清晰可見控制閥工作狀態(tài)，人性化設(shè)計； 
●非定域密度函數(shù)理論NLDFT分析模型標準配置，達到水平； 
●HK、SF微孔分析模型應(yīng)用準確，微孔分析技術(shù)國內(nèi) 一家通過中國計量認證； 
●平衡壓力智能控制技術(shù)，樣品吸/脫附平衡壓力自動判斷及數(shù)據(jù)采集，等溫吸脫附曲線測定的控制精度達到水平； 
●以太網(wǎng)數(shù)據(jù)采集及處理軟件，引導(dǎo)式操作，一套軟件可同時控制多臺儀器，可遠程控制； 

微孔bet比表面積分析儀應(yīng)用領(lǐng)域：

●催化劑材料：活性氧化鋁、分子篩、沸石等； 
●環(huán)保領(lǐng)域：活性炭等吸附劑； 
●納米材料：納米陶瓷粉體（氧化鋁、氧化鋯、氧化釔、氮化硅、 碳化硅等）、納米金屬粉體（銀粉、鐵粉、銅粉、鎢粉、鎳粉 等）、納米高分子材料、碳納米管等； 
●煤礦行業(yè)：煤、礦石、巖石、頁巖氣、煤層氣等； 
●其他材料：超細纖維、多孔織物、復(fù)合材料等。 

微孔bet比表面積分析儀技術(shù)小貼士：

　　比表面積分析實用技術(shù)介紹：

　　氣體吸附法比表面積及孔徑分布（孔隙度）測試中，有幾個因素對測試過程和結(jié)果會產(chǎn)生非常重要的影響。對測試結(jié)果的有效分析需考慮這些因素。這些因素包括：樣品處理條件，吸附質(zhì)氣體特性，測試方法的不同等，以下分別進行詳細介紹。

　　樣品處理條件

　　由于比表面積和孔隙度的測定與顆粒的外表面密切相關(guān)，且吸附法測定的關(guān)鍵是吸附質(zhì)氣體分子“有效地”吸附在被測顆粒的表面或填充在孔隙中，因此樣品顆粒表面的是否“潔凈”至關(guān)重要。樣品處理的目的主要是讓被非吸附質(zhì)分子占據(jù)的表面盡可能地被釋放出來，以便測試過程中有利于吸附質(zhì)分子的表面吸附，一般的樣品測定前都需進行預(yù)處理，處理的方法依測定的樣品特性進行選擇。一般情況下，大多數(shù)樣品需要去除的是其表面吸附的水分子，因此高于100℃（一般取105℃-120℃）常壓下的烘干即可達到此目的，這樣有利于簡化操作流程。對于含微孔類的或吸附特性很強的樣品，常溫常壓下就很容易吸附雜質(zhì)分子，或是在制造過程中導(dǎo)致其表面吸附很多其它分子，通常情況下有必要在真空條件下進行脫氣處理，有時還必須在預(yù)處理過程中通入惰性保護氣氛，以利于樣品表面雜質(zhì)的脫附?？傊?，樣品預(yù)處理的目的是使樣品表面變得潔凈，以確保比表面積及孔徑（孔隙度）測量結(jié)果的準確有效。

　　吸附質(zhì)氣體特性

　　氣體吸附法比表面積及孔徑分布分析測試中，對吸附質(zhì)氣體 基本要求是其化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定，被吸附過程中不會對樣品本身的性能和表面吸附特性產(chǎn)生任何影響，且必須是可逆的物理吸附。氮氣是 常用的吸附質(zhì)，實踐表明，絕大多數(shù)物質(zhì)的測定選擇氮氣作為吸附質(zhì)，測試的結(jié)果準確性和重復(fù)性都很理想。對于含有微孔類的樣品，若微孔尺度非常小，基本接近氮氣分子的直徑時，一方面氮氣的分子很難或根本無法進入微孔內(nèi)，導(dǎo)致吸附不*；另一方面，氣體分子在與其直徑相當?shù)目變?nèi)吸附特性非常復(fù)雜，受很多額外因素影響，因此吸附量大小不能*反應(yīng)樣品表面積的大小。對于這類樣品，一般采用分子直徑更小的氬氣或氪氣來作為吸附質(zhì)，以利于樣品的吸附和保證測試結(jié)果的有效性。

　　測試方法因素

　　不同的測試方法對測試結(jié)果也會有很大的影響，不同的測試方法有著各自的優(yōu)缺點。連續(xù)流動法中，由于采用的是“對比”的原理，相比容量法，能有效降低樣品處理對測試結(jié)果的影響。通過對比的方法，在某種程度上，標準樣品和被測樣品由于處理的不完善導(dǎo)致的誤差可以抵消掉，前提是兩種樣品的表面結(jié)構(gòu)和吸附特性相近似，處理條件相同。這對于用于產(chǎn)品質(zhì)量現(xiàn)場控制目的的檢測非常有價值，減少樣品處理時間，可以大大提高檢測效率。如果用同樣的物質(zhì)作為標準樣品和被測樣品，由于表面結(jié)構(gòu)和吸附特性近似，比表面積測試結(jié)果就會對樣品處理條件不敏感，換句話說就是誤差被抵消掉。因此連續(xù)流動法非常適合產(chǎn)品質(zhì)量現(xiàn)場檢測。相反，容量法可以說對樣品處理非常敏感，因其采用的是 的吸附量測定原理，任何的表面不潔凈或其它影響吸附質(zhì)吸附過程的因素都會對測定結(jié)果產(chǎn)品直接的影響。