特性: | ||
1 本設(shè)備能連續(xù)自動(dòng)測(cè)試薄膜電容的八個(gè)參數(shù):低電平開(kāi)路(C0)、10KHz(D10)直流耐壓(DCTV)、交流耐壓(ACTV)、絕緣電阻(IR)、100KHz損耗(D100)、1KHz損耗(D1)和容量分選(△C),并自動(dòng)分檔。 | ||
2 本設(shè)備采用PLC控制,觸摸屏操作,速度采用變頻控制器連續(xù)可調(diào)。 | ||
3 本設(shè)備采用進(jìn)口分割器控制、停止測(cè)試,采用四端測(cè)量的測(cè)試方式使測(cè)試精度相對(duì)提高。 | ||
主要技術(shù)指標(biāo): | | |
1.試驗(yàn)檢出RT沒(méi)有容量的產(chǎn)品自動(dòng)除去。 | ||
2.SH檢出:測(cè)試電壓在DC1.5V時(shí),阻值小于2KΩ判定為不良及排除 | ||
3.低電平開(kāi)路:C0(TH2817A)10KHZ頻率下,測(cè)量其損耗值,超過(guò)設(shè)定值為不良及排除 | ||
4.AC耐壓測(cè)試: | a、6級(jí)獨(dú)立AC耐壓測(cè)試,在設(shè)定電壓下,超過(guò)設(shè)定電流為不良及排除。設(shè)定電壓為0-2KV,電流為0.1mA-1999mA。 | |
b、此耐壓測(cè)試為有產(chǎn)品在端子上,通過(guò)SSR控制,有電壓加上,如沒(méi)有產(chǎn)品,此端子沒(méi)有電壓。 | ||
5.直流耐壓測(cè)試: | 測(cè)試電壓為DC200V-5000V,測(cè)試設(shè)定電流為1mA,10mA,如超過(guò)設(shè)定值為不良。 | |
6.IR絕緣測(cè)試: | a、測(cè)試電壓為DC50V,100V,250V,500V。 b、測(cè)定范圍在1.00MΩ-199.9GΩ,低于設(shè)定值為不良。 | |
7.100KH測(cè)試(TH2817A):在100KHZ狀態(tài)下,測(cè)試其tgδ值,超過(guò)此值為不良 | ||
8.1KHZ測(cè)試容量損耗(TH2817A):在1KHZ狀態(tài)下測(cè)試C1,C2,D2。 |