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      產(chǎn)品|公司|采購|資訊
      
 
      
        	
            
        
      
			
      
	
      
	
      

		
      
		 	
		 
      
		
      
				
			
      
				
      超高分辨掃描電鏡-聚焦離子束飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜聯(lián)用儀
      
							    
				
      
								
      
					
      
														
      參考價(jià)面議
      
												
      
					
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      
				
      
				                  
      
								
      
					
        
						
      • 公司名稱束倫（上海）技術(shù)服務(wù)有限公司
						
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      • 品       牌
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      • 型       號(hào)GAIA3GMUMo
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      • 所  在  地
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      • 廠商性質(zhì)其他
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      • 更新時(shí)間2022/9/20 14:47:31
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      • 訪問次數(shù)266
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					產(chǎn)品標(biāo)簽:
										
      
					
				
      
								
      
					在線詢價(jià)收藏產(chǎn)品
					
					 					 
					點(diǎn)擊查看電話
										
					
					                     
                    					
      聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是 智能制造網(wǎng) 上看到的信息，謝謝!
      
				
      
					
			
      
			
      
		
      
  
		
      
			
      
				
				
				
				
      
					
				
      
							   			
							
				
      
				
      
			        
      
    	             			        
      
				
      
				
      
  				 
					性能指標(biāo)SEM分辨率：0
				
      
				
      
				
      
                
                
                
                
      
				
      
				
      
					
      
						超高分辨掃描電鏡-聚焦離子束飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜聯(lián)用儀 產(chǎn)品信息
					
      
					
      
						         
      性能指標(biāo)
       
         
      1. SEM分辨率： 0.7nm @ 15kV(COF)、1.0nm @ 15kV 1.0nm @ 1kV(COF)、1.4nm @ 1kV 
        2.  
      2. FIB分辨率：2.5nm @ 30kV FIB束流：1pA～50nA 
        3.  
      3. 探測器： 樣品室和鏡筒內(nèi)二次電子探測器 樣品室和鏡筒內(nèi)背散射電子探測器 
        4.  
      4. 質(zhì)譜質(zhì)量分辨率：>800 
        5.  
      5. 質(zhì)譜探測極限：3ppm 
        6.  
      6. 質(zhì)譜空間分辨率：40nm(水平方向) 3nm(深度方向) 
        7.  
      7.  附件：能譜儀(EDS)、EBSD 
        8.  
       
       
      主要應(yīng)用
       
       
         
      1. 該設(shè)備在雙束電鏡(SEM/FIB)的基礎(chǔ)上配備了EDS和EBSD，同時(shí)還集成了一體化的TOF-SIMS。
        2.  
      2. 該設(shè)備不但能進(jìn)行低電壓超高分辨的電鏡觀察；也能利用FIB對(duì)試樣進(jìn)行切割、加工、沉積，從事內(nèi)部和截面觀察及特定圖形加工工作。 
        3.  
      3.  TOF-SIMS可以進(jìn)行高空間分辨的質(zhì)譜分析，可對(duì)包含H、Li等傳統(tǒng)EDS無法分析的全元素以及同位素進(jìn)行分布分析。 
        4.  
       
       
      樣品要求
       
         
      1. 送檢樣品必須為干燥固體、塊狀、片狀、纖維狀及粉末狀均可。
        2.  
      2. 應(yīng)有一定的化學(xué)、物理穩(wěn)定性，在真空中及電子束轟擊下不會(huì)揮發(fā)或變形；無磁性、放射性和腐蝕性。
        3.  
      3. 含水分較多的生物軟組織的樣品制備，要求用戶自己進(jìn)行臨界點(diǎn)干燥之前的固定、清洗、脫水及用醋酸（異）戊酯置換等處理，最后由本室進(jìn)行臨界點(diǎn)干燥處理。
        4.  
      4. 觀察圖像樣品應(yīng)預(yù)先噴金膜。
        5.  
      5. 一般情況下，樣品盡量小塊些（≤10x10x5mm較方便）。
        6.  
      6. 粉末樣品每個(gè)需1克左右。納米樣品一般需超聲波分散，并鍍鉑金膜。
        7.  
       
       
      儀器說明
       
         
      1. 超高分辨率的電鏡適合多種試樣的極限觀察；
        2.  
      2. 超高分辨率的FIB可以進(jìn)行精確的試樣加工，尤適合制備定區(qū)域TEM薄片；
        3.  
      3. TOF-SIMS有著遠(yuǎn)勝于EDS的空間分辨率；
        4.  
      4. 元素深度剖析有著非常高的Z方向分辨率，非常適合薄膜分析；
        5.  
      5. 具有ppm級(jí)的探測靈敏度；
        6.  
      6. 可進(jìn)行同位素分析。 
        7.  
           
					
      

										
      關(guān)鍵詞：探測器 能譜儀 
      
									
      
			
      
			
			
      
		
      
						
      
			
      
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