產(chǎn)品名稱:全自動Χ光沉降粒度儀
產(chǎn)品型號:ediGraph Ⅲ Plus
產(chǎn)品簡介:產(chǎn)品簡介新一代的粒度儀將成熟的SediGraph分析技術(shù)與*的檢測儀器功能相結(jié)合,提供的重復(fù)性、準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性。 SediGraph III粒度儀通過X射線吸收測量樣品質(zhì)量,利用國際標(biāo)準(zhǔn)的沉降法測量粒度,無需建模。該產(chǎn)品的技術(shù)已成為造紙、陶瓷、磨料等數(shù)個(gè)行業(yè)的金色標(biāo)準(zhǔn)。
產(chǎn)品簡介
新一代的粒度儀將成熟的SediGraph分析技術(shù)與*的檢測儀器功能相結(jié)合,提供的重復(fù)性、準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性。 SediGraph III粒度儀通過X射線吸收測量樣品質(zhì)量,利用國際標(biāo)準(zhǔn)的沉降法測量粒度,無需建模。該產(chǎn)品的技術(shù)已成為造紙、陶瓷、磨料等數(shù)個(gè)行業(yè)的金色標(biāo)準(zhǔn)。
SediGraph粒度儀使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降,即可以運(yùn)用Stokes方程來計(jì)算顆粒的等效球直徑。在這種情況下,報(bào)告中的粒徑就是與測試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑。
技術(shù)特點(diǎn)
· 粒度儀高精度X射線管,7年保修
·簡化的泵系統(tǒng),確??焖俜治霾⒁子诰S護(hù)
·低噪音,提供安靜的工作環(huán)境
·維護(hù)提醒裝置,根據(jù)已分析的樣品數(shù)自動提醒維護(hù)
·混合室溫度電腦控制,提高重復(fù)性與重現(xiàn)性
·多功能報(bào)告系統(tǒng)可提供包括顆粒沉降速度和粒度等多種數(shù)據(jù)顯示選項(xiàng)
·操作軟件可連接網(wǎng)絡(luò),提供點(diǎn)擊選擇、網(wǎng)絡(luò)化、打印機(jī)選擇、剪切和粘貼等功能
·SediGraph粒度儀*符合ASTM B761-06(2011)、ASTM C958-92(2007)、ISO 13317-1:2001、ISO 13317-3:2001等國際標(biāo)準(zhǔn)
產(chǎn)品應(yīng)用
SediGraph粒度儀適合于各種無機(jī)材料顆粒大小的分析研究尤其是非金屬礦物,例如:高嶺土、重鈣、輕鈣、粘土、泥漿等材料的分析,是高嶺土,重鈣,輕鈣粒徑的標(biāo)準(zhǔn)分析儀器。