布魯克HB NANOSTAR高亮度納米星小角X射線散射儀
— High End Instrument to Cover All the Applications

小角X射線散射技術(shù)(SAXS)主要用于研究材料的納米結(jié)構(gòu)。傳統(tǒng)的X射線衍射技術(shù)(XRD)常用來表征納米以下尺寸的有序結(jié)構(gòu)。而在納米材料領(lǐng)域，幾十到上百納米的結(jié)構(gòu)是其研究的主要方向，而且測試的樣品從溶液、液晶、凝膠、金屬到聚合物固體等變化多端。其內(nèi)部納米結(jié)構(gòu)可能是周期性的，也可能是無規(guī)排列的，這已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了XRD能夠測試的尺度范圍和樣品種類，而這些恰恰是SAXS這種無損檢測技術(shù)所擅長的領(lǐng)域。因此SAXS是分析統(tǒng)計性納米結(jié)構(gòu)所必需的工具之一。

德國制造，*。NANOSTAR同步輻射式的設(shè)計理念、可選的多種高亮度點光源、無雜散準(zhǔn)直系統(tǒng)、全真空光路系統(tǒng)及其大面積的實時二維探測器使其可以覆蓋從液體到固體的多種應(yīng)用。其應(yīng)用領(lǐng)域包括溶膠、溶液、金屬（如上圖）、高分子（如上圖）、纖維、催化劑、蛋白質(zhì)（如上圖）等。不論是各向同性樣品還是各向異性樣品均可測試和分析。

此外，完備的一鍵式數(shù)據(jù)分析軟件也讓NANOSTAR的用戶體驗越來越。

可選的多種光源
從微焦斑封閉靶到微焦斑轉(zhuǎn)靶再到液態(tài)金屬靶， NANOSTAR為客戶提供了多種選擇，也使實驗室內(nèi)原位研究樣品的動態(tài)過程成為可能。

全真空光路系統(tǒng)
實驗的目標(biāo)是消除外來因素的影響得到*屬于樣品本身的散射信號，因此去除空氣散射勢在必行。NANOSTAR全真空光路設(shè)計將空氣散射的影響降到了低值。

大面積實時二維零背景無死區(qū)探測器
獲得“R&D100”大獎的第四代探測器V2000是大面積實時二維零背景無死區(qū)探測器。140mm的直徑可在任何測試位置覆蓋大的角度范圍。低像素尺寸提供了高空間分辨率。零背景的特點對弱散射信號非常靈敏，特別適合測試小角X射線散射的樣品。

NANOSTAR不僅僅是一臺二維小角X射線散射儀，還是一臺二維廣角X射線散射儀。

通過改變樣品到探測器之間的距離可以測試不同的角度范圍。