電子級硫酸又稱高純硫酸、超純硫酸,屬于超凈高純試劑,是一種微電子技術(shù)發(fā)展過程中的關鍵基礎化學試劑,主要用于硅晶片的清洗和蝕刻,可有效除去晶片上的雜質(zhì)顆粒、無機殘留物和碳沉積物。電子級硫酸的純度和潔凈度對電子元件的成品率、電性能及可靠性有著重要的影響。
從純度上來講,電子級和分析純的化學品,相對于普通化學品,其純度都很高,雜質(zhì)含量少,但是兩個屬于不同的標準體系,對雜質(zhì)的關注點不一樣。 電子級是對用于電子元器件生產(chǎn)過程中使用的化學品的一種泛指,相對于一般工業(yè),其純度要求更高,尤其是平板顯示行業(yè)或者半導體行業(yè)。其更每種化學品更中的有害雜質(zhì)含量,金屬離子,固體顆粒等等。用于半導體工業(yè)的電子級化學品純度一般比分析純的化學試劑更高,可參考SEMI相關化學品的標準。對于芯片生產(chǎn)過程來說,一般情況下,純度會在99.999%數(shù)量級,12寸芯片生產(chǎn)可能會用到99.999999999%純度的化學品。 分析純是化學試劑的一個純度標準,這個系列里包括 優(yōu)級純,分析純,化學純和實驗純。其中分析純干擾雜質(zhì)很少,適用于工業(yè)分析及化學實驗,比如用于滴定之類的分析。
在復雜的芯片生產(chǎn)工藝中,硫酸也是*的試劑。
硅圓片在加工過程中,常常會被不同的雜質(zhì)所沾污,硅圓片上不溶性固體顆?;蚪饘匐x子可能在微細電路之間導電,使之短路。鈉、鈣等堿金屬雜質(zhì)也會融進氧化膜中,導致耐絕緣電壓下降。硼、磷、砷等雜質(zhì)離子會影響擴散劑的擴散效果,塵埃顆粒會造成光刻缺陷,氧化層不平整,影響制版質(zhì)量和等離子蝕刻工藝。
為了獲得高質(zhì)量集成電路芯片,必須除去各種沾污物,這就需要使用非常純凈的化學試劑來清洗硅圓片。硫酸和過氧化氫可以按比例組成有強氧化性的SPM清洗液,將有機物氧化成CO2和H2O。它還可用于光刻過程中的濕法蝕刻去膠,借助于化學反應從硅圓片的表面除去固體物質(zhì),導致固體表面全部或局部溶解。
硫酸在此處的作用是消除晶圓上的各種雜質(zhì),那么其本身就肯定不能做為污染源再引入雜質(zhì),因此該工藝對于硫酸本身純凈度的要求也相當高。1975年,美國的半導體設備與材料協(xié)會(Semiconductor Equipment and Materials International,SEMI)首先為微電子工業(yè)配套的電子級化學品制定了統(tǒng)一標準(SEMI標準);1978年,德國的默克公司也制定了MOS標準。兩種標準對電子級化學品中金屬雜質(zhì)和微粒(塵埃)的要求各有側(cè)重,分別適用于不同級別IC的制作要求。
E-Scan系列電子級硫酸濃度在線分析儀采用臨界角檢測原理,檢測不受物料的顏色,渾濁度,氣泡,固體顆粒等雜質(zhì)的影響、具備高精度的自動溫度補償功能。采用優(yōu)秀的分體式體式,全屏蔽抗干擾設計,光電信號直接轉(zhuǎn)換處理。摒棄一體式不耐振動和高溫的影響的缺點,保障了在線測量的精度及延長儀器使用壽命。內(nèi)置光纖光路傳導系統(tǒng),擁有優(yōu)秀的抗震性能和高穩(wěn)定性、內(nèi)置溫度傳感器和干燥劑有效監(jiān)測糖度儀的運行狀態(tài)。
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