島津X射線衍射儀XRD-6100配備高精度垂直型測角儀，適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定。
X射線衍射分析方法可實現(xiàn)無損的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰強度,衍射峰線形等信息可以進行材料晶體結(jié)構(gòu)的表征,如:點陣常數(shù)的精 密測定,晶粒尺寸和微觀應變計算,宏觀殘余應力測定,結(jié)晶度計算等;X射線衍射分析方法是材料微觀結(jié)構(gòu)表征常規(guī)和較有 效的方法之一。
Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結(jié)晶度/精 密Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。
LabX XRD-6100配備高精度垂直型測角儀，適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定。

XRD-6100具有本質(zhì)安 全結(jié)構(gòu)。
只有門連鎖機構(gòu)閉鎖時，X射線管才能開啟，具備高安 全性。
配備高速運轉(zhuǎn)（1000°/min）及高精度角度重 現(xiàn)性（±0.0001°）的垂直型測角儀，可進行各種樣品的測定。
驅(qū)動機構(gòu)為獨 立2軸驅(qū)動，可選擇θ-2θ聯(lián)動或θ、2θ軸獨 立驅(qū)動，特別對薄膜測定行之有 效。
備有豐富的附件（軟件/硬件）來滿足多種需要。
對應工業(yè)環(huán)境測定標準/工業(yè)環(huán)境評價標準修訂
X射線衍射儀XRD-6100 環(huán)境測定包
適合工業(yè)環(huán)境中的游離硅及石棉的定性/定量分析。