美國(guó)TSI 3330光學(xué)顆粒物粒徑譜儀 產(chǎn)品特點(diǎn):
· 0.5微米時(shí)粒徑分辨率小于5%
· 粒徑通道用戶(hù)可調(diào)
· 檢測(cè)粒徑范圍:0.3-10微米,最多16通道
· 顆粒物粒徑感應(yīng)范圍:0.5至25mm
· 檢測(cè)濃度范圍:0-3000 個(gè)/cm3
· 彩色觸摸屏,直觀的用戶(hù)界面
· *ISO 21501-01/04要求
· 輸入折射率和密度可以同時(shí)顯示顆粒物數(shù)濃度和質(zhì)量濃度
· 收集的采樣膜可進(jìn)行稱(chēng)重測(cè)量和化學(xué)分析
· 電池電量可供20小時(shí)的操作
· 最多可存儲(chǔ)30000個(gè)數(shù)據(jù)
· 記錄每個(gè)樣品的溫度和壓力
美國(guó)TSI 3330光學(xué)顆粒物粒徑譜儀 技術(shù)參數(shù)
測(cè)量原則 :
120°光散射和濾膜采樣
濃度限制:
3,000個(gè)/cm3 (3,000,000個(gè)/L)
質(zhì)量濃度 :
0.001-275,000 mg/m3
顆粒物粒徑:
檢測(cè)粒徑范圍:0.3-10 mm
粒徑分辨率:0.5mm時(shí)5%(符合ISO 21501-01/04)
粒徑通道 :最多16通道,用戶(hù)可調(diào)