艙內(nèi)體積:0.4m3-5m3 (規(guī)格可定制)
主要技術(shù)參數(shù):
1、溫度范圍:-70℃~+150℃;
2、溫度波動度:0.5℃;
3、溫度偏差:±1.5℃;
4、溫度均勻度:2.0℃
1.0℃(溫度≤70℃,濕度≥90%RH時)
1.0℃(溫度>70℃,濕度≥80%RH時);
5、溫度變化速率:≥5℃/min(負載因需求而定,-40~+85℃,全程平均,入風區(qū)控制點測量);
6、濕度范圍:(20~98)%RH;
7、相對濕度偏差:±3.0%RH(濕度>75%RH時),±5.0%RH(濕度≤75%RH時);
8、箱體安裝防爆泄壓裝置;
主要系統(tǒng)構(gòu)成:
送分循環(huán)系統(tǒng),加熱系統(tǒng),冷凍系統(tǒng),電路控制系統(tǒng),安全保護系統(tǒng)等
使用環(huán)境條件:
溫度:0~35℃
大氣壓:86~106Kpa
相對濕度:≤85%RH
周圍無強烈振動,無陽光直接照射或其它熱源直接輻射,無強烈電磁場影響,無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì),場地通風良好。
滿足標準:
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變試驗
GB/T 2423.22-2012 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化
GB/T 10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設備
備注:上述參數(shù)為常規(guī)技術(shù)參數(shù),可根據(jù)客戶需要調(diào)整產(chǎn)品性能參數(shù);如需要詳細產(chǎn)品資料歡迎銷售部索取,