SOC710 SWIR 短波紅外高光譜成像儀是原型號SOC720的升級版，更輕便、快捷、精確；是一款高質(zhì)量、高性能的科研級高光譜成像儀，光譜范圍900~1700nm。具有的高光譜分辨率 (2.75nm)， 成像分光計(jì)和高靈敏度的制冷型InGaAs 陣列檢測器，使得SOC710 SWIR能夠以16bit的數(shù)字分辨率同時收集640*568像素、288個波段的高光譜信息。其的性能及成像質(zhì)量，在同類產(chǎn)品中無出其右。

SOC公司具有40余年高光譜成像研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，具有多項(xiàng)高光譜成像領(lǐng)域。SOC還與美國NASA及長期合作，并參與了多款太空望遠(yuǎn)鏡的光學(xué)模塊研發(fā)工作。

SOC710 SWIR為一體式設(shè)計(jì)，集成度高，開箱之后即可使用；具備內(nèi)置平移推掃裝置，不需另配掃描臺，即可任意方向或直接垂直向下掃描；掃描速度與積分時間自動匹配。*的內(nèi)置掃描和雙CCD設(shè)計(jì)，可以直接預(yù)覽待測區(qū)域圖像，內(nèi)置平移式平移推掃設(shè)計(jì)成功地解決了外置掃描方式無法避免的圖像畸變問題。真正的所見即所得！自動暗電流，自動匹配積分時間，預(yù)覽圖像自動提示曝光飽和，自動存儲；可按預(yù)設(shè)的測量間隔長期無人值守全自動監(jiān)測。系統(tǒng)采用SOC的HyperScanner 操作軟件和SRAnal710™校準(zhǔn)和分析工具進(jìn)行標(biāo)定和數(shù)據(jù)處理。SOC處理器以的測量速度快速獲取光譜數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)以開放的BIL二進(jìn)制格式保存，可以兼容ENVI等第三方數(shù)據(jù)分析軟件，適應(yīng)多種研究應(yīng)用。嚴(yán)格NIST可溯源校準(zhǔn)，數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠。

農(nóng)業(yè)領(lǐng)域

- 精準(zhǔn)農(nóng)業(yè)

- 土地分類

- 水分脅迫

- 作物健康

- 種子品質(zhì)

遙感科學(xué)

- 環(huán)境遙感

- 資源勘察

醫(yī)學(xué)領(lǐng)域

- 病變組織分析

- 血糖分析

- X線斷層攝影術(shù)

溫度測量

- 火點(diǎn)監(jiān)測

- 玻璃檢測

- 燃燒分析

--溫度分布

國防安全

- 識別

- 邊境安全

機(jī)械視覺

- 電子學(xué)和塑膠

- 晶片檢查

- 食品藥品

- 化學(xué)過程控制

技術(shù)參數(shù)：

產(chǎn)地：美國