TrackScan-P30可搭配便攜式CMM測(cè)量光筆T-Probe,可精準(zhǔn)獲取工件縫隙、孔位、凹槽等復(fù)雜處的高精密點(diǎn)云數(shù)據(jù)。還可以提供開(kāi)發(fā)接口,與機(jī)器人協(xié)同工作,實(shí)現(xiàn)智能在線批量自動(dòng)化三維檢測(cè)。
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無(wú)需貼點(diǎn) 智能追蹤基于智能光學(xué)跟蹤測(cè)量技術(shù),TrackScan-P30跟蹤式三維掃描系統(tǒng)無(wú)需貼點(diǎn),即刻掃描,大幅提升工作效率、降低人力物力成本 | 快速高效 無(wú)懼細(xì)節(jié)22束交叉藍(lán)色激光超快掃描,掃描速度1,200,000次測(cè)量/秒,7束平行藍(lán)色激光精細(xì)掃描,細(xì)節(jié),單束藍(lán)色激光掃描,迅速獲取深孔及死角位置三維數(shù)據(jù) |
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適應(yīng)力 環(huán)境感知度輕松獲取光亮、黑色材質(zhì)物體三維數(shù)據(jù);不易受環(huán)境、震動(dòng)、溫度等外界因素影響 | 無(wú)線光筆 測(cè)量不局限便攜式CMM測(cè)量光筆T-Probe,單點(diǎn)重復(fù)性0.030 mm,用于獲取基準(zhǔn)孔、隱藏點(diǎn)等關(guān)鍵部位 |
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動(dòng)態(tài)參考 實(shí)時(shí)追蹤利用動(dòng)態(tài)參考功能,TrackScan-P42能在E-Track或物體移動(dòng)中正常工作,并實(shí)時(shí)獲取物體完整三維數(shù)據(jù) | 測(cè)量范圍自由擴(kuò)展通過(guò)調(diào)整E-Track光學(xué)跟蹤器的位置,可對(duì)測(cè)量范圍自由靈活地?cái)U(kuò)展,且始終保持穩(wěn)定的高精度 |
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復(fù)合定位 精準(zhǔn)捕捉支持光學(xué)跟蹤和標(biāo)記點(diǎn)跟蹤兩種模式,可根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)工作情況靈活切換 | 航空航天級(jí)碳纖維材質(zhì)TrackScan-P30掃描儀采用一體式結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),航空航天級(jí)碳纖維材料,超乎想象的堅(jiān)固耐用 |
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