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      FISCHERSCOPE ® X-RAY XDAL X射線熒光測量儀

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱上海量博實(shí)業(yè)有限公司
      • 品       牌
      • 型       號
      • 所  在  地上海市
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時間2022/6/5 11:43:25
      • 訪問次數(shù)381
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      上海量博公司擁有源自美國、英國、 德國等多地區(qū)的合作伙伴, 憑借種類齊全的產(chǎn)品資源和服務(wù),始終致力于為客戶解決測量分析方面日新月異的技術(shù)挑戰(zhàn),優(yōu)化測量方式并精選儀器設(shè)備,共同提供適合用戶的定制化系統(tǒng)解決方案,助力企業(yè)良好發(fā)展。我們的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于研發(fā)中心、質(zhì)量實(shí)驗(yàn)室、生產(chǎn)線,遍及機(jī)械零部件制造、汽車行業(yè)、教育科研等,用于評價(jià)材料、零部件及 整體結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能。"Focus on Better Quality -優(yōu)質(zhì)創(chuàng)造價(jià)值! " 我們的宗旨是為客戶提供準(zhǔn)確、優(yōu)質(zhì)、可信任的設(shè)備以及服務(wù)。保證始終用杰出的方案滿足客戶的需求。公司的快速發(fā)展離不開廣大用戶以及眾多合作伙伴的支持,上海 量博實(shí)業(yè)有限公司將以飽滿的熱情以及熱枕的工作態(tài)度回報(bào)大家的關(guān)愛與支持。
      檢測儀
      要檢查的層越薄,檢測器的選擇就越重要。 FISCHERSCOPE®X-RAY XDAL®系列包含幾個不同的模型。 PIN檢測器可用于材料分析和涂層厚度測量。 如果需要超高精度分析,則硅漂移檢測器是很好的選擇。
      FISCHERSCOPE ® X-RAY XDAL X射線熒光測量儀 產(chǎn)品信息

      FISCHERSCOPE®X-RAY XDAL®系列



      印刷電路板上的Au / Pd / Ni / Cu
      FISCHERSCOPE®X-RAY XDAL®系列包含幾個不同的模型。 PIN檢測器可用于材料分析和涂層厚度測量。 如果需要超高精度分析,則硅漂移檢測器是很好的選擇。 通過較短的測量時間提供非常好的能量分辨率。要檢查的層越薄,檢測器的選擇就越重要。
      FISCHERSCOPE ® X-RAY XDAL

      特征

      ? 通用儀器,用于自動測量薄膜和超薄薄膜(<0.05μm),以及用于ppm級范圍內(nèi)的材料分析
      ? 帶鎢陽極的微聚焦管
      ? 3倍可更換初級過濾器
      ? 4倍可更換光圈
      ? 不同半導(dǎo)體檢測器的選件(硅PIN檢測器; SDD 20mm2; SDD 50mm2)
      ? *保護(hù)的儀器,根據(jù)德國輻射防護(hù)法獲得型式認(rèn)可

      很好的薄膜探測器

      FISCHERSCOPE®X-RAY XDAL®系列具有半導(dǎo)體檢測器,是快速準(zhǔn)確測量焊料成分的選擇。 這樣就可以通過在進(jìn)貨檢驗(yàn)時進(jìn)行簡單的掃描來消除獲得不同批次焊料的風(fēng)險(xiǎn)。
      此外,可編程的測量平臺使XDAL®系列成為要求測試厚度小于0.05μm的薄和超薄涂層的應(yīng)用的理想之選。 例如,映射模式使掃描表面變得容易,并且在生產(chǎn)或進(jìn)貨檢驗(yàn)期間,可以大量測試不同的組件。
      HSS鉆頭:TiN / FeHSS鉆頭:TiN / Fe 高可靠性:電子元件中的Pb(> 3%)高可靠性:電子元件中的Pb(> 3%) 帶有50mm2硅漂移檢測器的版本也適用于RoHS測量。

      應(yīng)用:

      鍍層厚度測量
      ● 大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
      ● 電路板上較薄的導(dǎo)電層和/或隔離層
      ● 復(fù)雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層
      ● 鉻鍍層,如經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
      ● 氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量

      材料分析

      ● 電鍍槽液分析
      ● 電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層分析

      關(guān)鍵詞:探測器
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