FISCHERSCOPE®X-RAY XDAL®系列

![]() | 特征? 通用儀器,用于自動測量薄膜和超薄薄膜(<0.05μm),以及用于ppm級范圍內(nèi)的材料分析? 帶鎢陽極的微聚焦管 ? 3倍可更換初級過濾器 ? 4倍可更換光圈 ? 不同半導(dǎo)體檢測器的選件(硅PIN檢測器; SDD 20mm2; SDD 50mm2) ? *保護(hù)的儀器,根據(jù)德國輻射防護(hù)法獲得型式認(rèn)可 |
很好的薄膜探測器
FISCHERSCOPE®X-RAY XDAL®系列具有半導(dǎo)體檢測器,是快速準(zhǔn)確測量焊料成分的選擇。 這樣就可以通過在進(jìn)貨檢驗(yàn)時進(jìn)行簡單的掃描來消除獲得不同批次焊料的風(fēng)險(xiǎn)。此外,可編程的測量平臺使XDAL®系列成為要求測試厚度小于0.05μm的薄和超薄涂層的應(yīng)用的理想之選。 例如,映射模式使掃描表面變得容易,并且在生產(chǎn)或進(jìn)貨檢驗(yàn)期間,可以大量測試不同的組件。
![]() | ![]() | 帶有50mm2硅漂移檢測器的版本也適用于RoHS測量。 |
應(yīng)用:
鍍層厚度測量● 大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
● 電路板上較薄的導(dǎo)電層和/或隔離層
● 復(fù)雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層
● 鉻鍍層,如經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
● 氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量
材料分析
● 電鍍槽液分析● 電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層分析
