從輪廓測(cè)量到3D檢測(cè),支持廣泛應(yīng)用
超高的高精細(xì)測(cè)量:采用 3200 points/profile 超高精度測(cè)量,可以超精確地繪制出目標(biāo)形狀物。
可支持各種材質(zhì):抑制多重反射、漫反射等的影響,表現(xiàn)穩(wěn)定的形狀。
設(shè)定只需3步:不需要復(fù)雜的檢測(cè)設(shè)定、編程,只需三步即可完成測(cè)量、檢測(cè)所需的設(shè)定。
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超高的高精細(xì)測(cè)量:采用 3200 points/profile 超高精度測(cè)量,可以超精確地繪制出目標(biāo)形狀物。
可支持各種材質(zhì):抑制多重反射、漫反射等的影響,表現(xiàn)穩(wěn)定的形狀。
設(shè)定只需3步:不需要復(fù)雜的檢測(cè)設(shè)定、編程,只需三步即可完成測(cè)量、檢測(cè)所需的設(shè)定。
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