紅外線加熱式升溫解吸分析儀TDS1200Ⅱ是用質(zhì)譜儀在超高真空中對樣品的溫度進行程序化時，實時觀察解吸分子的分析儀。

即使是水、氫氣、氧氣和二氧化碳等具有高背景的成分，由于是在真空中測量的，因此只需極少量即可檢測到。

可以識別和量化從樣品中解吸的分子的化學(xué)種類。此外，還可以獲得解吸氣體的吸附/結(jié)合狀態(tài)、擴散過程等信息。

非常適合測量薄膜樣品和容易被紅外線加熱的薄膜樣品。新的 TDS1200Ⅱ 是傳統(tǒng) TDS1200 系統(tǒng)的更新，并使用觸摸面板作為界面。符合 CE 標(biāo)志使用標(biāo)準(zhǔn)。

紅外線加熱方式

在熱解吸分析中，重要的是在加熱樣品時分析室和分析室內(nèi)的組件不被加熱。對于具有加熱腔室的結(jié)構(gòu)的TDS，很難區(qū)分從樣品中釋放的氣體和從腔室中釋放的氣體。

TDS1200Ⅱ通過石英棒導(dǎo)入紅外線直接加熱樣品，即使在高溫區(qū)域也能將背景水平的上升抑制到*低限度，可以進行高靈敏度的測量。