清潔度分析系統(tǒng)BH-CIA500
顯微鏡
BAHENS光學(xué)顯微鏡(ISO16232規(guī)定),放大50倍-500倍,既可做清潔度檢測(cè)。
檢測(cè)內(nèi)容
? 雜質(zhì)平面尺寸
? 雜質(zhì)高度
? 雜質(zhì)數(shù)量
? 雜質(zhì)形狀分類:顆粒或纖維
? 雜質(zhì)性質(zhì)分類:反光(金屬),亞光(非金屬,金屬氧化物)
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BAHENS光學(xué)顯微鏡(ISO16232規(guī)定),放大50倍-500倍,既可做清潔度檢測(cè)。
? 雜質(zhì)平面尺寸
? 雜質(zhì)高度
? 雜質(zhì)數(shù)量
? 雜質(zhì)形狀分類:顆粒或纖維
? 雜質(zhì)性質(zhì)分類:反光(金屬),亞光(非金屬,金屬氧化物)
? 支持多種聚焦模式:補(bǔ)償聚焦、跟蹤聚焦、手動(dòng)聚焦、EFI聚焦等。
? 采用的聚焦算法,保證在試樣不夠平整的情況下也能得到清晰的圖像;
? 新精確模式可以輕松辨認(rèn)原本會(huì)產(chǎn)生誤判的亞光色金屬顆粒(綠色包圍部分),用偏振光照射,記錄在兩個(gè)情況下進(jìn)行比較,然后用于準(zhǔn)確區(qū)分金屬和非金屬顆粒。
? 目鏡:大視場(chǎng)雙目觀察,觀察視域大而舒適。
放大倍數(shù)10倍,視場(chǎng)指數(shù)22毫米,三目鏡筒55-75mm可調(diào)瞳距。
? 物鏡:高性能高反差平場(chǎng)物鏡,鍍膜防霉。
5X,10X,20X,50X
? 系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別顆粒、自動(dòng)分析顆粒類別、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)顆粒參數(shù)。同時(shí)支持修改顆粒。
? 提供多種統(tǒng)計(jì)分析工具:MAP圖、顆粒列表、統(tǒng)計(jì)結(jié)果、直方圖等;
? 支持模板化報(bào)告生成模式,包含統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)、評(píng)級(jí)、濾片全貌圖、顆粒照片等信息;
*您想獲取產(chǎn)品的資料:
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