SB2204-3 智能化介質(zhì)損耗測試儀 技術(shù)指標(biāo)

標(biāo)準(zhǔn)回路*大電流50mA(In=UwCn)
測量內(nèi)容 | tgδ范圍 | 電容量范圍(Cx) | 試品類型 | 基 本 誤 差 |
介質(zhì)損耗 因數(shù) tgδ | 0~0.5 | 50pF~60000pF | 非接地 | ±(1%讀數(shù)+0.0005) |
接地 | ±(1%讀數(shù)+0.0010) | |||
10pF~50pF或 60000pF以上 | 非接地 | ±(1%讀數(shù)+0.0010) | ||
接地 | ±(2%讀數(shù)+0.002) | |||
3pF~10pF | 非接地 與接地 | |||
電容量 | 50pF以上 | ±(1%讀數(shù)+1pF) | ||
50pF以下 | ±(1%讀數(shù)+2pF) |