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      M470第四代掃描探針系統(tǒng)

      參考價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準
      • 公司名稱儀思奇(北京)科技發(fā)展有限公司
      • 品       牌
      • 型       號
      • 所  在  地北京市
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時間2022/4/1 9:29:55
      • 訪問次數(shù)239
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      儀思奇(北京)科技發(fā)展有限公司是一家高科技儀器公司,是由原美國康塔儀器公司中國區(qū)經(jīng)理楊正紅先生,聯(lián)合業(yè)界幾位的材料物性分析測試專家組建而成。儀思奇科技公司力主打造成為“產(chǎn)學(xué)研商網(wǎng)”一體的儀器技術(shù)研發(fā)及應(yīng)用推廣的儀器科技創(chuàng)新與服務(wù)平臺。 公司業(yè)務(wù)專注于新能源領(lǐng)域、催化基礎(chǔ)與應(yīng)用研究領(lǐng)域的前沿儀器產(chǎn)品和技術(shù)的引進與推廣;并為用戶提供“以應(yīng)用開發(fā)為先導(dǎo)、以維修服務(wù)為保障、以*儀器為核心”的分析測試全面解決方案;同時,尋求將自主研發(fā)的儀器技術(shù)和大學(xué)研究所老師們的儀器研發(fā)成果進行快速的產(chǎn)業(yè)化、市場化轉(zhuǎn)化。公司樹立“創(chuàng)新儀器科技,支撐材料研發(fā)”的發(fā)展理念,堅持以儀器分析測試的全面解決方案支撐前沿材料研發(fā)和生產(chǎn),并促進科研院所材料研發(fā)成果產(chǎn)業(yè)化的發(fā)展道路。 儀思奇科技是美國DT、比利時Occhio、美國Xigo、法國Cordouan的中國總代理,并與法國Bio-Logic、美國Biotools建立了行業(yè)代理合作關(guān)系。 目前重點推廣的儀器產(chǎn)品主要有:圖像法粒度粒形分析儀和Zeta電位分析儀、超聲法粒度分析儀和zeta電位分析儀、比表面積和孔徑分析儀、納米粒度分析儀、電化學(xué)工作站儀器、電池測試系統(tǒng)等。
      粒子分散分析儀
      M470的平衡了高掃描率、高分辨率和高精度建立了解決空間電化學(xué)測量的新標(biāo)準
      M470第四代掃描探針系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

      M470的平衡了高掃描率、高分辨率和高精度建立了解決空間電化學(xué)測量的新標(biāo)準。

      出色的性能:

      快速精確的閉環(huán)定位系統(tǒng)為帶你花些掃描探針那墨跡研究的需求而特別設(shè)計。結(jié)合Uniscan堵車的混合型32-bitDAC技術(shù),用戶可以選擇審核實驗研究的優(yōu)異配置。

      *、靈活的工作平臺:

      系統(tǒng)可提供9種探針技術(shù),使得M470成為靈活的電弧寫掃描探針工作平臺。


      M470 定位系統(tǒng):

      超高分辨率掃描平臺允許更長的行進距離

      M470全新一代掃描平臺擠成了更高的分辨率、更長的行進距離以及掃描速率。

      交流掃描(ac-)和間歇接觸(ic-)掃描探針技術(shù),提供壓電為在Z軸方便精確定位,以探表面形貌。

      采用20-bitDAC控制壓電范圍以及控制定位到0.09nm,M470強了重復(fù)性、加快了掃描速度、縮短了測試樣品時間,這使得M470可以應(yīng)用于非穩(wěn)態(tài)系統(tǒng)的研究。

      M470產(chǎn)品特征:

      ? SECM 自動處理曲線
      ? SECM用戶自定義處理曲線步長變化
      ? 高分辨讀取
      ? 手動或自動調(diào)節(jié)相位
      ? 傾斜校正
      ? X或Y曲線相減(5階多項式))
      ? 2D 或3D快速傅里葉變化
      ? 試驗探針移動和區(qū)域繪圖的自動排序
      ? 圖形實驗測序引擎(GESE)
      ? 支持多區(qū)域掃描
      ? 所有實驗多個數(shù)據(jù)視圖
      ? 峰值分析

      M470技術(shù)參數(shù)

      工作站(所有技術(shù))

      掃描范圍(x,y,z) 大于100nm

      掃描驅(qū)動分辨率 0.1nm

      閉環(huán)定位 線性零滯后編碼器,直接實時讀出x,z和y位移

      軸分辨率(x,y,z) 20nm

      掃描速度 12.5mm/s

      測量分辨率 32-bit@高達40MHz

      壓電(ic-和ac-掃描探針技術(shù))

      振動范圍 20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量

      最小振動分辨率 0.12nm(16-bit DAC,4μm)

      壓電晶體伸展 100μm

      定位分辨率 0.09nm(20-bit DAC ,100μm)

      機電

      掃描前端 500×420×675mm(H×W×D)

      掃描控制單元 275×450×400mm(H×W×D)

      功率 250W




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