rackScan-DUO跟蹤式三維掃描系統(tǒng) 是一套同時具備三維掃描和探測功能的跟蹤式三維掃描系統(tǒng)。
rackScan-DUO跟蹤式三維掃描系統(tǒng) 三維掃描系統(tǒng)無須貼點即可在各種環(huán)境下掃描物體,快速獲得高精度三維模型,真正意義上實現(xiàn)了無損檢測。
rackScan-DUO跟蹤式三維掃描系統(tǒng) 是TrackScan-SOLO的進階版,功能更加強大,在測量范圍和精度上都有較大提升,且測量方式可靈活機變,可應對多種三維掃描需求。
rackScan-DUO跟蹤式三維掃描系統(tǒng)*的跟蹤技術: LED光學跟蹤技術,主動尋靶定位,具備更強的抗力和更大的工作量程。 超大的測量范圍: 激光掃描時工作距離可達10米,接觸式光筆測量距離可達15米,輕松實現(xiàn)大物體三維檢測。 | ![]() |
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![]() | rackScan-DUO跟蹤式三維掃描系統(tǒng)接觸式測量兼容: 配合TrackProbe 光筆,可實現(xiàn)接觸式三維測量,1μm分辨率保證關鍵點高精度三維數(shù)據(jù)獲取。 靈活的測量方案: 支持單鏡頭、多鏡頭等多種光學跟蹤裝置方案,根據(jù)需求調(diào)整工作區(qū)域,掃描區(qū)域和掃描精度之間平衡 |
測量范圍更廣,精度更高 TrackScan-DUO是TrackScan-SOLO的升級版 ![]() | |
*的跟蹤技術 LED光學跟蹤技術,無須貼點,主動尋靶定位, 大幅提升三維測量效率 ![]() | |
雙重模式![]() | |
*精度![]() | |
超大量程![]() | |
*的定位模式 TrackScan-DUO配置了兩臺M-Tracker,測量方式更為靈活,可支持單相機、雙相機光學跟蹤方案,擴展測量范圍、提升測量精度雙相機M-Tracker工作時, 共同視野為高精度視野,單個相機的單獨視野為擴展視野,用戶可根據(jù)掃描區(qū)域和精度要求調(diào)整相機的角度和工作區(qū)域 ![]() | |
挪威制造 品質(zhì) 挪威,Metronor傾力打造,由碳纖維航天級輕質(zhì)強力材料制造,* ![]() |
TrackScan-DUO跟蹤式三維掃描系統(tǒng) --產(chǎn)品參數(shù)
型號 | TRACKSCAN-DUO系統(tǒng) | ||
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設備 | TRACKPROBE 光筆 | TRACKSCAN 掃描儀 | |
測量范圍 | 15m | 10m | |
系統(tǒng)精度 | 0.02mm | 0.03mm | |
空間精度* | 2.5m | 0.04mm | 0.04mm |
6m | 0.08mm | 0.08mm | |
10m | 0.12mm | 0.12mm | |
光筆類型 | 無線手持、碳纖維筆身 | 不適用 | |
探針類型 | 可支持快速更換探針、紅寶石探頭 | 不適用 | |
分辨率 | 1μm | 0.05mm | |
掃描激光類別 | 不適用 | ClassII (人眼安全) | |
掃描速率 | 不適用 | 480000次測量/秒 | |
掃描基準距 | 不適用 | 300mm | |
掃描景深 | 不適用 | 250mm | |
支持文件格式 | igs | stl、stp、igs、ply、xyz、dae、obj、asc | |
環(huán)境要求 | 工作溫度 | -10℃~45℃ | |
存放溫度 | -25℃~65℃ | ||
濕度要求 | <95%,無冷凝 | ||
空間精度檢定基于ISO10360-2標準 |