Microchip公司(原Microsemi)的5120A相位噪聲及艾倫偏差(ADEV)測(cè)試儀,采用超低噪底,準(zhǔn)確、高速的數(shù)模轉(zhuǎn)化器,無需外部校準(zhǔn)。全數(shù)字一體化設(shè)計(jì),一次按鍵便可開始測(cè)量,幾秒鐘后測(cè)試數(shù)據(jù)便出現(xiàn)在高分辨率顯示屏上。
5120A采用了創(chuàng)新的互相關(guān)技術(shù),交叉關(guān)聯(lián)雙通道的離散傅里葉變換,抵消了系統(tǒng)本身的噪聲,更好的估算輸入信號(hào)的噪聲,從而獲得更精確的測(cè)量結(jié)果。
5120A可選擇增添內(nèi)部振蕩器選項(xiàng)(-01選項(xiàng)),無需外部參考源,獨(dú)立完成測(cè)量。
2相位噪聲和艾倫方差同時(shí)測(cè)量
2頻率范圍:1-30MHz
2業(yè)界的精度(±1.0 dB)
2艾倫方差測(cè)量超過300天
2相位噪聲測(cè)量接近0.1mHz
2實(shí)時(shí)顯示本底噪聲
2通過網(wǎng)口遠(yuǎn)程管理和數(shù)據(jù)采集
2可選的內(nèi)部參考振蕩器
2相位噪聲測(cè)量低至-175 dBc / Hz
主要優(yōu)點(diǎn):
2測(cè)量結(jié)果在幾秒鐘內(nèi)顯示(無需外部數(shù)據(jù)處理)
2支持不同頻率的輸入和參考測(cè)量
2無需測(cè)量校準(zhǔn)(節(jié)省時(shí)間)
2性價(jià)比解決方案
2易于使用的圖形用戶界面