傳統(tǒng)的充/放電電容測量方式存在以下的問題：

• 在充/放電檢測過程中，容易受到EMC干擾；
• 沒有理想的電容，每個電容都有寄生參數(shù)的存在；
• 電路中始終存在因環(huán)境因素而變化的等效并聯(lián)電阻。

AS8579根據(jù)測量阻抗值原理進行設計，內(nèi)部集成了模擬多路復用器（MUX），多達10路的阻抗值檢測通道。MCU可從AS8579中讀取每個通道所采集的I和Q分量，從任意兩個通道測量的結(jié)果中推導出電容值，這樣的測量方式去除了等效并聯(lián)電阻的影響，直接計算出最準確的電容值。