華測國產(chǎn)定制鐵電分析儀/電滯回線

擴(kuò)展性高速型模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料基本特性測試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。

模塊化設(shè)計的TF Analyzer 2000具有擴(kuò)展性。

FE模塊-鐵電標(biāo)準(zhǔn)測試；

MR模塊-磁阻和鐵性材料測試；

RX模塊-弛豫電流測試；

DR模塊-自放電測試。

鐵電壓電分析儀測試基本單元：包括內(nèi)置完整的專用計算機(jī)主機(jī)和測試版路、運算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測試軟件等。

FE模塊標(biāo)準(zhǔn)測試功能：
Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率（增強(qiáng)型FE模塊250kHz，高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz）；

Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測試；

PUND 脈沖測試；

Fatigue 疲勞測試；

Retention 保持力；

Imprint 印跡；

Leakage current漏電流測試；

Thermo Measurement 變溫測試功能。

FE模塊可選測試功能：
C-V curve電容-電壓曲線；

Piezo Measurement壓電性能測試；

Pyroelectric Measurement熱釋電性能測試；

In-situ Compensation 原位補償；

DLCC 動態(tài)漏電流補償功能；

Impedance Measurement 阻抗測試 (僅適用于高速增強(qiáng)型)。

技術(shù)說明：
電壓范圍： +/- 25 V（可選的附加高壓放大器可擴(kuò)展至+/- 10KV）；

電滯頻率：增強(qiáng)型FE模塊250kHz，高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz；

脈沖寬度min：50ns；

上升時間min：10ns；

疲勞頻率max：16MHz；

電流放大范圍：1pA～1A；

負(fù)荷電容max：1nF；

輸出電流峰值：+/-1 A。

可擴(kuò)展部件：
 高壓放大器、激光干涉儀、AFM、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺、變溫塊體樣品盒、塊體變溫爐、薄膜e31測試平臺、超導(dǎo)磁體、PPMS、阻抗分析儀等。

MR模塊是用來研究磁阻和鐵性材料的。
此模塊提供連續(xù)電流激勵和測試，樣品上的電壓降通過高的精度四點測試。

RX模塊是用來研究介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的，即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。
該測試能將材料的馳豫電流和漏電流分開，并可記錄極化響應(yīng)電流和去極化響應(yīng)電流。

DR模塊用于研究電介質(zhì)材料的自漏電性。

由于測試條件接近實際情況，因此通過這種方式可容易地測試應(yīng)用于DRAM材料的合適性。