1

摘要

本應(yīng)用筆記主要介紹 HC32F460 系列 MCU 的模數(shù)轉(zhuǎn)換器（以下簡(jiǎn)稱(chēng) ADC）的特點(diǎn)及使用方法，包括掃描模式、轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)平均功能、模擬看門(mén)狗、可編程增益放大器和協(xié)同模式等。

2

ADC 簡(jiǎn)介

2.1

功能簡(jiǎn)介

HC32F460 系列 MCU 內(nèi)部集成 ADC1 和 ADC2 兩個(gè) ADC 模塊（系統(tǒng)框圖如圖 2-1），掛載于AHB-APB（APB3）總線(xiàn)，可配置 12 位、10 位和 8 位分辨率，支持最多 16 個(gè)外部模擬輸入通道和 1 個(gè)內(nèi)部基準(zhǔn)電壓/8bitDAC 輸出的檢測(cè)通道。這些模擬輸入通道可以任意組合成一個(gè)序 列（序列 A 或序列 B），一個(gè)序列可以進(jìn)行單次掃描（包括兩個(gè)動(dòng)作：采樣和轉(zhuǎn)換），或連續(xù)掃描。支持對(duì)任意通道進(jìn)行連續(xù)多次掃描，并對(duì)轉(zhuǎn)換結(jié)果進(jìn)行平均。ADC 模塊還搭載模擬看門(mén)狗（以下簡(jiǎn)稱(chēng) AWD）功能，可對(duì)任意通道的轉(zhuǎn)換結(jié)果進(jìn)行監(jiān)視，檢測(cè)是否超出設(shè)定的閥值。

2.2 主要特性

HC32F460 系列 MCU 的 ADC 具有如下主要特性：

1) 高性能

?

可配置 12 位、10 位和 8 位分辨率

?

周邊時(shí)鐘（數(shù)字時(shí)鐘）PCLK4 和 A/D 轉(zhuǎn)換時(shí)鐘 ADCLK 的頻率比可選擇：

?

PCLK4 : ADCLK = 1 : 1，2 : 1，4 : 1，8 : 1，1 : 2，1 : 4

?

ADCLK 可選與系統(tǒng)時(shí)鐘 HCLK 異步的 PLL 時(shí)鐘，此時(shí) PCLK4 : ADCLK = 1:1

?

采樣率：2.5MSPS（PCLK4 = ADCLK = 60MHz，12 位分辨率，采樣 11 周期）

?

各通道可獨(dú)立設(shè)置采樣時(shí)間

?

各通道獨(dú)立數(shù)據(jù)寄存器

?

數(shù)據(jù)寄存器可配置數(shù)據(jù)對(duì)齊方式

?

連續(xù)多次轉(zhuǎn)換平均功能

?

模擬看門(mén)狗，監(jiān)視轉(zhuǎn)換結(jié)果

?

不使用時(shí)可將 ADC 模塊設(shè)定為停止?fàn)顟B(tài)

2) 模擬輸入通道

?

最多有 16 個(gè)外部模擬輸入采樣通道

?

1 個(gè)內(nèi)部基準(zhǔn)電壓/8bitDAC 輸出的檢測(cè)通道

?

最多有 16 個(gè)外部模擬輸入引腳，外部模擬輸入引腳可與采樣通道自由映射

3) 轉(zhuǎn)換開(kāi)始條件

?

軟件啟動(dòng)開(kāi)始轉(zhuǎn)換（只支持序列 A）

?

外設(shè)事件觸發(fā)開(kāi)始轉(zhuǎn)換（支持序列 A 和序列 B）

?

外部引腳觸發(fā)開(kāi)始轉(zhuǎn)換（支持序列 A 和序列 B）

4) 轉(zhuǎn)換模式

?

序列 A 單次掃描

?

序列 A 連續(xù)掃描

?

雙序列掃描

?

協(xié)同模式

5)

?

序列 A 掃描結(jié)束中斷和事件 ADC_EOCA

?

序列 A 掃描結(jié)束中斷和事件 ADC_EOCB

?

模擬看門(mén)狗通道比較中斷和事件 ADC_CHCMP，序列比較中斷和事件 ADC_SEQCMP

?

上述 4 個(gè)事件輸出都可啟動(dòng) DMA

2.3 引腳配置

HC32F460 系列 MCU 的 ADC1 有 17 個(gè)采樣通道，最多支持 16 個(gè)外部模擬輸入引腳，通道0~15 可與外部模擬輸入引腳自由映射，通道 16 用于內(nèi)部基準(zhǔn)電壓/8bitDAC 的輸出檢測(cè)。ADC2 有 9 個(gè)采樣通道，最多支持 8 個(gè)外部模擬輸入引腳，通道 0~7 可與外部模擬輸入引腳自由映射，通道 8 用于內(nèi)部基準(zhǔn)電壓/8bitDAC 的輸出檢測(cè)。

3

ADC 應(yīng)用

3.1

模擬輸入引腳與通道

HC32F460 系列 MCU 的 ADC 模塊模擬輸入引腳等配置,

默認(rèn)情況下，ADC1 的 CH0（通道 0）對(duì)應(yīng)模擬輸入引腳 ADC1_IN0，CH1 對(duì)應(yīng)

ADC1_IN1……，CH16 為內(nèi)部模擬通道，只能用于檢測(cè)內(nèi)部基準(zhǔn)電壓、8bitDAC1 或

8bitDAC2。也就是，默認(rèn)情況下，ADC1 序列 A 的通道選擇寄存器 ADC1_CHSELRA0（或序列 B 的通道選擇寄存器 ADC1_CHSELRB0）的 bit0 置 1，即選擇了模擬輸入引腳 ADC1_IN0，bit1 置 1，即選擇模擬輸入引腳ADC1_IN1；序列 A 的通道選擇寄存器ADC1_CHSELRA1（或序列 B 的通道選擇寄存器 ADC1_CHSELRB1）的 bit0 置 1，即選擇了內(nèi)部模擬輸入，用于檢測(cè)內(nèi)部基準(zhǔn)電壓、8bitDAC1 或 8bitDAC2。但是，HC32F460 系列的 ADC 模塊具有模擬輸入引腳與通道自由映射（除用于檢測(cè)內(nèi)部模擬輸入的通道外）的功能，可滿(mǎn)足用戶(hù)不同的應(yīng)用需求。例如，可將引腳 ADC12_IN10 映射到ADC1 的一個(gè)通道（如 CH0，不能映射到 CH16），或同時(shí)映射到多個(gè)通道（如 CH0、CH2 和 CH3）。

ADC2 通道與引腳的默認(rèn)對(duì)應(yīng)關(guān)系和通道重映射與 ADC1 的類(lèi)似。

關(guān)于通道重映射，固件例程 adc_11_channel_remap 給出了其具體用法。

3.2 模擬輸入的采樣時(shí)間和轉(zhuǎn)換時(shí)間

關(guān)于 ADC 時(shí)間的詳細(xì)說(shuō)明，請(qǐng)參考用戶(hù)手冊(cè)“模擬輸入的采樣時(shí)間和轉(zhuǎn)換時(shí)間”一節(jié)中，寄存器 ADC_SSTR 和 ADC 電氣特性部分，請(qǐng)嚴(yán)格按照手冊(cè)要求設(shè)置采樣時(shí)間。在滿(mǎn)足應(yīng)用需求的情況下，請(qǐng)盡量將采樣時(shí)間設(shè)置得大一些，尤其在對(duì)多個(gè)通道采樣時(shí)，如果通道的采樣時(shí)間設(shè) 置偏小，可能會(huì)導(dǎo)致相鄰?fù)ǖ溃ㄈ缧蛄?A 配置了 CH0、CH5、CH7，那么 CH0 和 CH5、CH5 和 CH7 都是相鄰?fù)ǖ溃┲g透過(guò)采樣電容發(fā)生耦合，而使轉(zhuǎn)換結(jié)果不準(zhǔn)確。

3.3 模式和功能

ADC 的通道可配置為序列 A 或序列 B，序列 A 和序列 B 可單獨(dú)設(shè)置不同的觸發(fā)源。兩個(gè)序列共有四種掃描方式：

?

序列 A 單次掃描；

?

序列 A 連續(xù)掃描；

?

序列 A 單次掃描，序列 B 單次掃描；

?

序列 A 連續(xù)掃描，序列 B 單次掃描。

各通道還可設(shè)置平均功能，可連續(xù)掃描設(shè)定次數(shù)后，計(jì)算轉(zhuǎn)換的平均值，并將平均值保存到數(shù)據(jù)寄存器中；模擬看門(mén)狗 AWD 在通道轉(zhuǎn)換結(jié)束后對(duì)轉(zhuǎn)換結(jié)果進(jìn)行比較，可生成通道比較中斷和事件 ADC_CHCMP，在整個(gè)序列掃描結(jié)束后，根據(jù)各通道比較結(jié)果生成序列比較中斷和事件 ADC_SEQCMP；可編程增益放大器 PGA，可對(duì)模擬輸入信號(hào)放大后再轉(zhuǎn)換；協(xié)同工作模式下，ADC1 和 ADC2 可同時(shí)轉(zhuǎn)換或連續(xù)交替轉(zhuǎn)換；模擬輸入引腳可與 ADC 通道的自由映射，再結(jié)合協(xié)同模式，可實(shí)現(xiàn)對(duì)模擬輸入的高頻掃描。

3.4 序列 A 單次掃描模式

3.4.1 說(shuō)明

在此模式下，ADC 執(zhí)行單個(gè)或多個(gè)通道的單次掃描，并在轉(zhuǎn)換完成后停止.

3.4.2 應(yīng)用

該模式可以設(shè)置單個(gè)或多個(gè)通道。設(shè)置多個(gè)通道時(shí)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)多個(gè)通道進(jìn)行依次掃描，這些通道可設(shè)置不同的采樣時(shí)間，用戶(hù)不必在掃描過(guò)程中停止 ADC，即可以不同的采樣時(shí)間重新掃描下一個(gè)通道，可避免額外的 CPU 負(fù)載以及繁重的軟件開(kāi)發(fā)。

該模式是簡(jiǎn)單的 ADC 模式，應(yīng)用方式靈活。如在系統(tǒng)啟動(dòng)前，可以用這種模式檢測(cè)系統(tǒng)的一些狀態(tài)信息，如電壓、壓力、溫度等，以確定系統(tǒng)是否可以正常啟動(dòng)；在系統(tǒng)運(yùn)行中，可用 這種模式，按需檢測(cè)系統(tǒng)狀態(tài)，以獲取系統(tǒng)實(shí)時(shí)狀態(tài)。

應(yīng)用例程 adc_01_sa_base 給出了該模式的具體用法。

3.5 序列 A 連續(xù)掃描模式

3.5.1 說(shuō)明

連續(xù)掃描模式可對(duì)單個(gè)通道或多個(gè)通道進(jìn)行連續(xù)不斷的掃描。連續(xù)掃描模式允許

ADC 在后臺(tái)工作。因此，ADC 可在沒(méi)有任何 CPU 干預(yù)的情況下對(duì)通道進(jìn)行連續(xù)（循環(huán)）掃描通道。此外，還可以在連續(xù)掃描模式下使用 DMA，從而降低 CPU 負(fù)載。

3.5.2 應(yīng)用

此模式設(shè)置單個(gè)通道時(shí)，可用于監(jiān)視電池電壓、測(cè)量和調(diào)節(jié)烤箱溫度等應(yīng)用。在用于調(diào)節(jié)烤箱溫度時(shí)，系統(tǒng)將讀取溫度并與用戶(hù)設(shè)置的溫度進(jìn)行比較。當(dāng)烤箱溫度達(dá)到所需溫度時(shí)，關(guān)閉加熱電阻器的電源。

設(shè)置多個(gè)通道時(shí)，與多通道單次掃描模式類(lèi)似，只是在完成序列的一個(gè)通道后不會(huì)停止掃描，而是從一個(gè)通道重新開(kāi)始掃描并無(wú)限循環(huán)下去。多通道連續(xù)掃描模式，可用于監(jiān)視多電池充電器中的多個(gè)電壓和溫度。系統(tǒng)在充電過(guò)程中讀取每節(jié)電池的電壓和溫度。當(dāng)電壓或溫度達(dá)到大值時(shí)，將切斷相應(yīng)電池與充電器的連接。

應(yīng)用例程 adc_01_sa_base 中有該模式的設(shè)置以及簡(jiǎn)單的應(yīng)用方法。

3.6 雙序列掃描模式

3.6.1 說(shuō)明

此處將“序列 A 單次掃描、序列 B 單次掃描”和“序列 A 連續(xù)掃描、序列 B 單次掃描”兩種模式整合為雙序列掃描模式進(jìn)行介紹。雙序列掃描模式，只是在前兩種模式中增加了序列 B 的掃描。雙序列掃描模式下，序列 B 必須由外部引腳或內(nèi)部事件觸發(fā)轉(zhuǎn)換，軟件啟動(dòng)對(duì)序列 B 無(wú) 效，序列 A 可由軟件啟動(dòng)掃描，也可由外部引腳或內(nèi)部事件觸發(fā)掃描。序列 B 的優(yōu)先級(jí)高于 序列 A. 配置 ADC_CR1.RSCHSEL 為 0 時(shí)，當(dāng)序列 A 被中斷后，恢復(fù)時(shí)，從被中斷通道繼續(xù)掃描.

3.6.2 應(yīng)用

可在前兩種模式的應(yīng)用中，加入需要實(shí)時(shí)響應(yīng)（更高優(yōu)先級(jí)）掃描的通道，將其配置為序列B。例程 adc_04_sa_sb_event_trigger 實(shí)現(xiàn)了雙序列掃描的基本用法。

3.7 轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)平均功能

3.7.1 說(shuō)明

轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)平均功能，可設(shè)置連續(xù)掃描 2、4、8、16、32、64、128 或 256 次后，將轉(zhuǎn)換結(jié)果平均后，保存到數(shù)據(jù)寄存器。該功能可去除一定的噪聲成分，使結(jié)果更加準(zhǔn)確。該功能的優(yōu)勢(shì)是可以在無(wú)任何硬件變更的情況下提高 ADC 的準(zhǔn)確度，缺點(diǎn)是降低了轉(zhuǎn)換速度和頻率（相當(dāng)于降低了有效采樣率）。

3.7.2 應(yīng)用

針對(duì)不同的應(yīng)用，可設(shè)置不同的連續(xù)掃描次數(shù)，該次數(shù)取決于需要的精度、低轉(zhuǎn)換速度等。應(yīng)用筆記沒(méi)有單獨(dú)為該功能提供例程，在例程 adc_01_sa_base 中有該功能的配置方式。

3.8

模擬看門(mén)狗

3.8.1

說(shuō)明

HC32F460 系列 MCU 的模擬看門(mén)狗，可配置為上下限比較或區(qū)間比較。用戶(hù)可預(yù)先設(shè)置比較條件和相應(yīng)的上下限或區(qū)間。在通道轉(zhuǎn)換結(jié)束后，模擬看門(mén)狗對(duì)轉(zhuǎn)換結(jié)果

進(jìn)行比較，如果滿(mǎn)足比較條件，則產(chǎn)生通道比較中斷和事件 ADC_CHCMP，在整個(gè)序列掃描結(jié)束后，根據(jù)各通道比較結(jié)果生成序列比較中斷和事件 ADC_SEQCMP。每個(gè)使能模擬看門(mén)狗的通道，只要其轉(zhuǎn)換結(jié)果滿(mǎn)足比較條件，都會(huì)產(chǎn)生一次中斷和事件 ADC_CHCMP；每個(gè)序列，只要其中一個(gè)通道的轉(zhuǎn)換結(jié)果滿(mǎn)足比較條件，都會(huì)產(chǎn)生中斷和事件 ADC_SEQCMP。在條件滿(mǎn)足后，一個(gè)序列只產(chǎn)生一次中斷和事件 ADC_SEQCMP。也就是，一個(gè) ADC 模塊，一輪

掃描結(jié)束后，可產(chǎn)生多次中斷和事件 ADC_SEQCMP，最多兩次（因?yàn)樽疃嘀挥袃蓚€(gè)序列）中斷和事件 ADC_SEQCMP。

注意：

- 不推薦同時(shí)使用 ADC_CHCMP 中斷和 ADC_SEQCMP 中斷。

3.8.2

應(yīng)用

在一些控制系統(tǒng)中，需要嚴(yán)格監(jiān)測(cè)電壓、壓力、溫度等信號(hào)的范圍，使用模擬看門(mén)狗能夠快速地檢測(cè)到這些信號(hào)的異常狀況，并做出相應(yīng)的應(yīng)對(duì)措施，以確保設(shè)備安全。例程adc_08_sa_sb_awd_base 給出了模擬看門(mén)狗的配置和基本應(yīng)用方法；但通常，模擬看門(mén)狗的中斷用法更為高效，應(yīng)用也更為普遍，例程 adc_09_sa_sb_awd_interrupt 給出了模擬看門(mén)狗的中斷配置和用法。

3.9

內(nèi)部模擬通道

3.9.1

說(shuō)明

ADC1 和 ADC2 都具有一個(gè)用于檢測(cè)內(nèi)部模擬輸入的通道，分別為通道 16 和通道 8，用來(lái)檢測(cè)三個(gè)可選擇的內(nèi)部模擬輸入量，內(nèi)部基準(zhǔn)電壓、8bitDAC1 輸出8bitDAC2 輸出。

注意：

- 只能選擇 ADC1 和 ADC2 其中之一的內(nèi)部檢測(cè)通道，來(lái)檢測(cè)三個(gè)內(nèi)部模擬輸入的其中一個(gè)，不能同時(shí)使用 ADC1 和 ADC2 的內(nèi)部檢測(cè)通道。

3.9.2

應(yīng)用

在一些系統(tǒng)中，可能由于某些原因?qū)е?ADC 的參考電壓不穩(wěn)定，從而無(wú)法知道模擬輸入的實(shí)際電壓值，這時(shí)，可用 ADC1 或 ADC2 的內(nèi)部檢測(cè)通道，來(lái)檢測(cè)內(nèi)部基準(zhǔn)電壓（在系統(tǒng)工作電壓正常時(shí)恒為 1.1V），來(lái)反推 ADC 當(dāng)前的參考電壓，從而得知模擬輸入當(dāng)前的實(shí)際電壓值。具體實(shí)現(xiàn)如下：

1.

在某已知參考電壓 VREF1 下測(cè)得內(nèi)部基準(zhǔn)電壓的 ADC 值為 VAL1；

2.

隨著系統(tǒng)的運(yùn)行，參考電壓可能隨著供電源（如電池）的電壓降低而下降，此時(shí)測(cè)得內(nèi)部基準(zhǔn)電壓的 ADC 值為 VAL2，設(shè)此時(shí)參考電壓為 VREF2；

3.

由于內(nèi)部基準(zhǔn)電壓是恒定的，所以有：

VAL1 × VREF1 = VAL2 × VREF2;

VREF2 = (VAL1 × VREF1) / VAL2;

由此已知當(dāng)前參考電壓為 VREF2，就不難得到模擬輸入的實(shí)際電壓了。

例程 adc_10_internal_channel 展示了內(nèi)部通道的各種配置和簡(jiǎn)單用法。

3.10 可編程增益放大器 PGA

3.10.1 說(shuō)明

HC32F460 系列 MCU 集成了可編程增益放大器 PGA，能對(duì)模擬信號(hào)進(jìn)行放大處理，可節(jié)省MCU 外接運(yùn)算放大器的硬件成本。PGA 電路先將模擬信號(hào)進(jìn)行放大，然后再將放大后的模擬信號(hào)輸出至 ADC 模塊進(jìn)行采樣轉(zhuǎn)換。

注意：

-

只有 ADC1 支持 PGA；

-

PGA 通道直接與模擬輸入引腳對(duì)應(yīng)，其對(duì)應(yīng)引腳映射的通道必須被 ADC1 序列 A 或序列B 的通道選擇寄存器選中，才可對(duì)該模擬輸入進(jìn)行放大。

3.10.2 應(yīng)用

用戶(hù)可根據(jù)實(shí)際的應(yīng)用場(chǎng)景，選擇合適的放大倍數(shù)，對(duì)模擬輸入進(jìn)行放大。模擬輸入電壓和放大倍數(shù)必須滿(mǎn)足如下條件：

0.1*VCCA/Gain <= VI <= 0.9*VCCA/Gain

其中，VCCA 是模擬電源電壓，Gain 是放大倍數(shù)，VI 是模擬輸入電壓，具體請(qǐng)參考用戶(hù)手冊(cè)PGA 相關(guān)部分。關(guān)于 PGA 的配置和用法，請(qǐng)參考例程 adc_12_adc1_pga。

3.11 協(xié)同模式

HC32F460 系列 MCU 具有兩個(gè) ADC 模塊，可使用 ADC 協(xié)同工作模式。在協(xié)同工作模式下，轉(zhuǎn)換啟動(dòng)只能由 ADC1 的觸發(fā)源觸發(fā)啟動(dòng)，且軟件啟動(dòng)無(wú)效。

協(xié)同模式可配置為以下四種協(xié)同模式：

?

單次并行觸發(fā)模式

?

單次延遲觸發(fā)模式

?

循環(huán)并行觸發(fā)模式

?

循環(huán)延遲觸發(fā)模式

注意：

-

協(xié)同模式只能由 ADC1 配置；

-

設(shè)置為協(xié)同工作模式的 ADC，其配置（掃描模式、分辨率和數(shù)據(jù)對(duì)齊方式等）應(yīng)盡量相同；具體通道無(wú)需相同，但是通道數(shù)量及對(duì)應(yīng)采樣時(shí)間應(yīng)相同；

-

使用單次觸發(fā)時(shí)，請(qǐng)將協(xié)同工作模式的 ADC 設(shè)置為序列 A 單次掃描或循環(huán)掃描；使用循環(huán)觸發(fā)模式時(shí)，請(qǐng)?jiān)O(shè)置為序列 A 單次掃描；

-

禁止多個(gè) ADC 模塊同時(shí)對(duì)一個(gè)模擬輸入進(jìn)行采樣；

-

請(qǐng)嚴(yán)格按照用戶(hù)手冊(cè)協(xié)同模式相關(guān)部分的說(shuō)明，來(lái)設(shè)置采樣時(shí)間（ADC_SSTR 寄存器）和協(xié)同模式控制寄存器 ADC_SYNCCR 的 SYNCDLY。

-

請(qǐng)禁止序列 B，以免打亂同步。

3.11.1 單次并行觸發(fā)模式

3.11.1.1 說(shuō)明

該模式下，ADC1 序列 A 的觸發(fā)條件同時(shí)觸發(fā)處于協(xié)同工作模式的所有 ADC 模塊， ADC1 序列 A 的觸發(fā)條件只觸發(fā)處于協(xié)同工作模式的 ADC 模塊一次，這些 ADC 模塊在采樣轉(zhuǎn)換一次后，是否停止，視其序列 A 掃描模式而定。

3.11.1.2 應(yīng)用

并行觸發(fā)的特點(diǎn)是，處于協(xié)同工作模式的 ADC 能同時(shí)對(duì)各自的模擬輸入進(jìn)行采樣轉(zhuǎn)換。例如，測(cè)量單相或三相瞬時(shí)電功率并繪制其曲線(xiàn)：Pn(t) = Un(t) × In(t)。在這種情況下，應(yīng)同時(shí)測(cè)量電壓和電流，然后計(jì)算瞬時(shí)功率，即電壓 Un(t) 與電流 In(t)的乘積。要測(cè)量單相電功率，可將 ADC1 的一個(gè)通道和 ADC2 的一個(gè)通道配合使用，一個(gè)通道測(cè)量電壓，一個(gè)通道測(cè)量電流，如圖 3-9；要測(cè)量三相電功率，可將 ADC1 的三個(gè)通道和 ADC2 的三個(gè)通道配合使用，三個(gè)通道測(cè)量電壓，三個(gè)通道測(cè)量電流。

如果只需要測(cè)量某一時(shí)刻的瞬時(shí)功率，使用單次并行觸發(fā)模式即可；如果要連續(xù)測(cè)量，可結(jié)合定時(shí)器使用，用定時(shí)器定時(shí)觸發(fā)該協(xié)同模式，或結(jié)合序列 A 連續(xù)掃描模式，或用循環(huán)并行觸發(fā)模式，具體可根據(jù)需要的掃描頻率等需求選擇合適的解決方法。

3.11.2 單次延遲觸發(fā)模式

3.11.2.1 說(shuō)明

ADC1 序列 A 的觸發(fā)條件觸發(fā) ADC1 后，經(jīng)過(guò)設(shè)定的延遲后觸發(fā) ADC2 啟動(dòng)采樣轉(zhuǎn)換。ADC1 序列 A 的觸發(fā)條件只觸發(fā)處于協(xié)同工作模式的 ADC 模塊一次，這些 ADC 模塊在采樣轉(zhuǎn)換一次后，是否停止，視其序列 A 掃描模式而定。

3.11.2.2 應(yīng)用

結(jié)合序列 A 連續(xù)掃描模式，可實(shí)現(xiàn)對(duì)同一模擬輸入的高頻采樣。例如，如果要轉(zhuǎn)換的信號(hào)的頻率為 2.5MHz，則采樣率應(yīng)該大于或等于該信號(hào)頻率的二倍（符合香農(nóng)采樣定理）。

由于一個(gè) ADC 的采樣率為 2.5MSPS，達(dá)不到采樣定理的要求。此時(shí)，可通過(guò)這種方式將采樣率提高到 5MSPS。關(guān)鍵設(shè)置如下：

1.

設(shè)置 ADC 時(shí)鐘為 60MHz；

2.

ADC1 和 ADC2 設(shè)置掃描模式為序列 A 連續(xù)掃描；

3.

ADC1 和 ADC2 配置同一個(gè)模擬輸入，并設(shè)置相同的采樣周期數(shù) ADC_SSTR = 11；

4.

配置同步模式為單次延遲觸發(fā)，并設(shè)置同步延遲時(shí)間 ADC_SYNCCR.SYNCDLY = 12。

注意：

- 不要為了更高的采樣率而縮減采樣時(shí)間 ADC_SSTR，采樣時(shí)間過(guò)短可能會(huì)使轉(zhuǎn)換結(jié)果的

誤差超出誤差值的設(shè)計(jì)范圍。

建議：強(qiáng)烈建議使用 DMA 而非中斷，以免數(shù)據(jù)丟失。

3.11.3 循環(huán)并行觸發(fā)模式

3.11.3.1 說(shuō)明

該模式下，ADC1 序列 A 的觸發(fā)條件同時(shí)觸發(fā)處于協(xié)同工作模式的所有 ADC 模塊。若設(shè)置為單次并行觸發(fā)，那么所有 ADC 模塊在轉(zhuǎn)換一次后就停止轉(zhuǎn)換（如果掃描模式是序列 A 單次掃描）；若設(shè)置為循環(huán)并行觸發(fā)，在 ADC1 序列 A 的觸發(fā)條件同時(shí)觸發(fā)處于協(xié)同工作模式

的所有 ADC 模塊后，每經(jīng)過(guò)延遲之后，所有 ADC 模塊會(huì)再次同時(shí)觸發(fā)轉(zhuǎn)換，如此循環(huán)，直到用戶(hù)主動(dòng)軟件停止 ADC1 模塊或禁止協(xié)同模式。

3.11.3.2 應(yīng)用

如果需要連續(xù)測(cè)量某模擬信號(hào)，可使用該模式，比如前面的測(cè)量電功率的應(yīng)用。

3.11.4 循環(huán)延遲觸發(fā)模式

3.11.4.1 說(shuō)明

ADC1 序列 A 的觸發(fā)條件觸發(fā) ADC1 之后，每經(jīng)過(guò)設(shè)定的延遲后，依次循環(huán)不斷觸發(fā) ADC2、ADC1、ADC2……，直到用戶(hù)主動(dòng)軟件停止 ADC1 模塊或禁止協(xié)同模式。

3.11.4.2 應(yīng)用

該模式適用用于一些，需要對(duì)模擬輸入進(jìn)行循環(huán)交替采樣而對(duì)采樣率要求不是很高的應(yīng)用。這里簡(jiǎn)單介紹下循環(huán)延遲觸發(fā)模式采樣率的計(jì)算方法。

假設(shè)如下條件：

1.

ADC 時(shí)鐘為 60MHz；

2.

采樣時(shí)間 ADC_SSTR 設(shè)置為 11；

3.

由 17.3.8 節(jié)和 17.4.16 節(jié)相關(guān)要求，SYNCDLY 可設(shè)置為 17。

4 總結(jié)

本應(yīng)用筆記簡(jiǎn)要介紹了 HC32F460 系列 ADC 模塊的各種功能以及可能的應(yīng)用場(chǎng)景，并給出了ADC 模塊應(yīng)用的基本流程，還提供了一種測(cè)試高頻采樣率的方法，在實(shí)際開(kāi)發(fā)中，用戶(hù)可根據(jù)具體應(yīng)用場(chǎng)景按需配置和應(yīng)用 ADC 模塊。